【技术实现步骤摘要】
芯片封装开帽观察装置
本技术涉及芯片检测设备领域,具体来说,本技术涉及一种芯片封装开帽观察装置。
技术介绍
芯片封装是安装半导体集成电路芯片用的外壳,起着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用,而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁,芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上,这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。芯片检测时需要将封装打开,叫做开帽。对于漏电流大的产品采用机械方式即干开帽形式,其它情况用强酸即湿开帽形式。切开剖面观察金丝情况,及金球情况,表面铝线是否受伤,芯片是否有裂缝,光刻是否不良,是否中测,芯片名是否与布线图芯片名相符。样品数量为5只/批。对于开短路和用不导电胶装片的产品要用万用表检测芯片地线和基岛之间电阻检查装片是否有问题。对于密间距产品要测量铝线宽度,确认所用材料(料饼,导电胶,金丝)是否确当开帽后应该再测试,根据结果进一步分析。现有的芯片封装开帽后观察需要借助显微镜等仪器,设备复杂,而且需要手工用镊子固定住芯片,操作起来非常麻烦。
技术实现思路
本技术主要解决的技术问题是提供一种芯片封装开帽观察装置,可以将芯片封装开帽后固定在底座上,并且能够自由地方大芯片内容,方便检测芯片是否正确,操作方便,结构简单,不易损坏。为实现上述目的,本技术提供以下的技术方案:该芯片封装开帽观察装置包括相互平行且尺寸相同的矩形板状底座和升降支撑板,底座顶部对称安装有两芯片夹,升降支撑板中心处镶嵌有观测镜,底座的顶部垂直设有两圆柱形的轨道杆,两轨道杆位于两芯片夹外侧,升降支撑板上对应与底座上两轨道杆的位置垂直镶嵌有两圆管形的导向筒,两轨道杆分别插 ...
【技术保护点】
一种芯片封装开帽观察装置,其特征在于:所述芯片封装开帽观察装置包括相互平行且尺寸相同的矩形板状底座(3)和升降支撑板(4),底座(3)顶部对称安装有两芯片夹(2),升降支撑板(4)中心处镶嵌有观测镜(1),底座(3)的顶部垂直设有两圆柱形的轨道杆(6),两轨道杆(6)位于两芯片夹(2)外侧,升降支撑板(4)上对应与底座(3)上两轨道杆(6)的位置垂直镶嵌有两圆管形的导向筒(7),两轨道杆(6)分别插入两对应的导向筒(7)内,底座(3)和升降支撑板(4)之间通过两根尺寸相同的螺旋圆柱形弹簧(5)固定连接,两弹簧(5)分别与两轨道杆(6)同轴。
【技术特征摘要】
1.一种芯片封装开帽观察装置,其特征在于:所述芯片封装开帽观察装置包括相互平行且尺寸相同的矩形板状底座(3)和升降支撑板(4),底座(3)顶部对称安装有两芯片夹(2),升降支撑板(4)中心处镶嵌有观测镜(1),底座(3)的顶部垂直设有两圆柱形的轨道杆(6),两轨道杆(6)位于两芯片夹(2)外侧,升降支撑板(4)上对应与底座(3)上两轨道杆(6)的位置垂直镶嵌有两圆管形的导向筒(7),两轨道杆(6)分别插入两对应的导向筒(7)内,底座(3)和升降支撑板(4)之间通过两根尺寸相同的螺旋圆柱形弹簧(5)固定连接,两弹簧(5)分别与两轨...
【专利技术属性】
技术研发人员:顾华,魏中洪,
申请(专利权)人:经纬光学科技苏州有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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