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本发明提供一种射源定位的方法与装置，包括步骤：S1：在第一位置处测量闪烁晶体阵列的第一计数率组；S2：利用第一计数率组计算射源相对于闪烁晶体阵列的第一相对角度；S3：将闪烁晶体阵列移动至第二位置处；S4：在第二位置处测量闪烁晶体阵列的第二计...
该专利属于苏州瑞派宁科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州瑞派宁科技有限公司授权不得商用。

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