一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，包括：待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述照相机的输出端与电脑线性连接而把待测部件的照片输入电脑，所述供电源与待测部件之间线性连接而通电使得待测部件发光。通过上述方式，本实用新型专利技术所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，实现了自动判定EL缺陷类型，避免了人为主观判断，提升了工作效率，从而减少人力成本。

A EL test device for automatic separation of silicon component defects

The utility model discloses a EL test equipment, automatic sorting of amorphous silicon component defects include: the measured components, power supply, camera, computer and the seal box, the measured components of crystalline silicon module, the UUT and camera is arranged in the seal box in front of the camera, the camera alignment of a part to be measured, the computer is arranged on the outer side of the seal box, the camera and the output end connected to the input linear computer picture computer part to be measured, the power supply to be measured and linear between components connected with electricity makes the measured luminous component. Through the above way, the EL testing device of the automatic silicon wafer module with automatic sorting has realized the automatic judgement of the EL defect type, avoided the subjective judgement of human beings, improved the work efficiency, and reduced the labor cost.

【技术实现步骤摘要】
一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备
本技术涉及晶硅组件缺陷检测领域，特别是涉及一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备。
技术介绍
在晶体硅太阳能组件/电池片制造过程中，有一工序是对于产品缺陷的检测—EL（electroluminescence）测试。在目前的技术中，EL的缺陷判定都是通过人员主观去判定，这样的做法，一方面会造成产品漏检，另外一方面，也容易出现主观判定不一致，因为不同的人，其对标准的理解也不一样，此外，人工检测也增加了人力成本，需要改进。
技术实现思路
本技术主要解决的技术问题是提供一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，对晶硅组件进行自动检测，避免漏检，提升检测标准一致性和检测效率。为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，包括：待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述照相机的输出端与电脑线性连接而把待测部件的照片输入电脑，所述供电源与待测部件之间线性连接而通电使得待测部件发光。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，包括：待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述照相机的输出端与电脑线性连接而把待测部件的照片输入电脑，所述供电源与待测部件之间线性连接而通电使得待测部件发光。

【技术特征摘要】
1.一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，包括：待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述照相机的输出端与电脑线性连接而把待测部件的照片输入电脑，所述供电源与待测部件之间线性连接而通电使得待测部件发光。2.根据权利要求1所述的自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，其特征在于，所述供电源为直流电源，所述供电源为待测部件...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭声凯，章伟，邱应良，翁兴锋，周金波，
申请(专利权)人：伟创力电子技术苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32