【技术实现步骤摘要】
一种射源定位的方法及装置
本专利技术涉及一种辐射探测的方法与工具,更具体地涉及一种射源定位的方法及装置。
技术介绍
随着核技术的发展和广泛应用,核泄漏以及意外公众照射事件频频发生,遗失的放射源或泄露的核物质会发出X、γ、α、β等电离辐射,这些电离辐射会对附近的人体组织造成伤害,由于遗失射源的位置未知,搜寻和定位遗失的放射源的过程中也具有较高的危险性,因此,急需要一种小巧、方便的设备以快速完成射源定位工作,降低搜寻人员受到意外照射的危险。现有技术中也有多种实现射源定位的方法或者装置,比如,CN104460671B中公开了一种三维空间中的放射源交叉定位方法及系统,该方法包括:利用空中机器人在核辐射区域飞行所采集的环境信息,初步定位放射源污染区域;控制空中机器人进入初步定位的放射源污染区域飞行,重定位放射源污染区域;控制空中机器人进入重定位的放射源污染区域飞行,定位放射源在空中的位置;控制陆地机器人进入与放射源在空中的位置相对应的陆地处,精确定位放射源。显然,该方法中无论是空中机器人还是陆地机器人均需对检测区域进行地毯式搜寻,其理论依据为辐射场符合辐射点源距离平方反比关 ...
【技术保护点】
一种射源定位的方法,其特征在于,所述方法包括步骤:步骤S1:在第一位置处测量闪烁晶体阵列的第一计数率组;步骤S2:利用所述第一计数率组计算射源相对于所述闪烁晶体阵列的第一相对角度;步骤S3:将所述闪烁晶体阵列移动至第二位置处;步骤S4:在所述第二位置处测量所述闪烁晶体阵列的第二计数率组;步骤S5:利用所述第二计数率组计算所述射源相对于所述闪烁晶体阵列的第二相对角度,所述第二相对角度的计算方法与所述步骤S2相同;步骤S6:利用所述第一相对角度和所述第二相对角度计算所述射源的相对位置坐标。
【技术特征摘要】
1.一种射源定位的方法,其特征在于,所述方法包括步骤:步骤S1:在第一位置处测量闪烁晶体阵列的第一计数率组;步骤S2:利用所述第一计数率组计算射源相对于所述闪烁晶体阵列的第一相对角度;步骤S3:将所述闪烁晶体阵列移动至第二位置处;步骤S4:在所述第二位置处测量所述闪烁晶体阵列的第二计数率组;步骤S5:利用所述第二计数率组计算所述射源相对于所述闪烁晶体阵列的第二相对角度,所述第二相对角度的计算方法与所述步骤S2相同;步骤S6:利用所述第一相对角度和所述第二相对角度计算所述射源的相对位置坐标。2.根据权利要求1所述的射源定位的方法,其特征在于,所述闪烁晶体阵列包括至少2×2个紧密排列的闪烁晶体条,相邻的所述闪烁晶体条之间涂覆反射物质。3.根据权利要求2所述的射源定位的方法,其特征在于,所述闪烁晶体条对于设定目标能量的射线的探测效率介于30%~70%之间。4.根据权利要求2所述的射源定位的方法,其特征在于,所述闪烁晶体阵列中最靠近所述射源的所述闪烁晶体条的计数率和最远离所述射源的所述闪烁晶体条的计数率的比值介于2~5之间。5.根据权利要求1所述的射源定位的方法,其特征在于,在所述步骤S1或所述步骤S4中,所述闪烁晶体阵列放置于所述第一位置或所述第二位置处时,所述闪烁晶体阵列的截面方向与水平面平行,所述闪烁晶体阵列的高度方向与水平面垂直。6.根据权利要求1所述的射源定位的方法,其特征在于,所述闪烁晶体阵列放置的高度距离地面不少于30cm,所述闪烁晶体阵列移动的水平距离不小于1m。7.根据权利要求1所述的射源定位的方法,其特征在于,以所述闪烁晶体阵列为基准建立XOY坐标系...
【专利技术属性】
技术研发人员:姜浩,谢庆国,
申请(专利权)人:苏州瑞派宁科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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