测试图形翻译方法及芯核测试壳装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
测试图形翻译方法及芯核测试壳装置
本专利技术涉及IP核自动测试集成领域，特别是涉及测试图形翻译方法及芯核测试壳装置。
技术介绍
随着集成电路工艺的进步和人们对集成电路性能以及上市时间要求的不断提高，片上系统(SOC)技术已经成为当今集成电路的发展趋势和技术主流。SoC设计技术的核心是IP核复用(IP核是通过验证的功能模块，可以被多个SoC使用)，IP核复用并不仅仅是电路逻辑的复用，它还包含着IP核的测试复用。IP核(CPU、DSP、MEM等都是IP核)作为一个子模块，嵌入到SOC内部，其输入输出端口并不能在SoC顶层访问，其输入输出端口不能在SOC顶层访问。IEEESTD1500标准是专为解决SOC中嵌入式IP核的测试访问、隔离、控制等测试问题而开发的一个测试标准。其基本思路是先开发单个芯核的测试，再在SoC级通过合适的访问、控制和隔离手段，轮流使用已有的芯核测试信息对不同芯核进行测试。该测试标准主要从软硬件两个方面来进行标准化。标准所定义的硬件结构即环绕在IP核周围的测试壳(wrapper)，它给IP芯核的测试提供一个标准的测试平台；标准定义的软件结构即芯核测试...
【技术保护点】
一种测试图形翻译方法，所述测试图形包括IP核测试图形数据和测试壳测试图形数据，其特征在于:所述IP核测试图形数据包括扫描输入SI测试激励数据、扫描输出SO测试响应数据、初级输入PI测试激励数据和初级输出PO测试响应数据；所述测试壳测试图形数据包括测试壳扫描链装载测试激励数据和测试壳扫描链卸载测试响应数据；所述测试图形翻译方法基于测试壳扫描链，所述测试壳扫描链包括串行连接的输入端口链和输出端口链，所述输出端口链的输出端连接IP核内部扫描链的扫描输入端；所述输入端口链中的WBR单元与所述IP核的初级输入端口一一对应相连；所述输出端口链中的WBR单元与所述IP核的初级输出端口一一...
【技术特征摘要】
1.一种测试图形翻译方法，所述测试图形包括IP核测试图形数据和测试壳测试图形数据，其特征在于:所述IP核测试图形数据包括扫描输入SI测试激励数据、扫描输出SO测试响应数据、初级输入PI测试激励数据和初级输出PO测试响应数据；所述测试壳测试图形数据包括测试壳扫描链装载测试激励数据和测试壳扫描链卸载测试响应数据；所述测试图形翻译方法基于测试壳扫描链，所述测试壳扫描链包括串行连接的输入端口链和输出端口链，所述输出端口链的输出端连接IP核内部扫描链的扫描输入端；所述输入端口链中的WBR单元与所述IP核的初级输入端口一一对应相连；所述输出端口链中的WBR单元与所述IP核的初级输出端口一一对应相连；所述方法包括：由测试壳串行输入WSI向测试壳扫描链中、依次串行装载所述SI测试激励数据、无关数据和所述PI测试激励数据；其中，当所述SI测试激励数据全部进入所述IP核的内部扫描链时，所述无关数据全部进入所述输出端口链，所述PI测试激励数据全部进入所述输入端口链，从而实现将SI测试激励数据和PI测试激励数据转换为测试壳扫描链装载测试激励数据；令所述PI测试激励数据通过所述输入端口链中的WBR单元施加到所述IP核的输入端口；捕获所述IP核产生的PO测试响应数据至所述输出端口链的WBR单元中；捕获所述IP核产生的SO测试响应数据至所述内部扫描链中；依次由测试壳串行输出WSO串行卸载所述内部扫描链中的SO测试响应数据和所述输出端口链中的所述PO测试响应数据，从而将所述输出端口链中的所述PO测试响应数据和所述内部扫描链中的SO测试响应数据转换为测试壳扫描链卸载测试响应数据。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述IP核的初级输入端口数目为Ninput、初级输出端口数目为Noutput、内部扫描链的扫描单元数目为Nff；每一测试图形所花费周期数目为Nwbr＝Nff+Noutput+Ninput+3；所述向测试壳扫描链中、依次串行装载所述SI测试激励数据、无关数据和所述PI测试激励数据包括：在第N测试图形的第1至Nff+Noutput+Ninput个周期内，依次串行装载所述SI测试激励数据、无关数据和所述PI测试激励数据，所述N为大于1的正整数。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述SI测试激励数据个数等于Nff，所述无关数据的个数等于Noutput，所述PI测试激励数据的个数等于Ninput。4.如权利要求2所述的方法，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯燕，陈岚，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11
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