检查装置制造方法及图纸

在检查装置中，提高元件的电气特性的测定精度。检查装置包括：保持台(32)；一对测定件(34、36)，能够把持被该保持台(32)保持的元件(s)来测定电气特性；及相对移动装置，使保持台(32)与一对测定件(34、36)彼此地相对移动。在元件(s)被一对测定件(34、36)夹持的状态(b)下，通过使保持台(32)移动而使元件(s)离开保持台(32)设定值以上，并以该测定状态(c)测定电气特性。其结果是，即使保持台(32)是由导电材料制造而成的，也能够减少对元件(s)的影响，能够高精度地测定电气特性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查装置
本专利技术涉及一种进行安装于电路基板的元件的检查的检查装置。
技术介绍
在专利文献2、3中记载有具备探测器并通过该探测器的接触来测定元件的电气特性的检查装置。在专利文献1中记载有从两端夹着载置于保持台的元件而测定电气特性的检查装置。在该检查装置中，从送风口部28沿着保持台的V槽供给空气，位于该V槽上的测定后的元件被向导入口部7′输送。并且，不合格品被废弃，合格品被用于向电路基板安装。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特公昭52-30703号公报专利文献2：日本实开平1-76100号公报专利文献3：国际公开第2014/155657小册子
技术实现思路
专利技术所要解决的课题本专利技术的课题为在能够自动地测定元件的电气特性的检查装置中提高电气特性的测定精度。用于解决课题的技术方案、作用及效果本专利技术的检查装置包括：保持台；一对测定件，把持被该保持台保持的元件来测定电气特性；及相对移动装置，使保持台与一对测定件彼此地相对移动，在元件离开保持台而被一对测定件夹持的状态下，测定电气特性。由于电气特性是在元件离开保持台的状态下取得的，因此能够减少保持台对元件的影响，能够高精度地测定电气本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查装置，其特征在于，所述检查装置设于拾取由元件供给装置供给的元件并向电路基板安装的安装机，所述检查装置包括：保持台，能够保持元件；一对测定件，形成为能够彼此接近或离开，并能够夹着所述元件来测定该元件的电气特性；保持台移动装置，使所述保持台移动；及保持台移动控制装置，控制该保持台移动装置，并且，所述保持台移动控制装置包括从所述一对测定件把持被所述保持台保持的所述元件的夹持状态使所述保持台离开所述元件设定值以上而处于测定所述元件的电气特性的测定状态的测定时控制部。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检查装置，其特征在于，所述检查装置设于拾取由元件供给装置供给的元件并向电路基板安装的安装机，所述检查装置包括：保持台，能够保持元件；一对测定件，形成为能够彼此接近或离开，并能够夹着所述元件来测定该元件的电气特性；保持台移动装置，使所述保持台移动；及保持台移动控制装置，控制该保持台移动装置，并且，所述保持台移动控制装置包括从所述一对测定件把持被所述保持台保持的所述元件的夹持状态使所述保持台离开所述元件设定值以上而处于测定所述元件的电气特性的测定状态的测定时控制部。2.根据权利要求1所述的检查装置，其中，所述一对测定件包括彼此相向且能够与所述元件接触的一对相向面，通过使所述一对相向面彼此接近而保持所述元件，通过使所述一对相向面彼此离开而放开所述元件，所述保持台移动装置包括从所述测定状态通过使所述保持台移动而处于在彼此离开的所述一对相向面之间的下方不存在所述保持台的废弃状态的废弃时控制部。3.根据权利要求2所述的检查装置，其中，所述保持台移动控制装置包括从所述废弃状态使所述保持台向彼此离开的所述一对相向面之间的下方移动而处于所述保持台能够保持所述元件的初始状态的准备时控制部。4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其中，所述一对测定件包括固定于主体的固定件及能够相对于所述固定件相对移动的可动件，该检查装置包括：可动件移动装置，使所述可动件相对于所述固定件移动；及连结机构，将所述可动件与所述保持台连结为能够向...

【专利技术属性】
技术研发人员：泽田利幸，岩岛贤史，
申请(专利权)人：富士机械制造株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP