深度测量治具制造技术

本实用新型专利技术属于测量器具制造技术领域，旨在提供一种深度测量治具，该深度测量治具包括具有第一基准面和第一测量平面组的第一量具，因第一测量平面组与第一基准面相对设置，且呈阶梯状，具体地，该第一测量平面组包括与第一基准面的高度差依次递增的第一最大极限尺寸测量平面、第一基本尺寸测量平面和第一最小极限尺寸测量平面，即，该第一量具采用段差递增式制作而成，在批量测量时，贴合第一基准面和第一待测目标的底面，在第一待测目标的两端之间设置水平障碍，通过察看第一量具的各测量平面是否能通过该水平障碍以判断第一待测目标的深度是否符合要求，显然，该深度测量治具方便实用且结构简单，制作成本低，大大地提高了检测效率。

Depth measurement tool

The utility model belongs to the technical field of measuring instruments manufacturing, aiming to provide a depth measuring device, the depth measuring device comprises a first measuring device having a first reference surface and the first measurement plane group, as a result of the first measurement plane group and the first reference surface is opposite, and the ladder, specifically, the first group includes the first measuring plane the height difference between the first reference maximum limit of size measurement plane, increasing the first basic measurement plane and the first minimum limit of size measurement plane, i.e., the first section by measuring incremental produced in batch measurement, fit the first reference surface and the bottom surface of the first target, set the level of disorder in between the two ends of the first target to be detected, by looking at the first measuring the measuring plane can through the obstacles to judge the level of the first target to be detected If the depth meets the requirements, it is obvious that the depth measurement tool is convenient, practical, simple in structure, low in production cost, and greatly improves the detection efficiency.

【技术实现步骤摘要】
深度测量治具
本技术属于测量器具制造
，更具体地说，是涉及一种深度测量治具。
技术介绍
量块是一种由两个相互平行的测量面之间的距离来确定其工作长度的高精度量具，作为长度计量标准的量具，其主要用来校验高精度要求的测量设备或实物，如在生产车间内，通过量块的量值传递，可以对零部件的尺寸进行准确地测量，从而保证产品的质量。众所周知，通常，量块是用合金钢、玛瑙或大理石等耐磨材料制造而成，一般呈矩形块，在实际应用中，可以将多个量块组合使用，具体地，如将一量块的测量面与另一量块的测量面相研合，或者与具有类似表面质量的辅助检具的表面相研合。在85寸的背板生产车间内，因背板需批量生产，且尺寸较大，工序较分散，生产时需要的模具、检测工具及操作人员等均较多，劳动量大，占用的资源也多，特别是在大尺寸背板上开设有多个并排的灯条孔时，因灯条高度和光腔深度的控制将直接影响到生产作业的实际精度，因而，为确保背板乃至整个显示屏体的制造精度，通常需要频繁地检测灯条高度和光腔深度，然而，灯条孔和背板本身的变异系数不稳定，因而整个测量工作效率较低，若采用大型的测量工具，如三坐标测量机等，一来检验时其操作比较复杂，不方便使用，测量效率低，二来会占用较多的资源，增大生产成本。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种深度测量治具，用以解决现有技术中存在的检具检测时的操作复杂且使用不便，以及检测效率较低的技术问题。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：提供一种深度测量治具，该深度测量治具包括用以测量第一待测目标的深度是否符合要求的第一量具，所述第一量具包括第一基准面和与所述第一基准面相对设置的第一测量平面组，所述第一测量平面组呈现为阶梯状；所述第一测量平面组包括第一最大极限尺寸测量平面、第一基本尺寸测量平面和第一最小极限尺寸测量平面，所述第一最大极限尺寸测量平面、所述第一基本尺寸测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面与所述第一基准面的高度差依次递增。进一步地，所述第一测量平面组还包括第一中间测量平面和第二中间测量平面，所述第一最大极限尺寸测量平面和所述第一基本尺寸测量平面之间设有多个所述第一中间测量平面，所述第一基本尺寸测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面之间设有多个所述第二中间测量平面；所述第一最大极限尺寸测量平面、各所述第一中间测量平面、所述第一基本尺寸测量平面、各所述第二中间测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面首尾相接、相互平行且与所述第一基准面的高度差依次递增。进一步地，所述第一最大极限尺寸测量平面、各所述第一中间测量平面、所述第一基本尺寸测量平面、各所述第二中间测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面相邻两两之间的高度差相等。具体地，所述第一最小极限尺寸测量平面与所述第一基准面的高度差为12mm，相邻的两测量平面之间的高度差为1mm。进一步地，所述第一量具的底面形状与所述第一待测目标的底面形状适配。另一种情况下，进一步地，所述深度测量治具还包括用以测量第二待测目标的深度是否符合要求的第二量具，所述第二量具包括第二基准面以及与所述第二基准面相对设置的第二测量平面组，所述第二测量平面组呈现为阶梯状；所述第二测量平面组包括第二最大极限尺寸测量平面、第二基本尺寸测量平面和第二最小极限尺寸测量平面，所述第二最大极限尺寸测量平面、所述第二基本尺寸测量平面和所述第二最小极限尺寸测量平面与所述第二基准面的高度差依次递增，且所述第二量具的宽度小于或等于所述第二待测目标的宽度，所述第一量具的长度大于所述第二待测目标的宽度。进一步地，所述第二测量平面组还包括第三中间测量平面和第四中间测量平面，所述第二最大极限尺寸测量平面和所述第二基本尺寸测量平面之间设有多个所述第三中间测量平面，所述第二基本测量平面和所述第二最小极限尺寸测量平面之间设有多个第四中间测量平面；所述第二最大极限尺寸测量平面、各所述第三中间测量平面、所述第二基本尺寸测量平面、各所述第四中间测量平面和所述第二最小极限尺寸测量平面首尾相接、相互平行且与所述第二基准面的高度差依次递增。具体地，所述第二最小极限尺寸测量平面与所述第二基准面的高度差为1.0mm，所述第二最大极限尺寸测量平面与所述第二基准面的高度差为1.6mm。进一步地，所述第二量具还包括与所述第二基准面相对设置的非测量面，所述非测量面与所述第二测量平面组的尾部相接，且高于所述第二测量平面组。进一步地，所述第二量具的底面形状与所述第二待测目标的底面形状相适配。与现有技术相比，本技术提供的深度测量治具的有益效果在于：该深度测量治具通过设置第一量具，其中，该第一量具包括第一基准面和第一测量平面组，因第一测量平面组与第一基准面相对设置，且呈阶梯状，具体地，该第一测量平面组包括与第一基准面的高度差依次递增的第一最大极限尺寸测量平面、第一基本尺寸测量平面和第一最小极限尺寸测量平面，也即，该第一量具采用段差递增式制作而成，这样，在批量生产测量时，将第一量具置于第一待测目标内，并让第一基准面贴合于第一待测目标的底面，且在第一待测目标的两端之间设置水平障碍，通过察看第一最大极限尺寸测量平面或第一最小极限尺寸测量平面是否能通过该水平障碍，即可判断第一待测目标的深度是否符合要求，显然，该深度测量治具方便实用且结构简单，制作成本低，大大地提高了检测效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1是本技术实施例中深度测量治具的第一量具的立体结构示意图；图2是本技术实施例中第一量具的主视图；图3是本技术实施例中第一量具的俯视图；图4是本技术实施例中第一量具的侧视图；图5是本技术实施例中第一量具的仰视图；图6是本技术实施例中深度测量治具的第二量具的立体结构示意图；图7是本技术实施例中第二量具的主视图；图8是本技术实施例中第二量具的俯视图；图9是本技术实施例中第二量具的左视图；图10是本技术实施例中第二量具的右视图；图11是本技术实施例中第二量具的仰视图。其中，附图中的标号如下：100-第一量具、110-第一基准面、120-第一测量平面组、121-第一最大极限尺寸测量平面、122-第一基本尺寸测量平面、123-第一最小极限尺寸测量平面、124-第一中间测量平面、125-第二中间测量平面；200-第二量具、210-第二基准面、220-第二测量平面组、221-第二最大极限尺寸测量平面、222-第二基本尺寸测量平面、223-第二最小极限尺寸测量平面、224-非测量面。具体实施方式为了使本技术的所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需说明的是，当部件被称为“固定于”或“设置于”另一个部件，它可以直接在另一个部件上或者间接在该另一个部件上。当一个部件被称为是“连接于”另一个部件，它可以是直接连接到另一个部件或者间接连接至该另一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
深度测量治具，其特征在于：包括用以测量第一待测目标的深度是否符合要求的第一量具，所述第一量具包括第一基准面和与所述第一基准面相对设置的第一测量平面组，所述第一测量平面组呈现为阶梯状；所述第一测量平面组包括第一最大极限尺寸测量平面、第一基本尺寸测量平面和第一最小极限尺寸测量平面，所述第一最大极限尺寸测量平面、所述第一基本尺寸测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面与所述第一基准面的高度差依次递增。

【技术特征摘要】
1.深度测量治具，其特征在于：包括用以测量第一待测目标的深度是否符合要求的第一量具，所述第一量具包括第一基准面和与所述第一基准面相对设置的第一测量平面组，所述第一测量平面组呈现为阶梯状；所述第一测量平面组包括第一最大极限尺寸测量平面、第一基本尺寸测量平面和第一最小极限尺寸测量平面，所述第一最大极限尺寸测量平面、所述第一基本尺寸测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面与所述第一基准面的高度差依次递增。2.如权利要求1所述的深度测量治具，其特征在于：所述第一测量平面组还包括第一中间测量平面和第二中间测量平面，所述第一最大极限尺寸测量平面和所述第一基本尺寸测量平面之间设有多个所述第一中间测量平面，所述第一基本尺寸测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面之间设有多个所述第二中间测量平面；所述第一最大极限尺寸测量平面、各所述第一中间测量平面、所述第一基本尺寸测量平面、各所述第二中间测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面首尾相接、相互平行且与所述第一基准面的高度差依次递增。3.如权利要求2所述的深度测量治具，其特征在于：所述第一最大极限尺寸测量平面、各所述第一中间测量平面、所述第一基本尺寸测量平面、各所述第二中间测量平面和所述第一最小极限尺寸测量平面相邻两两之间的高度差相等。4.如权利要求3所述的深度测量治具，其特征在于：所述第一最小极限尺寸测量平面与所述第一基准面的高度差为12mm，相邻的两测量平面之间的高度差为1mm。5.如权利要求1所述的深度测量治具，其特征在于：所述第一量具的底面形状与所述第一待测目标的底面形状适配。6.如权利要求1所述的深度测量治具，其特征在于：所述深度测量治具...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱晓风，吴和平，王应才，
申请(专利权)人：东莞市鑫博电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44