一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电子测量技术领域，具体公开了一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，包括：恒流产生模块、通道控制模块、参数检测模块、参数存储模块和上位机通讯模块，该EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，连接在EDP/VBYONE信号测试设备与LCD屏端之间，实现了对LCD屏端EDP/VBYONE信号传输中耦合电容进行实时测量，辅助工作人员及时定位所述耦合电容异常的问题所在，以进一步快速判定EDP/VBYONE信号传输中的故障并采取相应的措施，提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置
本技术涉及电子测量
，具体涉及交流耦合信号的耦合电容测量，尤其涉及一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置。
技术介绍
现有技术中，LCD屏测试设备发出交流耦合EDP/VBYONE信号传输至LCD屏，进行LCD屏特性和质量测试，通常所述交流耦合EDP/VBYONE信号的发送端和接收端都有一个μF级的耦合电容。在实际测试操作中，经常由于该电容短路、开路、容值错误等异常现象影响点屏效果，出现画异、屏幕不亮等情况，影响通讯和显示效果，导致测试效率低下，严重时甚至会烧毁LCD屏，造成不必要的损失，耽误生产进度，而整个测试链路涉及到仪器、发送端、保护器件、接收端等非常多的器件，很难定位到具体的问题点所在，无法判定故障及采取相应措施。
技术实现思路
鉴于上述现有技术存在的问题，本技术提供了一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，可实时测量LCD屏端EDP/VBYONE信号传输中的耦合电容，快速判定耦合电容异常的问题所在。本技术解决技术问题所采用的技术方案是：一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，包括：恒流产生模块、通道控制模块、参数检测模块、参数存储模块和上位机通讯模块；所述恒流产生模块用于产生一个μA级别的恒流源，使待测耦合电容充电；所述通道控制模块用于切换多路测试信号；在所述参数检测模块上运行各种控制程序，用于检测、输出所述EDP/VBYONE信号的各种参数；所述参数存储模块用于存储所述参数检测模块的各检测参数；所述上位机通讯模块用于实现所述参数检测模块与上位机的互联。作为对上述技术方案的改进，所述恒流产生模块为恒流产生电路。作为对上述技术方案的改进，所述通道控制模块为通道控制电路,包括2个以上CD4052。作为对上述技术方案的改进，所述参数检测模块包括MCU。作为对上述技术方案的改进，所述参数存储模块包括EEPROM。作为对上述技术方案的改进，所述上位机通讯模块包括RS485通讯模块。与现有技术相比，本技术提供的EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，连接在EDP/VBYONE信号测试设备与LCD屏端之间，实现了对LCD屏端EDP/VBYONE信号传输中耦合电容进行实时测量，辅助工作人员及时定位所述耦合电容异常的问题所在，以进一步快速判定EDP/VBYONE信号传输中的故障并采取相应的措施，提高了生产效率。附图说明图1是本技术一个实施例中EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置的结构示意图；图2是本技术一个实施例中EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置的测量原理线路图。如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。具体实施方式现在结合附图对本技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成。请参见图1，本技术提供一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，包括：恒流产生模块10、通道控制模块20、参数检测模块30、参数存储模块40和上位机通讯模块50。所述EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，连接在EDP/VBYONE信号测试设备与LCD屏端之间，用于对EDP/VBYONE信号传输中LCD屏端的耦合电容进行实时测量，以及时准确的定位实际测试操作中LCD屏端耦合电容异常的具体问题点，从而辅助工作人员判定所述EDP/VBYONE信号传输中的故障所在。请参见图2，所述恒流产生模块10用于产生一个μA级别的恒流源IX，使待测耦合电容CX充电；所述通道控制模块20用于切换多路测试信号；在所述参数检测模块30上运行各种控制程序，用于检测所述EDP/VBYONE信号的各种参数并对整个检测过程进行控制及做出反馈；所述参数存储模块40用于存储所述参数检测模块30的各检测参数；所述上位机通讯模块50用于实现所述参数检测模块30与上位机的互联。本实施例中，所述恒流产生模块10为恒流产生电路，其产生微弱的恒流源IX，所述恒流源IX对所述待测耦合电容CX进行稳流充电，则，所述待测耦合电容CX两端的电压Ux＝IX*ΔT/CX，其中，ΔT表示所述恒流源IX通过所述待测耦合电容CX的时间。本实施例中，所述通道控制模块20为通道控制电路,其包括2个差分4通道数字控制模拟开关CD4052，根据实际测试中LCD屏的不同，可通过选择不同的所述通道控制电路可实现不同EDP/VBYONE测试信号之间的切换；同时，可通过开启所述数字控制模拟开关CD4052，将所述耦合电容CX两端接入所述参数检测模块30上与所述EDP/VBYONE测试信号对应的两个ADC口进行AD采样，得到所述耦合电容CX两端的电压U1和U2。本实施例中，在所述参数检测模块30上，运行相应的控制程序，将所述两个AD采样值U1、U2相减，得到所述待测耦合电容CX两端的实际电压Ux，根据所述电压Ux判断所述耦合电容CX的状态及计算出所述耦合电容CX的实际值，并将所述耦合电容CX的实际值与所述参数存储模块40中存储的耦合电容CX标准值进行对比，以判断其是否处于正常范围。具体为，当Ux＝0时，所述耦合电容CX为短路状态；当Ux＝Umax(所述恒流源IX的最大输出电压)时，所述耦合电容CX为开路状态；在其他的情况下，所述耦合电容CX的实际值可通过公式Cx＝IX*ΔT/Ux计算得出。其中，所述恒流源IX、其通过的时间ΔT均由所述参数检测模块30检测得出。以上仅选择了一种EDP/VBYONE信号进行举例说明，可以理解的，在本技术的其他实施例中，针对不同的EDP/VBYONE信号，所述耦合电容CX的状态判断及容值计算并不限于上述方法。在一个实施方式中，所述参数检测模块30包括MCU，所述MCU采用STM32F103ZET6，有多通道的12位ADC口，可满足多种不同EDP/VBYONE测试信号的测试需求。可以理解的，针对不同的LCD屏，其EDP/VBYONE测试信号不同，相应的，所述各检测参数也不尽相同。以耦合电容Cx为例，由于不同EDP/VBYONE测试信号的耦合电容Cx标准不同，所以实际生产中，通常是提前读取多个LCD的电压值做平均，估算出耦合电容Cx误差范围，作为标准，存储在所述参数存储模块40里，以方便后续投如生产后直接调用。本实施例中，所述参数存储模块40包括EEPROM，所述EEPROM可以在电脑上或专用设备上擦除已有信息，重新编程，且掉电后其中的存储数据不会丢失。本实施例中，所述上位机通讯模块50包括RS485通讯模块，通过RS485接口，可以互联所述参数检测模块30与上位机，实现不同检测参数的上传、下载以及实际生产时各检测参数的调用、选择。在一个实施方式中，所述RS485电路采用MAX485ESA，与PC版上位机互联，可以下载检测参数，选择和指定待测耦合电容Cx的范围。另外，本领域技术人员还可在本技术精神内做其它变化。故，这些依据本技术精神所做的变化，都应包含在本技术所要求保护的范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，其特征在于，包括：恒流产生模块、通道控制模块、参数检测模块、参数存储模块和上位机通讯模块；所述恒流产生模块用于产生一个μA级别的恒流源，使待测耦合电容充电；所述通道控制模块用于切换多路测试信号；在所述参数检测模块上运行各种控制程序，用于检测、输出所述EDP/VBYONE信号的各种参数；所述参数存储模块用于存储所述参数检测模块的各检测参数；所述上位机通讯模块用于实现所述参数检测模块与上位机的互联。

【技术特征摘要】
1.一种EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，其特征在于，包括：恒流产生模块、通道控制模块、参数检测模块、参数存储模块和上位机通讯模块；所述恒流产生模块用于产生一个μA级别的恒流源，使待测耦合电容充电；所述通道控制模块用于切换多路测试信号；在所述参数检测模块上运行各种控制程序，用于检测、输出所述EDP/VBYONE信号的各种参数；所述参数存储模块用于存储所述参数检测模块的各检测参数；所述上位机通讯模块用于实现所述参数检测模块与上位机的互联。2.如权利要求1所述的EDP/VBYONE信号的耦合电容测量装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：董海涛，
申请(专利权)人：苏州工业园区海的机电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32