温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明实施例提供测试图形翻译方法及芯核测试壳装置，上述方法包括：由WSI向测试壳扫描链中、依次串行装载SI测试激励数据、无关数据和PI测试激励数据，从而实现将SI测试激励数据和PI测试激励数据转换为测试壳扫描链装载测试激励数据；令PI测试激...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。