The invention relates to a detection method of PERC silicon nitride film thickness on the back of the battery, which comprises the following steps: A, PERC battery test table sheet is arranged on the reflectivity tester back plated silicon nitride on silicon nitride film coated with keep battery back up; on cell reflectance test B, start the test instrument, xenon lamp light through integrating sphere diffuse reflection, diffuse photons of a portion of the cell absorption, the other part of photons by the back surface of a cell and a silicon nitride film reflected by integral ball collecting spectrometer detection; C, after testing, get a reflectance curve in the reflectivity test instrument interface on the analysis of the maximum reflectivity of the wavelength, to determine the measurement range of solar cell silicon nitride film thickness. The invention can detect the thickness of the coating layer on the back side of the PERC battery by testing the wavelength of the maximum reflectivity of the battery back reflectivity, and is simple and convenient to operate. The operator can operate only after a simple training.
【技术实现步骤摘要】
一种PERC电池背面氮化硅膜厚的检测方法
本专利技术涉及太阳能电池
,尤其是一种PERC电池背面氮化硅膜厚的检测方法。
技术介绍
太阳能电池应用技术中,由于PERC电池背面氮化硅膜厚普遍都在120nm以上,因此采用传统的激光椭偏仪已无法准确测试其膜厚,而目前的光谱椭偏仪使用起来又比较繁琐,需要建模分析,不同的膜厚需要建不同的模型,且对建构模型有很严格的要求,因此测量过程较为繁琐,对于操作者而言也不易准确掌握,影响测量结果。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是:为了克服现有技术中之不足,本专利技术提供一种操作简单方便的PERC电池背面氮化硅膜厚的检测方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种PERC电池背面氮化硅膜厚的检测方法,具有如下步骤:a、将背面镀好氮化硅的PERC电池片置于反射率测试仪的测试台面上,保持镀有氮化硅膜的电池片背面朝上;b、启动测试仪对电池片进行反射率测试,氙灯发出的光通过积分球漫反射,漫反射的光子一部分被电池片吸收,另一部分光子被电池片背面的氮化硅膜反射出并通过积分球被光谱仪收集检测;c、测试完毕,在反射率测试仪的操作界面上得到一个反射率曲线图,分析其中最大反射率波长,以确定所测电池片上氮化硅膜厚的范围。进一步地,作为检测后的判断,步骤c中,当最大反射率波长在520~620nm之间,膜厚值在110nm~140nm之间,且膜呈淡蓝色;当最大反射率波长在600~680nm之间,膜厚值在140nm~160nm之间,且膜呈金黄色;当最大反射率波长在700~800nm之间,膜厚值在170nm~190nm之间,且膜呈紫红色。本 ...
【技术保护点】
一种PERC电池背面氮化硅膜厚的检测方法,其特征是:具有如下步骤:a、将背面镀好氮化硅的PERC电池片置于反射率测试仪的测试台面上,保持镀有氮化硅膜的电池片背面朝上;b、启动测试仪对电池片进行反射率测试,氙灯发出的光通过积分球漫反射,漫反射的光子一部分被电池片吸收,另一部分光子被电池片背面的氮化硅膜反射出并通过积分球被光谱仪收集检测;c、测试完毕,在反射率测试仪的操作界面上得到一个反射率曲线图,分析其中最大反射率波长,以确定所测电池片上氮化硅膜厚的范围。
【技术特征摘要】
1.一种PERC电池背面氮化硅膜厚的检测方法,其特征是:具有如下步骤:a、将背面镀好氮化硅的PERC电池片置于反射率测试仪的测试台面上,保持镀有氮化硅膜的电池片背面朝上;b、启动测试仪对电池片进行反射率测试,氙灯发出的光通过积分球漫反射,漫反射的光子一部分被电池片吸收,另一部分光子被电池片背面的氮化硅膜反射出并通过积分球被光谱仪收集检测;c、测试完毕,在反射率测试仪的操作界面上得到一个反射率曲线图,分析其...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱露,
申请(专利权)人:常州亿晶光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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