用于CSP检测的荧光膜检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了半导体领域应用的用于CSP检测的荧光膜检测装置。其结构包括检测灯具和光学测试仪，所述检测灯具用于提供检测所需光源，所述检测灯具包括发光面，所述发光面用于放置荧光膜，所述光学测试仪包括朝向发光面的测试探头。该装置在使用过程中，工作人员可直接将用于CSP LED封装操作的荧光膜放置在检测灯具的发光面上。此时检测灯具为检测过程提供所需的光源，位于该上方的光学检测仪的检测探头对荧光膜进行检测。该装置直接对荧光膜进行检测，避免了生产结束的芯片切割形成单颗形式的再检测操作，缩短了检测周期，提高了检测效率。同时该检测过程降低了生产资源的浪费，降低了生产过程中资源消耗，实现了资源的合理配置。

A fluorescent film detection device for CSP detection

The utility model discloses a fluorescent film detection device used in the field of semiconductor for CSP detection. The structure comprises a detection lamp and an optical tester. The detection lamp is used to provide the light source needed for detection. The detection lamp comprises a luminous surface, and the luminous surface is used for placing the fluorescent film. The optical tester includes a probe for testing the luminous surface. The device is in use, the staff can be directly used for fluorescent film CSP LED package operation placed in the lamp on the light emitting surface detection. At this time, the detection lamp provides the required light source for the detection process, and the detection probe of the optical detector is detected on the fluorescent membrane. The device directly detects the fluorescent film, avoids the single chip Recut operation formed by the chip cutting at the end of production, shortens the detection period and improves the detection efficiency. At the same time, the process reduces the waste of production resources, reduces the consumption of resources in the process of production, and realizes the rational allocation of resources.

【技术实现步骤摘要】
用于CSP检测的荧光膜检测装置
本技术涉及一种半导体领域应用的用于CSP检测的荧光膜检测装置。
技术介绍
CSPLED是无支架形式的封装，则LED的底部为芯片的电机，表面是荧光粉与硅胶混合的荧光胶膜。不同银光粉和硅胶比例对应不同的CIE坐标。现在的产品CIE坐标检测通过制作完成单颗产品后进行测试，则若产品未达到目标CIE坐标需要重新制作产品。该测试时间周期较长，同时容易造成芯片的浪费，增加了生产成本，同时也会增大对人力的需求，不利于生产操作的稳步进行。
技术实现思路
本技术解决的技术问题是提供一种提高检测效率的用于CSP检测的荧光膜检测装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：用于CSP检测的荧光膜检测装置，包括检测灯具和光学测试仪，所述检测灯具用于提供检测所需光源，所述检测灯具包括发光面，所述发光面用于放置荧光膜，所述光学测试仪包括朝向发光面的测试探头。工作人员直接将用于CSPLED封装操作的荧光膜放置在检测灯具的发光面上。此时检测灯具为检测过程提供所需的光源，位于该上方的光学检测仪的检测探头对荧光膜进行检测。该检测方式有效缩短了测试调整周期，有效保证了资源的合理利用，提高了检测效率。本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于CSP检测的荧光膜检测装置，其特征在于，包括检测灯具和光学测试仪，所述检测灯具用于提供检测所需光源，所述检测灯具包括发光面(3)，所述发光面(3)用于放置荧光膜(2)，所述光学测试仪包括朝向发光面(3)的测试探头(1)。

【技术特征摘要】
1.用于CSP检测的荧光膜检测装置，其特征在于，包括检测灯具和光学测试仪，所述检测灯具用于提供检测所需光源，所述检测灯具包括发光面(3)，所述发光面(3)用于放置荧光膜(2)，所述光学测试仪包括朝向发光面(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：李多海，
申请(专利权)人：昆山芯乐光光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32