【技术实现步骤摘要】
老化测试柜
本技术涉及电路板测试装置领域,尤其涉及一种老化测试柜。
技术介绍
目前,在大批量电子产品的生产中对产品进行老化、测试是许多企业保证质量的必要步骤。现有的测试以及老化模式是在恒温老化房中排放测试货架,电路板产品置于货架上,通过操作人员人工接线连接电源进行测试,其有以下弊端:1、现有老化测试柜的通过货架放置测试产品,然而,货架因需兼容各种型号产品导致占用空间大,空间利用率不高;2、由于采用货架方式测试老化,其为开放式空间需对整个房间进行加温,加温效率低下且不环保,造成耗能浪费3、电路板产品型号各异而货架设计主要考虑容纳量,只能通过人工接线与测试产品的连接,连接结构复杂,也不方便,造成产品测试效率低下;4、现有老化测试柜的通过接线的方式实现测试装置与测试产品的连接,连接结构复杂,且各种电源线、信号线暴露在外杂乱排布,不美观而难以维修排查;5、现有老化测试柜线路结构复杂,不能形成实现系统化信息监控,出现问题后需要安排较多人员检查多处,人力维修成本过高。因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
技术实现思路
本技术的目的是克服原有老化测试柜占用空间大、设计不规整美观、能耗大等 ...
【技术保护点】
一种老化测试柜,包括柜体和设置在柜体内的恒温加热设备,其特征在于,还包括设置在柜体内的电控箱和测试模组;所述测试模组包括:产品测试载板,以及与产品测试载板对应设置的测试探针基板;所述测试探针基板的一面排布有若干测试探针,另一面与电控箱电性连接;所述测试探针与产品测试载板上的测试产品连接,实现对测试产品的供电和信息监控。
【技术特征摘要】
1.一种老化测试柜,包括柜体和设置在柜体内的恒温加热设备,其特征在于,还包括设置在柜体内的电控箱和测试模组;所述测试模组包括:产品测试载板,以及与产品测试载板对应设置的测试探针基板;所述测试探针基板的一面排布有若干测试探针,另一面与电控箱电性连接;所述测试探针与产品测试载板上的测试产品连接,实现对测试产品的供电和信息监控。2.根据权利要求1所述的老化测试柜,其特征在于,所述产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽,卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片;产品测试时,该感应片电性连接到测试产品上,部分测试探针直接连接测试产品,部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品。3.根据权利要求2所述的老化测试柜,其特征在于,所述卡槽的形状匹配测试产品设置,每个卡槽周围对应设置有两组感应片,测试产品正向或反向放置时,测试产品上的感应点与其中一组感应片电性连接。4.根据权利要求1所述的老化测试柜,其特征在于,所述老化测试柜还包括设置在柜体内的升降模组;所述电控箱与升降模组电性连接;所述升降模组带动测...
【专利技术属性】
技术研发人员:童帅,邹其超,
申请(专利权)人:深圳市智诚测控技术有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
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