老化测试柜制造技术

本实用新型专利技术公开一种老化测试柜，包括柜体和设置在柜体内的恒温加热设备，还包括设置在柜体内的电控箱和测试模组；所述测试模组包括：产品测试载板，以及与产品测试载板对应设置的测试探针基板；所述测试探针基板的一面排布有若干测试探针，另一面与电控箱电性连接；所述测试探针与产品测试载板上的测试产品连接。所述产品测试载板上设置有若干卡槽，卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片，该感应片电性连接到测试产品上；产品测试时，部分测试探针直接连接测试产品，部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品。本实用新型专利技术集成老化、测试、数据采集为一体，无需接线即可连接测试产品感应点，简化操作，实现对信息数据收集的集成化管理。

Aging test cabinet

【技术实现步骤摘要】
老化测试柜
本技术涉及电路板测试装置领域，尤其涉及一种老化测试柜。
技术介绍
目前，在大批量电子产品的生产中对产品进行老化、测试是许多企业保证质量的必要步骤。现有的测试以及老化模式是在恒温老化房中排放测试货架，电路板产品置于货架上，通过操作人员人工接线连接电源进行测试，其有以下弊端：1、现有老化测试柜的通过货架放置测试产品，然而，货架因需兼容各种型号产品导致占用空间大，空间利用率不高；2、由于采用货架方式测试老化，其为开放式空间需对整个房间进行加温，加温效率低下且不环保，造成耗能浪费3、电路板产品型号各异而货架设计主要考虑容纳量，只能通过人工接线与测试产品的连接，连接结构复杂，也不方便，造成产品测试效率低下；4、现有老化测试柜的通过接线的方式实现测试装置与测试产品的连接，连接结构复杂，且各种电源线、信号线暴露在外杂乱排布，不美观而难以维修排查；5、现有老化测试柜线路结构复杂，不能形成实现系统化信息监控，出现问题后需要安排较多人员检查多处，人力维修成本过高。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本技术的目的是克服原有老化测试柜占用空间大、设计不规整美观、能耗大等问题，以及老化测试柜在电路板老化和测试作业中产生的效率低下、人力成本高等问题，本技术提供一种老化测试柜，该老化测试柜不仅设计规整美观空间利用率高，能自动监控测试产品各项数据并通过封闭式的老化箱进行恒温老化降低能耗，抽屉式设计方便上下料提升效率。本技术的技术方案如下：一种老化测试柜，包括柜体和设置在柜体内的恒温加热设备，还包括设置在柜体内的电控箱和测试模组；所述测试模组包括：产品测试载板，以及与产品测试载板对应设置的测试探针基板；所述测试探针基板的一面排布有若干测试探针，另一面与电控箱电性连接；所述测试探针与产品测试载板上的测试产品连接，实现对测试产品的供电和信息监控。进一步地，所述产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽，卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片，该感应片电性连接到测试产品上；产品测试时，部分测试探针直接连接测试产品，部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品。更优地，所述卡槽的形状根据测试产品形状设置，每个卡槽周围对应设置有两组感应片，测试产品正向或反向放置时，测试产品上的感应点与其中一组感应片电性连接。进一步地，所述老化测试柜还包括设置在柜体内的升降模组；所述电控箱与升降模组线性连接；所述升降模组带动测试探针基板与产品测试载板上的待测试产品接触或分离。更优地，所述升降模组包括升降气缸和导向支架组件；所述导向支架组件包括基板固定架，所述测试探针基板设置在基板固定架的下方，所述基板固定架与升降气缸的输出轴连接，基板固定架在升降气缸的带动下升降，带动测试探针基板升降。更优地，所述导向支架组件还包括四根导杆，所述基板固定架的四个角分别套在四根导杆上；所述产品测试载板设置在测试探针基板下方的四根导杆之间；所述基板固定架在升降气缸的带动下沿导杆上下滑动，带动测试探针基板升降。进一步地，所述测试模组还包括产品测试抽屉，所述产品测试抽屉设置于产品测试载板下方，用于放置产品测试载板，更换产品测试载板时，将产品测试抽屉从柜体内抽出。进一步地，所述老化测试柜还包括显示模块，所述显示模块包括：警示灯、数控显示屏、温控显示屏和按键板，用于控制和显示老化测试柜的运行情况。采用上述方案，本技术有如下有益效果：1、本技术采用柜式结构代替开放式的恒老化房，通过封闭式的柜体空间减少所需加温空间所需要的热能，从而降低能耗，达到在实现高效节能的基础上达到老化的目的；2、本技术产品测试抽屉通过柜体上设计抽屉的方式能方便产品测试载板进出柜体，从而方便产品测试载板上测试产品的取放；其中，产品测试载板是根据测试产品型号设计的，可根据测试产品的结构更换，通用性强，适用性高；3、产品测试载板与测试探针基板上的测试探针对应放置，产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽，卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片，该感应片电性连接到测试产品上；产品测试时，部分测试探针直接连接测试产品，部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品，从而对测试产品进行供电，并收集测试产品的信号进行测试；其测试探针在升降气缸的带动下直接与测试产品的感应点接触，免去了操作人员繁琐的接线工作；4、本技术操作简单、效率高、能耗低、空间占用小，操作人员仅需将对应的测试产品放置于产品测试载板各个卡槽上，放置完毕后直接推入老化柜内，即可操作系统完成自动测试，极大的简化了操作流程，并能提供每一个电路板各项数据的显示、记录实现信息化管理。5、本技术配置有电流、电压、温度等感应电器件，通过工控电脑信息集成，数据可直观反映于显示屏、警示灯上；其是能对信息数据收集管理，并又能简化操作、降低能耗的电路板生产中集成老化、测试、数据采集的综合化设备。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的内部结构示意图。本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式以下结合附图和具体实施例，对本技术进行详细说明。参照图1和图2所示，本技术提供一种老化测试柜，包括柜体1和设置在柜体1内的恒温加热设备，还包括设置在柜体1内的电控箱2和测试模组；所述测试模组包括：产品测试载板32，以及与产品测试载板32对应设置的测试探针基板31；所述测试探针基板31的一面排布有若干测试探针，另一面与电控箱2电性连接；所述测试探针与产品测试载板32上的测试产品6连接，实现对测试产品6的供电和信息监控。其中，测试探针基板31采用绝缘材料，用于固定测试探针。柜体1采用封闭的柜式结构代替开放式的恒老化房，通过封闭式的柜体1空间减少所需加温空间所需要的热能，从而降低能耗，达到在实现高效节能的基础上达到老化的目的。所述老化测试柜还包括设置在柜体1内的升降模组4；所述电控箱2与升降模组4线性连接；所述升降模组4带动测试探针基板31与产品测试载板32上的待测试产品6接触或分离。作为一种实施例，升降模组4包括升降气缸41和导向支架组件42；所述导向支架组件42包括基板固定架，所述测试探针基板31设置在基板固定架的下方，所述基板固定架与升降气缸41的输出轴连接，基板固定架在升降气缸41的带动下升降，带动测试探针基板31升降。其中，所述导向支架组件42还包括四根导杆，所述基板固定架的四个角分别套在四根导杆上；所述产品测试载板32设置在测试探针基板31下方的四根导杆之间；所述基板固定架在升降气缸41的带动下沿导杆上下滑动，带动测试探针基板31升降。所述测试模组还包括产品测试抽屉33，所述产品测试抽屉33设置于产品测试载板32下方，用于放置产品测试载板32，更换产品测试载板32时，将产品测试抽屉33从柜体1内抽出。抽屉的设计能方便产品测试载板32进出柜体1，从而方便产品测试载板32上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种老化测试柜，包括柜体和设置在柜体内的恒温加热设备，其特征在于，还包括设置在柜体内的电控箱和测试模组；所述测试模组包括：产品测试载板，以及与产品测试载板对应设置的测试探针基板；所述测试探针基板的一面排布有若干测试探针，另一面与电控箱电性连接；所述测试探针与产品测试载板上的测试产品连接，实现对测试产品的供电和信息监控。

【技术特征摘要】
1.一种老化测试柜，包括柜体和设置在柜体内的恒温加热设备，其特征在于，还包括设置在柜体内的电控箱和测试模组；所述测试模组包括：产品测试载板，以及与产品测试载板对应设置的测试探针基板；所述测试探针基板的一面排布有若干测试探针，另一面与电控箱电性连接；所述测试探针与产品测试载板上的测试产品连接，实现对测试产品的供电和信息监控。2.根据权利要求1所述的老化测试柜，其特征在于，所述产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽，卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片；产品测试时，该感应片电性连接到测试产品上，部分测试探针直接连接测试产品，部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品。3.根据权利要求2所述的老化测试柜，其特征在于，所述卡槽的形状匹配测试产品设置，每个卡槽周围对应设置有两组感应片，测试产品正向或反向放置时，测试产品上的感应点与其中一组感应片电性连接。4.根据权利要求1所述的老化测试柜，其特征在于，所述老化测试柜还包括设置在柜体内的升降模组；所述电控箱与升降模组电性连接；所述升降模组带动测...

【专利技术属性】
技术研发人员：童帅，邹其超，
申请(专利权)人：深圳市智诚测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44