用于PCB半成品的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了用于PCB半成品的测试装置，包括底板、支撑板和设于所述支撑板上的支撑柱，所述支撑柱可拆卸连接托板，所述托板用于放置PCB半成品，所述托板四周设有挡板，所述挡板刚刚容纳PCB半成品，所述底板上设有和支撑板低端连接实现支撑板水平横向移动机构，所述水平横向移动机构底部设有导向板，所述底板上固定设置支撑柱，所述支撑柱铰接连接支柱，所述支柱可实现水平方向旋转，所述支柱下端设有测试点接触的探针，所述探针对PCB半成品的性能进行检测。该用于PCB半成品的测试装置利用支柱的水平方向旋转以及水平横向移动机构实现大批量对PCB半成品进行性能检测，结构简单，提高工作效率。

A test device for PCB semi-finished products

The utility model discloses a testing device for PCB semi-finished products, which comprises a base plate, a support plate and a support column is arranged on the support plate, the support plate can be detachably connected column, wherein the support plate for placing PCB semi-finished products, wherein the support plate is arranged around a baffle, the baffle plate just to accommodate PCB semi-finished products, the the bottom plate is provided with a support plate and lower end connected transverse moving mechanism supporting board level, the bottom of the horizontal moving mechanism is provided with a guide plate, the bottom plate is fixed on the support column and the support column is hinged with the pillar, the pillar can be rotated in the horizontal direction, the pillar is arranged on the lower end point contact probe the performance of the probe of PCB semi-finished products were detected. The test device used for PCB semi-finished products realizes the performance testing of PCB semi-finished products in large quantities by using the horizontal rotation of the strut and horizontal lateral movement mechanism. The structure is simple and the work efficiency is improved.

【技术实现步骤摘要】
用于PCB半成品的测试装置
本技术涉及PCB半成品测试装置领域，具体为用于PCB半成品的测试装置。
技术介绍
印刷电路板制作完成后需要对半成品进行性能测试，传统的测试方法为人工将半成品PCB板接通检测电路，人为按键检测PCB半成品的各种性能，传统方法耗时费力，效率低下，同时会造成检测误差增大，对讲究效率的当下环境，生产自动化检测装置是非常重要的。
技术实现思路
本技术的目的在于提供用于PCB半成品的测试装置，该用于PCB半成品的测试装置利用支柱的水平方向旋转以及水平横向移动机构实现大批量对PCB半成品进行性能检测，结构简单，提高工作效率。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：用于PCB半成品的测试装置，包括底板、支撑板和设于所述支撑板上的第一支撑柱，所述第一支撑柱可拆卸连接托板，所述托板用于放置PCB半成品，所述托板四周设有挡板，所述挡板刚刚容纳PCB半成品，所述底板上设有和支撑板低端连接实现支撑板水平横向移动机构，所述水平横向移动机构底部设有导向板，所述底板上固定设置第二支撑柱，所述第二支撑柱铰接连接支柱，所述支柱可实现水平方向旋转，所述支柱下端设有测试点接触的探针，所述探针对PCB半成本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于PCB半成品的测试装置，包括底板(1)、支撑板(2)和设于所述支撑板(2)上的第一支撑柱(3)，所述第一支撑柱(3)可拆卸连接托板(4)，所述托板(4)用于放置PCB半成品(6)，所述托板(4)四周设有挡板(5)，所述挡板(5)刚刚容纳PCB半成品(6)，所述底板(1)上设有和支撑板(2)低端连接实现支撑板(2)水平横向移动机构(7)，所述水平横向移动机构(7)底部设有导向板(11)，所述底板(1)上固定设置第二支撑柱(10)，所述第二支撑柱(10)铰接连接支柱(9)，所述支柱(9)可实现水平方向旋转，所述支柱(9)下端设有测试点接触的探针(8)，所述探针(8)对PCB半成品(6)的性能进...

【技术特征摘要】
1.用于PCB半成品的测试装置，包括底板(1)、支撑板(2)和设于所述支撑板(2)上的第一支撑柱(3)，所述第一支撑柱(3)可拆卸连接托板(4)，所述托板(4)用于放置PCB半成品(6)，所述托板(4)四周设有挡板(5)，所述挡板(5)刚刚容纳PCB半成品(6)，所述底板(1)上设有和支撑板(2)低端连接实现支撑板(2)水平横...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾庆平，
申请(专利权)人：东莞市同诺精密五金有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44