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本实用新型公开了一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，包括：待测部件、供电源、照相机、密封暗箱和电脑，所述待测部件为晶硅组件，所述待测部件和照相机设置在密封暗箱中，所述照相机的摄像头对准待测部件的正面，所述电脑设置在密封暗箱的外侧，所述...
该专利属于伟创力电子技术(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过伟创力电子技术(苏州)有限公司授权不得商用。

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