一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质，其中该方法包括：获取取值范围预先确定的N类测试参数；从每一类测试参数中选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。本发明专利技术提供的一种存储设备测试方法实现了自动组合测试参数，降低了用户组合测试参数的组合难度，解决了如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。

A storage device test method, system, equipment, and computer storage medium

The invention discloses a storage device testing method, system, device and computer storage medium, wherein the method comprises: N test to obtain the parameters range of predetermined selection; a combination of parameters into the test parameter group from each category of test parameters, the test parameters of the array to complete the performance testing of storage devices based on the test parameter set new combinations of at least one parameter parameters and test parameters have been combined into different groups; in the performance test of the test parameters determine the group number is less than the calculated value, if it is executed from each category of test parameters were selected from a combination of parameters into step test the parameter set is the end of the test, if not, the calculated value will be multiplied by each test parameter number value. A storage device testing method provided by this invention realizes automatic combination of test parameters, reduces the combination difficulty of user combination test parameters, and solves the technical problem of how to improve the testing efficiency of storage device testing process.

【技术实现步骤摘要】
一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质
本专利技术涉及存储设备测试
，更具体地说，涉及一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质。
技术介绍
随着互联网的高速发展，数据也随之爆发式增长，通常用户会选择高效率低成本的存储设备来存储数据，这就需要对存储设备的效率进行测试。现有的一种测试存储设备的方法是采用fio(IOPS压力测试工具)作为测试工具对存储设备进行效率测试，此工具可以按照设定的速率向磁盘并向写入或读取一定数量的数据，获得数据输入输出的速率，以此作为评价存储设备效率的指标，但是，测试时的读写速率、读写并发量、文件尺寸等测试参数需要用户自行组合。然而，由于测试参数的复杂性，用户难以自已组合出合适的测试参数，进而使得测试过程的测试效率较低。综上所述，如何提高存储设备测试过程的测试效率是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种存储设备测试方法，其能在一定程度上解决如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。本专利技术还提供了一种存储设备测试系统、设备及计算机存储介质。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种存储设备测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储设备测试方法，其特征在于，包括：获取取值范围预先确定的N类测试参数；从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行所述从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。

【技术特征摘要】
1.一种存储设备测试方法，其特征在于，包括：获取取值范围预先确定的N类测试参数；从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行所述从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断参与所述性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，还包括：基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价之前，还包括：获取所述存储设备的价格；所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价，包括：将每一类测试参数对应的性能指数除以所述价格得到对应的比值，基于所述比值对所述存储设备进行性能评价；所述基于所述比值对所述存储设备进行性能评价之后，还包括：生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。4.一种存储设备测试系统，其特征在于，包括：获取模块，用于获取取值范围预先确定的N类测试参数；组合模块，用于从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的...

【专利技术属性】
技术研发人员：玄加林，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41