一种电源器件表面老化检测工艺制造技术

本发明专利技术涉及一种电源器件表面老化检测工艺，包括如下步骤：从输送带取上站完成品，检查无外观不良后放到老化房老化治具上；固定好单体的AC输入端和DC输出端；重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插；打开电脑主机，选择机种相应的老化程式开始烧机；点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报，灯闪或灯不亮为不良；不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表；当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂；将老化OK的产品确认合格后放在输送带下层。本发明专利技术的一种电源器件表面老化检测工艺，操作过程简单，可操作性强，检测效果良好，检测时的定位准确，检测的排查率高。

【技术实现步骤摘要】
一种电源器件表面老化检测工艺
本专利技术涉及电子行业，具体涉及一种电源器件表面老化检测工艺。
技术介绍
随着科技发展，电子产业突飞猛进，各种集成、控制电路需求急剧增长，对芯片封装的需求也增长迅猛。电源是将其它形式的能转换成电能的装置。电源自“磁生电”原理，由水力、风力、海潮、水坝水压差、太阳能等可再生能源，及烧煤炭、油渣等产生电力来源。发电机能把机械能转换成电能，干电池能把化学能转换成电能。发电机、电池本身并不带电，它的两极分别有正负电荷，由正负电荷产生电压（电流是电荷在电压的作用下定向移动而形成的），电荷导体里本来就有，要产生电流只需要加上电压即可，当电池两极接上导体时为了产生电流而把正负电荷释放出去，当电荷散尽时，也就荷尽流（压）消了。干电池等叫做电源。通过变压器和整流器，把交流电变成直流电的装置叫做整流电源。能提供信号的电子设备叫做信号源。晶体三极管能把前面送来的信号加以放大，又把放大了的信号传送到后面的电路中去。晶体三极管对后面的电路来说，也可以看做是信号源。整流电源、信号源有时也叫做电源。现有笔记本用电源需要在其表面包覆一层塑料外壳，塑料外壳需要对其进行老化试验，用以验证其是否符合产品要求，现有技术中的老化实验步骤繁琐，一般人员很难操作。现需要一种电源器件表面老化检测工艺，以期可以解决上述技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种电源器件表面老化检测工艺，以弥补现有检测过程中的不足。为了达到上述目的，本专利技术提供了一种电源器件表面老化检测工艺，步骤如下：步骤1、从输送带取上站完成品，检查无外观不良后放到老化房老化治具上；步骤2、固定好单体的AC输入端和DC输出端；步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插；步骤4、；打开电脑主机，选择机种相应的老化程式开始烧机；步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报，灯闪或灯不亮为不良；步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表；步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂；步骤8、将老化OK的产品确认合格后放在输送带下层。优选地，在上述步骤4中，老化检测设备的输出电压为5V。优选地，所述老化实验的实验环境要求为，温度：15~50℃，相对湿度：45％~75％大气压力：86~106Kpa，在密闭空间（盒子）中进行，通过密闭保温。优选地，所述老化时间为72h。本专利技术的一种电源器件表面老化检测工艺，操作过程简单，可操作性强，检测效果良好，检测时的定位准确，检测的排查率高。具体实施方式实施例1本专利技术主要针对芯片封装过程中的装片工序，提供了一种电源器件表面老化检测工艺，包括如下步骤：为了达到上述目的，本专利技术提供了一种电源器件表面老化检测工艺，步骤如下：步骤1、从输送带取上站完成品，检查无外观不良后放到老化房老化治具上；步骤2、固定好单体的AC输入端和DC输出端；步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插；步骤4、；打开电脑主机，选择机种相应的老化程式开始烧机；步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报，灯闪或灯不亮为不良；步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表；步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂；步骤8、将老化OK的产品确认合格后放在输送带下层。其中，在上述步骤4中，老化检测设备的输出电压为5V。其中，所述老化实验的实验环境要求为，温度：15℃，相对湿度：45％，大气压力：86Kpa，在密闭空间（盒子）中进行，通过密闭保温。其中，所述老化时间为72h。实施例2本专利技术提供了一种电源器件表面老化检测工艺，步骤如下：步骤1、从输送带取上站完成品，检查无外观不良后放到老化房老化治具上；步骤2、固定好单体的AC输入端和DC输出端；步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插；步骤4、；打开电脑主机，选择机种相应的老化程式开始烧机；步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报，灯闪或灯不亮为不良；步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表；步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂；步骤8、将老化OK的产品确认合格后放在输送带下层。其中，在上述步骤4中，老化检测设备的输出电压为5V。其中，所述老化实验的实验环境要求为，温度：30℃，相对湿度：50％，大气压力：95Kpa，在密闭空间（盒子）中进行，通过密闭保温。其中，所述老化时间为72h。实施例3本专利技术提供了一种电源器件表面老化检测工艺，步骤如下：步骤1、从输送带取上站完成品，检查无外观不良后放到老化房老化治具上；步骤2、固定好单体的AC输入端和DC输出端；步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插；步骤4、；打开电脑主机，选择机种相应的老化程式开始烧机；步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报，灯闪或灯不亮为不良；步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表；步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂；步骤8、将老化OK的产品确认合格后放在输送带下层。其中，在上述步骤4中，老化检测设备的输出电压为5V。其中，所述老化实验的实验环境要求为，温度：50℃，相对湿度：75％，大气压力：106Kpa，在密闭空间（盒子）中进行，通过密闭保温。其中，所述老化时间为72h。以上显示和描述了本专利技术的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解，本专利技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本专利技术的原理，在不脱离本专利技术精神和范围的前提下，本专利技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本专利技术范围内。本专利技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电源器件表面老化检测工艺，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、从输送带取上站完成品，检查无外观不良后放到老化房老化治具上；步骤2、固定好单体的AC输入端和DC输出端；步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插；步骤4、打开电脑主机，选择机种相应的老化程式开始烧机；步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报，灯闪或灯不亮为不良；步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表；步骤7、当老化完成后，取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂；步骤8、将老化OK的产品确认合格后放在输送带下层。

【技术特征摘要】
1.一种电源器件表面老化检测工艺，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、从输送带取上站完成品，检查无外观不良后放到老化房老化治具上；步骤2、固定好单体的AC输入端和DC输出端；步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插；步骤4、打开电脑主机，选择机种相应的老化程式开始烧机；步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报，灯闪或灯不亮为不良；步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表；步骤7、当老化完成后，取下单体并检查所有电解电容...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱明敏，李涛，朱华星，
申请(专利权)人：江苏凯源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32