一种相位校正方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种相位校正方法，包括：对各样点的信号值进行M次方处理，将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段；对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块，对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值；根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定所述每个平均块的相位偏移值；根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。本发明专利技术实施例还同时公开了一种相位校正装置。

【技术实现步骤摘要】
一种相位校正方法和装置
本专利技术涉及光通信领域，尤其涉及一种相位校正方法和装置。
技术介绍
在传输技术的发展中，光纤是一种不可或缺的媒介，如何用最少量的光纤传输最丰富的信息，出于这种探索，光传输的发展基本经历了以下几个阶段：空分复用(SDM，SpaceDivisionMultiplexing)阶段、时分复用(TDM，TimeDivision)阶段和波分复用(WDM，WavelengthDivisionMultiplexing)阶段。目前，有线传输以波分系统为主，随着通信技术的发展，商用的40G波分传输逐渐演变到100G、400G传输，与此同时，在数据传输距离上也在不断的拓展，这样，波分系统在传输过程中会带来色度色散、偏振膜色散、强滤波效应、频偏相偏等诸多问题需要解决。其中，相偏的存在使得信号的星座图在弧度方向发生延展，如果过大，会导致信号点中间发生交叠，从而产生误码；目前主流的相偏相位校正方法是四次方法，但业界的大多数做法是采用平面直角坐标系下的数据进行计算，例如通过直角坐标系下的数据求出样点的幅度值，依据幅度值对样点分类，根据分类结果对样点在直角坐标系下进行四次方相偏估计，再根据相偏估计值计算相偏角度；虽然这一计算方法被广泛采用，但是该方法对每个样点均进行计算，进而导致数据运算量大，采用的电路结构复杂、固定，实现起来电路面积大、功耗大，进行相位校正时处理效率较低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例期望提供一种相位校正方法和装置，减小了在进行相位校正过程中的运算量，提高了相位校正的处理效率。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：第一方面，本专利技术实施例提供了一种相位校正方法，包括：对各样点的信号值进行M次方处理，将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段，其中，M为预设值；对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块，对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值；根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定所述每个平均块的相位偏移值；根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。在上述技术方案中，所述将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段，包括：根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小：各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽；对所述M次方处理后的各样点的信号值进行划分，得到所述至少一个并行段，其中，每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。在上述技术方案中，所述对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，包括：对每个平均块中样点的信号值进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值。在上述技术方案中，所述对每个平均块中样点的信号值进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值，包括：对所述每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标；相应地，所述对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值，包括：分别对所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和所述每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。在上述技术方案中，所述根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定对应的所述每个平均块的相位偏移值，包括：将所述每个平均块低通滤波后的信号值，转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值；将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M，得出所述每个平均块的相位偏移值。在上述技术方案中，在根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定对应的所述每个平均块的相位偏移值之后，在根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值之前，所述方法还包括：在所述每个并行段中，将所述每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值；根据所述第一差值所落入的预设数值区间，调整所述每个平均块的相位偏移值。在上述技术方案中，在根据所述第一差值所落入的预设数值区间，调整所述每个平均块的相位偏移值之后，所述方法还包括：将所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值；根据所述第二差值所落入的预设数值区间确定所述第二差值对应的修正值；对所述修正值与所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和，得到调整后的第一个并行块的相位偏移值；根据所述修正值和所述调整后的第一个并行块的相位偏移值，调整所述每个并行段中第j个并行块的相位偏移值，其中，j大于等于2。在上述技术方案中，所述根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值，包括：对所述每个平均块的相位偏移值、所述每个平均块中每个样点的相位值以及-π/4求和计算，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。第二方面，本专利技术实施例提供了一种相位校正装置，包括：划分模块，用于对各样点的信号值进行M次方处理，将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段，其中，M为预设值；处理模块，用于对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块，对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值；确定模块，用于根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定所述每个平均块的相位偏移值；校正模块，用于根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。在上述技术方案中，所述划分模块具体用于根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小：各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽；对所述M次方处理后的各样点的信号值进行划分，得到所述至少一个并行段，其中，每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。在上述技术方案中，所述处理模块具体用于对每个平均块中样点的信号值进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值。在上述技术方案中，所述处理模块具体用于对所述每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标；分别对所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和所述每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。在上述技术方案中，所述确定模块具体用于将所述每个平均块低通滤波后的信号值，转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值；将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M，得出所述每个平均块的相位偏移值。在上述技术方案中，所述装置还包括：第一调整模块，用于在根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定对应的所述每个平均块的相位偏移值之后，在根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种相位校正方法，其特征在于，包括：对各样点的信号值进行M次方处理，将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段，其中，M为预设值；对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块，对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值；根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定所述每个平均块的相位偏移值；根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。

【技术特征摘要】
1.一种相位校正方法，其特征在于，包括：对各样点的信号值进行M次方处理，将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段，其中，M为预设值；对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块，对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值；根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定所述每个平均块的相位偏移值；根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段，包括：根据以下一项或多项确定滑动窗口的大小：各样点的信号的传输距离、各样点的信号的激光器线宽；对所述M次方处理后的各样点的信号值进行划分，得到所述至少一个并行段，其中，每个并行段的样点的个数为所确定的滑动窗口的大小。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，包括：对每个平均块中样点的信号值进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对每个平均块中样点的信号值进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值，包括：对所述每个平均块中样点的信号值的横坐标和纵坐标分别进行求和计算，得到所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标；相应地，所述对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值，包括：分别对所述每个平均块的信号值的横坐标和所述每个平均块的信号值的纵坐标进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值的横坐标和所述每个平均块低通滤波后的信号值的纵坐标。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定对应的所述每个平均块的相位偏移值，包括：将所述每个平均块低通滤波后的信号值，转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值；将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M，得出所述每个平均块的相位偏移值。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定对应的所述每个平均块的相位偏移值之后，在根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值之前，所述方法还包括：在所述每个并行段中，将所述每个平均块的相位偏移值与对应的上一平均块的相位偏移值之间的差值确定为第一差值；根据所述第一差值所落入的预设数值区间，调整所述每个平均块的相位偏移值。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在根据所述第一差值所落入的预设数值区间，调整所述每个平均块的相位偏移值之后，所述方法还包括：将所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值与对应的上一并行段中最后一个平均块的相位偏移值之间的差值确定为第二差值；根据所述第二差值所落入的预设数值区间确定所述第二差值对应的修正值；对所述修正值与所述每个并行段中第一个平均块的相位偏移值进行求和，得到调整后的第一个并行块的相位偏移值；根据所述修正值和所述调整后的第一个并行块的相位偏移值，调整所述每个并行段中第j个并行块的相位偏移值，其中，j大于等于2。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵晨峰，周晏，芦秋雁，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44