一种高速光电耦合器通用测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高速光电耦合器通用测试装置，包括：测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统；测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试光电耦合器与测试插座连接；其中，测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试光电耦合器管脚匹配的接口；测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组；待测试光电耦合器通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成光电耦合器的测试。所述高速光电耦合器通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高光电耦合器的测试效率和准确性。

A general test device for high speed Optocoupler

【技术实现步骤摘要】
一种高速光电耦合器通用测试装置
本技术涉及测试装置
，特别是指一种高速光电耦合器通用测试装置。
技术介绍
当前随着科学的发展，各种测试系统的功能越来越强大、全面。但是也给小部件的测试尤其是模块化的测试带来了问题，例如对于一个功能全面的测试系统，基于普遍性与通用性，测试系统的结构设置成可以与不同器件连接的方式，虽然使得不同器件均能实现不同的测试目的，但是每次测试不同器件时，均需要逐个管脚依次与测试系统连接，不仅费时费力，而且容易出现人工误差，导致测试的失误。因此在实现本技术的过程中，专利技术人发现现有技术至少存在以下缺陷：对于器件的功能测试尤其是光电耦合器测试的效率和准确性不高。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提出一种高速光电耦合器通用测试装置，在利用现有测试装置的基础上，提高光电耦合器的测试效率和准确性。基于上述目的本技术提供的一种高速光电耦合器通用测试装置，包括：测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统：所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试的光电耦合器与测试插座连接；其中，所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；所述测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试的光电耦合器的管脚或接口匹配的接口；所述待测试的光电耦合器通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成光电耦合器的测试。可选的，所述测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组。可选的，所述测试插座中设置有扳手结构和铜片；其中，所述扳手结构用于通过按压铜片进而控制器件管脚与测试插座的连接强度。可选的，还包括转接插座；所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统连接。可选的，所述测试插座中设置有与待测光电耦合器对应的凹槽结构，用于对待测光电耦合器进行定位和保护。可选的，所述测试电路板中还设置有校验电路结构，用于接收同一待测光电耦合器的管脚信号并连接到集成电路测试系统的不同单元中，同时实现待测光电耦合器的监测和校验。可选的，所述测试电路板和/或所述测试插座的接口设置为弹性锁紧结构，其中，所述弹性锁紧结构为在接口位置相应设置有弹性结构，用于使得插入接口中的管脚或者插头固定锁紧。可选的，所述集成电路测试系统为AMIDA3KS测试系统。从上面所述可以看出，本技术提供的高速光电耦合器通用测试装置通过在测试电路板上设计与集成电路测试系统配合的接口将集成电路测试系统的接口转化为在测试电路板上对应预定待测目标的标准接口，通过测试插座将不同型号大小的待测光电耦合器的连接转化为测试插座与测试电路板对应的插接式接口，使得针对于不同型号大小的待测光电耦合器的测试能够通过测试电路板与测试插座的配合实现快速连接，进而提高待测光电耦合器的测试效率，尤其是进行批量测试时，只需要预先将测试电路板与集成电路测试系统连接，然后就可以根据需要将待测光电耦合器插入匹配的测试插座中，然后通过测试插座插接到测试电路板，实现与集成电路测试系统的连接。同时，基于所述测试电路板和测试插座将待测光电耦合器与集成电路测试系统的测试连接转化为标准的插口或者管脚的连接，避免了人工将管脚与集成电路测试系统的测试系统的连线连接，降低测试过程中的人工误差。因此，本申请所述的高速光电耦合器通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高光电耦合器的测试效率和准确性。附图说明图1为本技术提供的高速光电耦合器通用测试装置的一个实施例的结构示意图；图2为本技术提供的测试电路板对应的电路框图；图3为本技术提供的测试插座的一个实施例的结构示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本技术进一步详细说明。需要说明的是，本技术实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本技术实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。参照图1所示，为本技术提供的高速光电耦合器通用测试装置的一个实施例的结构示意图。基于现有的集成电路测试系统在考虑通用性的基础上缺乏针对某些器件的测试电路板或者测试结构，本申请提出一种改进的测试装置，能够在充分利用现有测试系统的基础上，实现光电耦合器的快速测试。具体的，所述高速光电耦合器通用测试装置，包括：测试插座1、测试电路板2以及集成电路测试系统3；其中，所述集成电路测试系统3属于原有测试系统，系统中包含光电耦合器测试的相关接口和功能。连接时，所述测试插座1通过所述测试电路板2与集成电路测试系统3连接，然后将待测试的光电耦合器通过器件管脚与测试插座1连接，进而实现待测试的光电耦合器与测试系统的连接。其中，所述测试电路板2的一侧设置有与集成电路测试系统3匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；也即，所述测试电路板2一方面根据已有集成电路测试系统3的接口位置、形式或结构等信息相应的设置有匹配的接口，使得将集成电路测试系统3中用于测试光电耦合器的相应接口转移到所述测试电路板2中。所述测试插座1的一端与所述测试电路板2连接，另一端设置有与待测试的光电耦合器的器件管脚匹配的接口；其中，所述测试插座1中的接口使得待测试的光电耦合器能够快速稳定的插入到测试插座上，然后测试插座1又可以快速稳定的连接到测试电路板2中。使得待测试的光电耦合器通过测试插座1和测试电路板2与集成电路测试系统3中的相应测试接口实现快速稳定的连接，进而完成光电耦合器测试。由上述实施例可知，所述高速光电耦合器通用测试装置通过在测试电路板2上设计与集成电路测试系统3配合的接口将集成电路测试系统的接口转化为在测试电路板2上对应预定待测目标的标准接口，通过测试插座1将不同型号大小的待测光电耦合器的连接转化为测试插座1与测试电路板2对应的插接式接口，使得针对于不同型号大小的待测光电耦合器的测试能够通过测试电路板2与测试插座1的配合实现快速连接，进而提高待测光电耦合器的测试效率，尤其是进行批量测试时，只需要预先将测试电路板2与集成电路测试系统3连接，然后就可以根据需要将待测光电耦合器插入匹配的测试插座1中，然后通过测试插座1插接到测试电路板2，实现待测光电耦合器与集成电路测试系统3的连接。同时，基于所述测试电路板2和测试插座1将待测光电耦合器与集成电路测试系统3的测试连接转化为标准的插口或者管脚的连接，避免了人工将管脚与集成电路测试系统3的测试系统的连线连接，降低测试过程中的人工误差。因此，本申请所述的高速光电耦合器通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上，提高光电耦合器的测试效率和准确性。在本申请一些可选的实施例中，所述测试电路板2中设置有多组与测试插座1匹配的接口组。也即，测试插座将集成电路测试系统3中用于测试光电耦合器的接口转化为多组接口组，这样一方面可以同时实现对多组待测光电耦合器的测试，另一方面，可以针对于不同的待测光电耦合器以及对应不同的测试插座，在测试电路板2上设置于不同测试插座匹配的接口组，使得同一个集成电路测试系统3以及测试电路板2能够实现对不同型号、大小光电耦合器的测试。在本申请一些可选的实施例中，所述测试插本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，包括：测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统；所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试的光电耦合器与测试插座连接；其中，所述测试电路板的一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；所述测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试的光电耦合器管脚或接口匹配的接口；所述测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组；所述待测试的光电耦合器通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成光电耦合器的测试。

【技术特征摘要】
1.一种高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，包括：测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统；所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接，且待测试的光电耦合器与测试插座连接；其中，所述测试电路板的一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口，另一侧设置有与测试插座匹配的接口；所述测试插座一端与测试电路板连接，另一端设置有与待测试的光电耦合器管脚或接口匹配的接口；所述测试电路板中设置有多组与测试插座匹配的接口组；所述待测试的光电耦合器通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接，完成光电耦合器的测试。2.根据权利要求1所述的高速光电耦合器通用测试装置，其特征在于，所述测试插座中设置有扳手结构和铜片；...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵帅，乔秀铭，梁宇飞，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：北京,11