一种精度测量治具制造技术

本实用新型专利技术的一种精度量测治具，涉及精度测量设备领域，尤其涉及一种测量玻璃基板切割精度的量测治具，包括支撑平台，支撑平台的顶部设有吸附组件，支撑平台连接有用于驱动支撑平台周向转动的驱动组件；还包括摄像头测量组件，摄像头测量组件包括位于支撑平台上方的测量装置，测量装置与显示器连接。在进行切割精度测量时，先将玻璃基板固定在吸附组件上，后旋转支撑平台将玻璃基板要被量测的位置旋转到摄像头测量组件下，微调摄像头组件后对切割精度进行测量。本精度测量治具减少手与玻璃基板的接触次数，且玻璃基板与支撑平台之间不会相对移动，可降低玻璃基板被刮伤、发生磕碰的可能，同时可降低静电击穿的几率，进而提高产品的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种精度测量治具
本技术涉及精度测量设备
，尤其涉及一种用于显示屏玻璃基板切割精度测量治具。
技术介绍
在液晶显示器生产过程中，需要将大片的液晶面板切割成多个小片液晶面板。而切割过程并不是100％完全无偏移的，故在切割完成后需要对切割成小片的液晶面板的切割精度进行量测。具体的，由于切割精度标识(切割mark)比较小，肉眼无法分辨，需要通过图像传感器将切割边缘及切割mark传输到显示器放大呈像后再由操作人员通过显示器来量测切割精度。目前，常用的测量方法为，将玻璃基板放置在水平的桌面上，通过固定的摄像头测量玻璃基板上的切割mark，进而确定切割精度。在测量过程中，需要手动的旋转和翻转玻璃基板，此种方式的缺点为：玻璃基板与桌面之间接触易造成其表面刮伤；手或桌面与玻璃基板支架发生碰触，影响玻璃基板性能；手与玻璃基板频繁接触产生静释放，易造成端子静电击穿。总之，目前使用的玻璃基板的精度测量治具在使用时，极易造成玻璃基板的损坏，进而影响产品质量。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种精度测量治具，以解决现有技术中存在的测量时，易造成玻璃基板的损坏的技术问题。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种精度测量治具，包括支撑平台，所述支撑平台的顶部设有吸附组件，所述支撑平台连接有用于驱动所述支撑平台周向转动的驱动组件；还包括摄像头测量组件，所述摄像头测量组件包括位于所述支撑平台上方的测量装置，所述测量装置连接有显示器。进一步地，其特征在于，所述吸附组件为吸盘，所述吸盘与所述支撑平台的顶部固定连接。进一步地，其特征在于，所述驱动组件包括旋转气缸及控制开关，所述旋转气缸上设有轴承，所述轴承与所述支撑平台连接，同时所述控制开关的连线穿过所述旋转气缸与所述轴承连接。进一步地，所述控制开关为脚踏式开关。进一步地，所述测量装置连接有可伸缩的支撑架。进一步地，所述支撑架为电动机械臂。进一步地，所述测量装置为图像传感器。进一步地，所述旋转气缸上的所述轴承可旋转360°，所述轴承包括四个旋转档位，每个所述旋转档位的转动角度为90°。进一步地，所述吸盘为多个，多个所述吸盘呈圆形均匀分布。进一步地，还包括底座，所述驱动组件设于所述底座上。本技术提供的一种精度测量治具，使用时，将玻璃基板放置在支撑平台的吸附组件上，通过吸附组件进行固定，之后，支撑平台通过驱动组件驱动其轴向转动，通过测量装置完成对玻璃基板不同位置的测量。该精度测量治具，在测量过程中，将玻璃基板固定在吸附组件上后，通过对支撑平台的旋转，进而实现玻璃基板的转动，使用过程中，减少手与玻璃基板的接触次数，且玻璃基板与支撑平台之间不会相对移动，可降低玻璃基板被刮伤、发生磕碰的可能，同时可降低静电击穿的几率，进而提高产品的质量。附图说明图1是本技术提供的精度测量治具的结构示意图；图2是本技术提供的精度测量治具的主视图；图3是本技术提供的精度测量治具的mark点处的局部放大图。图中：1、支撑平台；2、吸附组件；3、旋转气缸；4、轴承；5、控制开关；6、测量装置；7、电动机械臂；8、底座；9、玻璃基板；10、mark点。具体实施方式现有切割精度量测过程中，将玻璃基板放置在量测台上，频繁的手动转动玻璃基板，先测量玻璃基板的一面，之后，将玻璃基板翻转，再测量玻璃基板的另一面，在测量时需要将玻璃基板转动多次。而该精度测量治具，在完成对玻璃基板的固定后，无需在手动转动玻璃基板，之后，一侧面测量完成后，手动翻转至另一侧面，玻璃基板固定后继续通过治具带动其转动，直至测量完成将玻璃基板卸下，全程只需要一次翻转，无需对玻璃基板进行转动操作。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。如图1和图2所示，一种精度测量治具，包括支撑平台1，支撑平台1的顶部设有吸附组件2，支撑平台1连接有用于驱动支撑平台1周向转动的驱动组件；还包括摄像头测量组件，摄像头测量组件包括位于支撑平台1上方的测量装置6，测量装置6连接有显示器。具体地具体的，通过支撑平台1上的吸附组件2对玻璃基板9进行固定，即限制玻璃基板9与支撑平台1之间产生相对位移，其中，吸附组件2为吸盘，吸盘与支撑平台1的顶部固定连接。优选的，支撑平台1上设有多个吸盘，多个吸盘呈圆形均匀分布。玻璃基板9在安装时，水平放置在吸盘上，在其自重的情况下具有向下的压力，玻璃基板9即与吸盘吸附连接在一起。其中，吸附组件2还可以为其它的结构，例如，阻尼层、负压吸附孔等等。当玻璃基板9与吸附组件2固定连接后，通过驱动组件对支撑平台1进行驱动使其转动。其中，驱动组件包括旋转气缸3及控制开关5，缸体上设有轴承4，轴承4与支撑平台1连接，同时控制开关5的连线穿过旋转气缸3与轴承4连接。在本实施例中，轴承4可旋转360°，轴承4包括四个旋转档位，每个旋转档位的转动角度为90°。其中，优选的，控制开关5为脚踏式开关，操作人员通过脚踏即可控制轴承4的启停，即每次踩踏均可使轴承4转动90°。同时，本技术的精度测量治具还包括摄像头测量组件，摄像头测量装置包括测量装置6，测量装置6连接有可伸缩的支撑架7。优选的，支撑架7为电动机械臂，测量装置6为CCD(图像传感器)。电动机械臂7连接相应的控制装置，在电动机械臂7的控制下，移动测量装置6的位置，进而找到读取标记点。该支撑架具有一定的伸缩能力，机械式的控制器移动可使测量的精度更精确。为了进一步的提高该精度测量治具的稳定性，该精度测量治具还包括底座8，驱动组件设于底座8上。在底座8可设置固定装置，如锚栓孔等，可对底座8进行固定，进而确保精度测量治具的可正常运行。实施例一如图1到图3所示，玻璃基板9安装在吸附组件2上，其中，玻璃基板9包括上层的彩色滤光片(CF)和位于下层的薄膜晶体管(TFT)，玻璃基板9通过大尺寸的面板切割而成，每块玻璃基板9的CF和TFT包括上下两个面共八个边，每个边上均设置有精度测量点(mark点10)。具体的，如图3所示，切割时，玻璃基板9的一边的mark点10被切割，精度测量即为切割线边缘(实际切割线)到mark点10纵向直径(理论切割线)的水平距离a，根据距离a判断切割精度。调节电动机械臂7，控制测量装置6(CCD图像传感器)移动至测量位置，此时，CCD图像传感器采集mark点10切割线处的图像信息，并将图像信息传递到显示器上，操作人员在显示器上完成切割精度的读取。实施例二在实施例一的基础上，玻璃基板9的一边测量完成后，脚踩脚踏式控制开关5一次，支撑平台1转动90°，玻璃基板9转动至下一侧边，测量装置6继续采用实施例一中的精度测量方法进行精度测量，进而可完成下一条边的测量，其中，测量过程中，随时调节电动机械臂7，控制测量装置6处于所需位置，测量完成后，继续脚踩脚踏式控制开关5一次，直至完成对该面每条边的的测量。当玻璃基板9一个面的四条边测量完成后，将玻璃基板9由吸附组件2上卸下，翻转连接另一面，对另一面的四条边继续进行测量。该精度测量治具，测量过程中，将玻璃基板9固定在吸附组件2上后，通过对支撑平台1的旋转，进而实现玻璃基板9的转动，使用过程中，减少手与玻璃基板9的接触次数，且玻璃基板9与支撑平台1之间不会相对移动，可降低玻璃基板9被刮伤、发生磕碰的可能，同本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种精度测量治具，其特征在于，包括支撑平台(1)，所述支撑平台(1)的顶部设有吸附组件(2)，所述支撑平台(1)连接有用于驱动所述支撑平台(1)周向转动的驱动组件；还包括摄像头测量组件，所述摄像头测量组件包括位于所述支撑平台(1)上方的测量装置(6)，所述测量装置连接有显示器。

【技术特征摘要】
1.一种精度测量治具，其特征在于，包括支撑平台(1)，所述支撑平台(1)的顶部设有吸附组件(2)，所述支撑平台(1)连接有用于驱动所述支撑平台(1)周向转动的驱动组件；还包括摄像头测量组件，所述摄像头测量组件包括位于所述支撑平台(1)上方的测量装置(6)，所述测量装置连接有显示器。2.根据权利要求1所述的精度测量治具，其特征在于，所述吸附组件(2)为吸盘，所述吸盘与所述支撑平台(1)的顶部固定连接。3.根据权利要求2所述的精度测量治具，其特征在于，所述驱动组件包括旋转气缸(3)及控制开关(5)，所述旋转气缸(3)上设有轴承(4)，所述轴承(4)与所述支撑平台(1)连接，同时所述控制开关(5)的连线穿过所述旋转气缸(3)与所述轴承(4)连接。4.根据权利要求3所述的精度测...

【专利技术属性】
技术研发人员：卞振兴，郭会会，
申请(专利权)人：昆山龙腾光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32