检测LED的磷光体的位置的设备和方法以及安装透镜的方法技术

本发明专利技术提供了一种检测LED的磷光体的位置的设备和方法以及安装透镜的方法。根据示例性实施例的一方面，提供了一种磷光体位置检测设备，包括：第一照明光照射单元，将第一照明光照射到基底上，具有磷光体的至少一个发光二极管布置在所述基底上；拍摄设备，拍摄所述基底；光学滤波器，布置在入射到拍摄设备的图像光的路径上并且不让第一照明光透射；控制单元，通过使用由拍摄设备拍摄的图像检测发光二极管的磷光体的位置，来确定所述发光二极管在所述基底上的实际布置位置，其中，接收第一照明光的磷光体发射透射穿过光学滤波器的光。

Equipment and methods for detecting the location of phosphors in LED and methods of installing lenses

The present invention provides a device and method for detecting the position of a phosphor of a LED and a method for installing a lens. According to an exemplary embodiment, a phosphor position detection device is provided, including: the first light irradiation unit, the first illumination light to the substrate, having at least one light emitting diode phosphors arranged on the substrate; the substrate shooting shooting equipment, optical filters, arranged in the path; incident to the images on the optical equipment and keep the first illumination light transmission; the control unit, through the use of phosphor by image detection equipment was shooting led to the position, the actual location, to determine the light emitting diode on the substrate which receives the first illumination light transmitted through the optical emitting phosphor optical filter.

【技术实现步骤摘要】
检测LED的磷光体的位置的设备和方法以及安装透镜的方法本申请是申请日为2012年10月31日，申请号为201210427982.3，题为“检测LED的磷光体的位置的设备和方法以及安装透镜的方法”的专利申请的分案申请。
示例性实施例涉及用于检测发光二极管的磷光体的位置的技术和安装透镜的方法。
技术介绍
发光二极管是通过借助化合物半导体的PN结构造发光源来实现各种颜色的半导体装置。发光二极管具有较长寿命，可小型化并且重量轻，并且由于较强的光方向性而可以以低压被驱动。此外，发光二极管对撞击和振动有很强的抵抗能力，不需要预热时间和复杂的驱动，并且可应用于各种用途，因为它们可按照各种类型封装。近来，已尝试用发光二极管替代用作LCD电视的背光的白炽灯、荧光灯和卤素灯。公开号为2012-0002430的韩国专利申请公开了一种用于检测发光二极管芯片的密封树脂单元的缺陷的技术。
技术实现思路
一个或多个示例性实施例提供了一种用于检测发光二极管的磷光体的位置的设备和一种检测发光二极管的磷光体的位置的方法。根据示例性实施例的一方面，提供了一种磷光体位置检测设备，包括：第一照明光照射单元，把第一照明光照射到其上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光二极管的磷光体位置检测设备，包括：第一照明光照射单元，将第一照明光照射到基底上，具有磷光体的至少一个发光二极管布置在所述基底上；拍摄设备，拍摄所述基底；光学滤波器，布置在入射到拍摄设备的图像光的路径上并且不让第一照明光透射；和控制单元，通过使用由拍摄设备拍摄的图像检测发光二极管的磷光体的位置，来确定所述发光二极管在所述基底上的实际布置位置，其中，接收第一照明光的磷光体发射透射穿过光学滤波器的光。

【技术特征摘要】
2012.06.18 KR 10-2012-00652451.一种发光二极管的磷光体位置检测设备，包括：第一照明光照射单元，将第一照明光照射到基底上，具有磷光体的至少一个发光二极管布置在所述基底上；拍摄设备，拍摄所述基底；光学滤波器，布置在入射到拍摄设备的图像光的路径上并且不让第一照明光透射；和控制单元，通过使用由拍摄设备拍摄的图像检测发光二极管的磷光体的位置，来确定所述发光二极管在所述基底上的实际布置位置，其中，接收第一照明光的磷光体发射透射穿过光学滤波器的光。2.如权利要求1所述的磷光体位置检测设备，还包括支撑基底的支撑单元。3.如权利要求1所述的磷光体位置检测设备，其中，第一照明光是蓝光。4.如权利要求3所述的磷光体位置检测设备，其中，所述蓝光具有在从400nm到470nm的范围中的波长。5.如权利要求3所述的磷光体位置检测设备，其中，所述第一照明光照射单元沿垂直于基底的方向照射蓝光。6.如权利要求1所述的磷光体位置检测设备，其中，从第一照明光照射单元照射的第一照明光的光轴与入射到拍摄设备的图像光的光轴一致。7.如权利要求1所述的磷光体位置检测设备，还包括将白光照射到基底上的第二照明光照射单元。8.一种部件安装装置，包括如权利要求1至7中任一项所述的磷光体位置检测设备。9.一种检测发光二极管的磷光体的位置的方法，该方法包括：将第一照明光照射到基底上，具有磷光体的至少一个发光二极管布置在所述基底上；通过将不让第一照明光透射的光学滤波器布置在图像光的路径上来拍摄基底；通过使用拍摄到的图像检测发光二极管的磷光体的位置，来确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴在铉，
申请(专利权)人：韩华泰科株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR