【技术实现步骤摘要】
半导体器件及其控制方法相关申请的交叉参考本申请基于2016年8月10日提交的日本专利申请第2016-157656号并要求其优先权,其内容结合于此作为参考。
本专利技术涉及一种半导体器件及其控制方法,例如,涉及一种包括多个处理单元的半导体器件及其控制方法。
技术介绍
近年来,将诸如处理器的多个处理单元放置在诸如微计算机的单个半导体器件中。此外,提出了一种机制,其中,当在包括多个处理单元的这种结构中的特定处理单元中发生错误时(特定处理单元发生故障),正常的处理单元接管已经在发生故障的处理单元(故障处理单元)中执行的任务。例如,日本未审查专利申请第2007-11426号公开了一种处理设备,其中,即使当多个处理单元中的一个变得有缺陷时,该处理单元的处理被另一处理单元执行。根据上述文献的处理设备包括:多个异常检测电路,检测多个处理单元的异常并生成异常检测信号;以及异常监控控制单元,控制处于正常状态的至少一个正常处理单元,以执行异常保存处理。此外,根据上述文献的处理设备包括寄存器,通过正常处理单元向其设置复位指示,并且向异常处理单元输出已经设置的重置指示以重置异常处理单元。专 ...
【技术保护点】
一种半导体器件,包括:多个处理单元;处理控制单元,用于控制所述处理单元的操作;存储单元;以及写入单元,用于向所述存储单元写入与所述多个处理单元中的每个单元的处理相关的第一信息,其中当在所述多个处理单元中的第一处理单元中发生错误时,所述处理控制单元执行控制以停止所述第一处理单元,并且当在所述第一处理单元中发生错误并且确定所述多个处理单元中的第二处理单元能够基于存储在所述存储单元中的信息保持第一处理的执行时,所述第二处理单元保持所述第一处理的执行。
【技术特征摘要】
2016.08.10 JP 2016-1576561.一种半导体器件,包括:多个处理单元;处理控制单元,用于控制所述处理单元的操作;存储单元;以及写入单元,用于向所述存储单元写入与所述多个处理单元中的每个单元的处理相关的第一信息,其中当在所述多个处理单元中的第一处理单元中发生错误时,所述处理控制单元执行控制以停止所述第一处理单元,并且当在所述第一处理单元中发生错误并且确定所述多个处理单元中的第二处理单元能够基于存储在所述存储单元中的信息保持第一处理的执行时,所述第二处理单元保持所述第一处理的执行。2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,当确定所述第二处理单元不能够保持所述第一处理的执行时,所述处理控制单元执行控制以重置所述半导体器件中的操作的指定范围。3.根据权利要求1所述的半导体器件,其中当确定所述第一处理单元中发生的错误不产生影响时,使用存储在所述存储单元中的信息,所述第二处理单元保持所述第一处理的执行。4.根据权利要求3所述的半导体器件,其中当在所述第一处理单元中发生错误时,所述第一处理是通过所述第二处理单元执行的处理,并且当确定与对应于所述第一信息的处理相关的地址不在可被所述第二处理单元使用的存储区中的地址范围内时,使用在所述第一处理单元中发生错误时写入所述存储单元的所述第一信息,所述第二处理单元保持所述第一处理的执行。5.根据权利要求3所述的半导体器件,其中当在所述第一处理单元中发生错误时,所述第一处理是通过所述第一处理单元执行的处理,并且当确定与对应于所述第一信息的处理相关的地址不在可被所述第一处理单元使用的存储区中的地址范围内时,使用在所述第一处理单元中发生错误时写入所述存储单元的所述第一信息,所述第二处理单元保持所述第一处理的执行。6.根据权利要求1所述的半导体器件,其中当在所述第一处理单元中发生错误时,所述写入单元向所述存储单元写入所述第一信息,所述第一信息包含表示所述第一处理单元中发生错误的错误标记,并且通过使用包含所述错误标记的所述第一信息进行所述第二处理单元是否能够保持所述第一处理的执行的确定。7.根据权利要求6所述的半导体器件,其中当通过所述处理控制单元停止所述第一处理单元时,所述写入单元向所述存储单元写入包含指示所述第一处理单元的停止的停止标记的所述第一信息,并且针对从在所述第一处理单元中发生错误的定时处写入的所述第一信息到包含所述停止标记的所述第一信息的范围中的包含所述错误标记的所述第一信息,进行所述第二处理单元是否能够保持所述第一处理的执行的确定...
【专利技术属性】
技术研发人员:仲野骏佑,多木良孝,
申请(专利权)人:瑞萨电子株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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