等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置，分析灵敏度高且抑制了例如试料分析时的分析误差的产生。本发明专利技术的等离子体分光分析方法包括：浓缩工序，包括在试料的存在下对一对电极进行电压施加的电压施加工序，通过所述电压施加来将所述试料中的分析对象物浓缩于至少一方的电极的附近；及检测工序，通过向所述一对电极施加电压而产生等离子体，对因所述等离子体而产生的所述分析对象物的发光进行检测，所述浓缩工序中的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流恒定。

Plasma spectroscopic analysis and plasma spectrographic analysis device

The invention provides a plasma spectroscopic analysis method and plasma spectroscopic analysis device, high sensitivity and restrain such as error analysis of sample analysis of the produce. The plasma spectroscopic analysis method includes: concentration process, including the sample in the presence of a pair of electrode voltage applied to the applying procedure, the sample analysis of the object concentrated near at least one of the electrodes by the applied voltage; and the detection process, and plasma by applying a voltage to one of the electrodes of the plasma generated by the light emitting analysis object is detected, the voltage during at least a portion of the concentration in the process when applied between a pair of electrodes of the constant current.

【技术实现步骤摘要】
等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置
本公开涉及等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置。
技术介绍
作为对试料中的分析对象物进行分析的方法，已知有利用了等离子体发光的分析方法。关于所述分析方法，专利文献1公开了使用高频等离子体质量分析装置对试料进行分析的方法。而且，专利文献2及3公开了使用具有狭小部的等离子体产生装置，使试料中产生等离子体，通过分析等离子体发光来分析试料的方法。此外，专利文献4及5公开了在液体的试料中使等离子体产生，通过分析等离子体发光来分析试料的方法。然而，在专利文献1的方法中，当未进行适当的前处理时，存在由于其他的物质的混入而分析结果发生变化的问题。而且，在专利文献2及3的方法中，在使用存在夹杂物的试料的情况及在进行减少试料的液量的前处理时混入了异物等的情况下，存在所述夹杂物及所述异物堵塞于所述狭小部而无法进行测定的问题。此外，在专利文献4及5的方法中，存在分析灵敏度低的问题。【现有技术文献】【专利文献】【专利文献1】日本特开2009-128315号公报【专利文献2】日本特开2011-180045号公报【专利文献3】日本特开2012-185064号公报【专利文献4】国际公开第2006/059808号【专利文献5】国际公开第2011/099247号
技术实现思路
【专利技术要解决的问题】于是，本公开的目的在于提供一种分析灵敏度高且抑制了例如试料分析时的分析误差的产生的等离子体分光分析方法及使用于该等离子体分光分析方法的等离子体分光分析装置。【用于解决问题的手段】为了解决所述课题，本公开的等离子体分光分析方法(以下，也称为“分析方法”)的特征在于，包括：浓缩工序，包括在试料的存在下对一对电极进行电压施加的电压施加工序，通过所述电压施加来将所述试料中的分析对象物浓缩于至少一方的电极的附近；及检测工序，通过向所述一对电极施加电压而产生等离子体，对因所述等离子体而产生的所述分析对象物的发光进行检测，所述浓缩工序的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流恒定。本公开的等离子体分光分析装置(以下，也称为“分析装置”)的特征在于，包括一对电极、容器、受光部及定电流部，所述容器包括透光部，所述一对电极配置在所述容器内，在所述容器的外部配置有受光部，所述受光部能够透过所述透光部而接收通过向所述一对电极施加电压而产生的分析对象物的发光，所述定电流部连接于所述一对电极，且在向所述一对电极施加电压时，使所述一对电极间的电流恒定，所述等离子体分光分析装置使用于所述本公开的等离子体分光分析方法。【专利技术效果】根据本公开的等离子体分光分析方法，分析灵敏度高，且能够抑制例如试料分析时的分析误差的产生。附图说明图1(A)示出本公开的分析装置的实施方式的分析装置的示意透视立体图，图1(B)是从图1(A)的I-I方向观察的示意剖视图。图2是示出实施例1的铅浓度与计数值的相关的坐标图。图3是示出实施例2的各周期的计数值的坐标图。【附图标记说明】1、2电极3透光部4容器5受光部6定电流部7绝缘性材料10分析装置具体实施方式<等离子体分光分析方法>如前所述，本公开的等离子体分光分析方法的特征在于，包括：浓缩工序，包括在试料的存在下对一对电极进行电压施加的电压施加工序，通过所述电压施加来将所述试料中的分析对象物浓缩于至少一方的电极的附近；及检测工序，通过向所述一对电极施加电压而产生等离子体，对因所述等离子体而产生的所述分析对象物的发光进行检测，所述浓缩工序的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流恒定。本公开的分析方法的特征在于，包括所述浓缩工序及所述检测工序，所述浓缩工序的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流恒定，其他的工序及条件并不特别限制。通常，为了高效地分析试料中的分析对象物，例如，对于所述试料实施通过浓缩而使所述试料的总体积(总液量)减少的前处理，由此使所述试料的总体积中每单位体积的分析对象物量增加。相对于此，本专利技术者们发现，在试料的存在下，通过向一对电极施加电压而能够将所述试料中的分析对象物浓缩于至少一方的电极的附近，即，能够使所述分析对象物局部性地集聚在所述电极的附近，然后，使所述分析对象物集聚的电极侧产生等离子体，由此能够高效地分析局部性地成为高浓度的分析对象物，并确立了不需要前述的前处理的新的分析方法。然而，在使用该分析方法的情况下，有时在包含相同浓度的分析对象物的多个试料间会出现分析结果的偏差。通过本专利技术者们的深入研究，发现了下述情况：例如在铅等分析对象物与作为螯合剂的乙二胺四乙酸(EDTA)等特定的共存物质共存的试料中，所述分析结果产生误差，因而所述多个试料间的分析结果产生偏差，即，所述特定的共存物质的存在引起的分析误差的产生是所述多个试料间的分析结果的偏差的原因。并且，虽然对其机理尚不明确，但是本专利技术者们发现，通过将所述浓缩工序中的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流设为恒定即设为定电流，即使在所述特定的共存物质存在的情况下也能够抑制分析误差的发生，从而完成了本公开的分析方法。因此，根据本公开的分析方法，例如能够抑制试料分析时的分析误差的发生。而且，由于本公开的分析方法能够抑制试料分析时的分析误差的发生，所以例如无论试料的种类、所述分析对象物的种类如何，都能够高精度地分析所述分析对象物。此外，本公开的分析方法如前所述，例如不进行对所述试料的所述前处理就能够高效率地分析局部性地成为高浓度的分析对象物，因此能够简便且高灵敏度地分析所述试料。在本公开的分析方法中，所述试料是例如检体。所述检体可以是液体的检体，也可以是固体的检体。对于所述检体，例如可以将所述检体的未稀释液直接作为液体检体使用，也可以将所述检体悬浮、分散或溶解于介质而得到的稀释液作为液体检体使用。在所述检体为固体的情况下，例如，优选将所述检体悬浮、分散或溶解于所述介质而得到的稀释液作为液体检体使用。所述介质并不特别限制，可列举例如水、缓冲液等。所述检体可列举例如生物体由来的检体(试料)、环境由来的检体(试料)、金属、化学物质、医药品等。所述生物体由来的检体并不特别限制，可列举尿、血液、毛发、唾液、汗、指甲等。所述血液检体可列举例如红血球、全血、血清、血浆等。所述生物体可列举例如人类、非人类动物、植物等，所述非人类动物可列举例如除了人类之外的哺乳类、鱼介类等。所述环境由来的检体并不特别限制，可列举例如食品、水、土壤、大气、空气等。所述食品可列举例如生鲜食品或加工食品等。所述水可列举例如饮用水、地下水、河川水、海水、生活废水等。所述试料例如包括所述金属和后述的螯合剂，优选所述金属为所述分析对象物。所述分析对象物并不特别限制，可列举例如金属、化学物质等。所述金属并不特别限制，可列举例如铝(Al)、锑(Sb)、砷(As)、钡(Ba)、铍(Be)、铋(Bi)、镉(Cd)、铯(Cs)、钆(Gd)、铅(Pb)、汞(Hg)、镍(Ni)、钯(Pd)、铂(Pt)、碲(Te)、铊(Tl)、钍(Th)、锡(Sn)、钨(W)、铀(U)等金属。所述化学物质可列举例如试剂、农药、化妆品等。所述分析对象物可以为例如1种，也可以为2种以上。在所述分析对象物为金属时，所述试料可以包含例如用于使所述检体中的金属分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种等离子体分光分析方法，包括：浓缩工序，包括在试料的存在下对一对电极进行电压施加的电压施加工序，通过所述电压施加来将所述试料中的分析对象物浓缩于至少一方的电极的附近；及检测工序，通过向所述一对电极施加电压而产生等离子体，对因所述等离子体而产生的所述分析对象物的发光进行检测，所述浓缩工序中的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流恒定。

【技术特征摘要】
2016.07.22 JP 2016-144930;2017.06.23 JP 2017-123021.一种等离子体分光分析方法，包括：浓缩工序，包括在试料的存在下对一对电极进行电压施加的电压施加工序，通过所述电压施加来将所述试料中的分析对象物浓缩于至少一方的电极的附近；及检测工序，通过向所述一对电极施加电压而产生等离子体，对因所述等离子体而产生的所述分析对象物的发光进行检测，所述浓缩工序中的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流恒定。2.根据权利要求1所述的等离子体分光分析方法，其中，所述浓缩工序包括：电压施加工序，向所述一对电极施加电压；及电压非施加工序，不向所述一对电极施加电压。3.根据权利要求2所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩工序中，将各进行一次所述电压施加工序和所述电压非施加工序的反复作为一组，所述一组的时间为0.25秒以上。4.根据权利要求2或3所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩工序中，将各进行一次所述电压施加工序和所述电压非施加工序的反复作为一组，所述一组的时间中的所述电压非施加工序的时间为0.125秒以上。5.根据权利要求2或3所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩工序中，将各进行一次所述电压施加工序和所述电压非施加工序的反复作为一组，所述一组的时间中的所述电压施加工序的时间的比例为1％以上且99％以下的范围。6.根据权利要求1～3中任一项所述的等离子体分光分析方法，其中，在所述浓缩工序中，所述电压施加时的一对电极间的电流值为0.01mA以上且200mA以下的范围。7.根据权利要求1～3中任一项所述的等离子体分光分析方法，其中，所述一对电极是与所述试料进行液体接触的液体接触面积不同的一对电极，所述一对电极中的与所述试料进行液体接触的液体接触面积小的电极是通过等离子体产生来...

【专利技术属性】
技术研发人员：高须刚，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP