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本实用新型公开了半导体领域应用的用于CSP检测的荧光膜检测装置。其结构包括检测灯具和光学测试仪，所述检测灯具用于提供检测所需光源，所述检测灯具包括发光面，所述发光面用于放置荧光膜，所述光学测试仪包括朝向发光面的测试探头。该装置在使用过程中，...
该专利属于昆山芯乐光光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山芯乐光光电科技有限公司授权不得商用。

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