一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的圈数在填充有检测液的环形槽中绕圈，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而抑制W波及单向扭对测试结果的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。

A communication fiber macro bending loss testing device and testing method

The invention discloses a communication optical fiber Macrobending loss test device and method, the round annular groove in liquid filled fiber detection according to the number of ring test requirements in the macro bending loss test device to test fiber Macrobending loss test, thereby inhibiting W and one-way torsion effect on test results the true value of optical fiber Macrobending loss, to ensure that the fiber Macrobending loss testing accuracy, stability and reliability.

【技术实现步骤摘要】
一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法
本专利技术涉及光纤测试
，具体涉及一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法。
技术介绍
光纤由于抗干扰能力强、质量轻、体积小、耐腐蚀、电绝缘性好、安全可靠等优点，在光纤通信和光纤传感领域发展迅速。在实际使用过程中，光纤很容易发生弯曲产生宏弯损耗，对长距离的光信号传输非常不利，因此，对光纤的宏弯损耗进行测试，了解光纤的宏弯损耗性能，对光纤通信具有重要意义。现有的光纤宏弯损耗测试装置和测试方法为挑选一种特定外径且直径均匀的圆柱状绕线柱，将待测光纤按照需要的圈数均匀的缠绕在绕线柱上固定后进行测量，但上述装置和方法存在如下问题：一、通信光纤的宏弯损耗随波长的增加和弯曲半径的减少而增大，在弯曲半径情况下对光纤的宏弯损耗进行测试时，针对同一个测试样品、在相同测试条件下，多次测试结果会出现较大差异，引起该差异的主要原因是弯曲条件下辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，在特定的条件下会出现干涉加强或减弱的现象，称为Whisperinggallerymodes(简称W波)的影响。受该现象的影响，在进行光纤的宏弯损耗测试时，将会出现宏弯损耗振荡现象，导致宏弯损耗测试结果不稳定和不准确。二、将待测光纤按照需要的圈数均匀的缠绕在绕线柱上固定后进行测量时，光纤样品固定时的侧压力大小、绕圈大小是否适宜、有无形成椭圆、有无形成绕圈张力等都会对测试结果造成影响，特别是在一圆柱上连续绕多圈的过程中，会形成多个单向扭，易产生新的损耗，引入新的误差，降低测量结果的可靠性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是抑制W波及单向扭对测试结果的影响，实现对通信光纤宏弯损耗的准确、稳定、可靠测试，目的在于提供一种光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，解决当前测试装置及测试方法测量不准确、稳定性差的问题。本专利技术通过下述技术方案实现：一种光纤宏弯损耗测试装置，包括底板，底板上设有环形槽，所述环形槽为圆环状，环形槽内径与光纤测试要求的直径相对应。特别地，所述环形槽的数量为1。特别地，所述底板上还设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽，所述导向槽与环形槽外圆周相切，切点处设有方便光纤通过的凹槽。特别地，所述环形槽的数量为N，N为大于、等于2的偶数，N个环形槽等径，每2个环形槽为1组，每组中的2个环形槽外圆周相切，切点处设有方便光纤通过的凹槽，当N为大于2的偶数时，每组环形槽在底板上均匀分布。特别地，所述底板上还设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽，所述每个凹槽均投影在导向槽上。特别地，所述环形槽内填充有检测液，所述检测液的光折射率大于待测光纤涂层和/或光纤包层的光折射率。一种采用上述光纤宏弯损耗测试装置进行光纤宏弯损耗测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：A、将待测光纤置于环形槽中，按照测试要求的圈数绕圈；B、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。特别地，当所述光纤宏弯损耗测试装置底板上设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽和1个环形槽，导向槽与环形槽外圆周相切，切点处设有方便光纤通过的凹槽时，所述步骤A具体包括：将待测光纤一端固定，另一端沿导向槽进行铺设，至凹槽处开始沿环形槽绕圈铺设，重复绕圈铺设动作直至绕圈数达到测试要求的圈数回到凹槽处时，再沿导向槽的另一端出来。特别地，当所述光纤宏弯损耗测试装置底板上设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽和2个环形槽，所述2个环形槽等径且外圆周相切，切点处设有方便光纤通过的凹槽，凹槽投影在导向槽上时，所述步骤A具体包括：将待测光纤一端固定，另一端沿导向槽进行铺设，至凹槽处先沿一个环形槽绕圈铺设，回到凹槽处后再沿另一个环形槽绕圈铺设，在两个环形槽绕圈铺设的绕向相反，重复绕圈铺设动作直至绕圈数达到测试要求的圈数回到凹槽处时，再沿导向槽的另一端出来。特别地，当所述光纤宏弯损耗测试装置底板上设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽和N个环形槽，N为大于2的偶数，N个环形槽等径，每2个环形槽为1组，每组环形槽在底板上均匀分布，每组中的2个环形槽外圆周相切，切点处设有方便光纤通过的凹槽，每个凹槽均投影在导向槽上时，所述步骤A具体包括：将待测光纤一端固定，另一端从导向槽的一端进入，沿导向槽进行铺设，之后依次在每组环形槽绕圈，重复绕圈动作直至圈数达到测试要求的圈数回到凹槽处时，再沿导向槽的另一端出来，所述在每组的环形槽上绕圈的动作具体为在2个环形槽的凹槽处先沿一个环形槽绕圈，回到凹槽处后再沿另一个环形槽绕圈，再次回到凹槽，在两个环形槽的绕向相反。特别地，所述环形槽中填充有检测液，待测光纤浸入检测液中进行测试。本专利技术与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：本专利技术所述一种光纤宏弯损耗测试装置及测试方法，将待测光纤按照测试要求的圈数在填充有检测液的环形槽中绕圈，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而抑制W波及单向扭对测试结果的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本专利技术实施例的限定。在附图中：图1为本专利技术实施例1提供的通信光纤宏弯损耗测试装置结构图。图2为本专利技术实施例1提供的存在W波干扰时光纤内部光折射结构图。图3为本专利技术实施例1提供的采用肉桂酸乙酯作为检测液时获得的光纤宏弯损耗测试结果。图4为本专利技术实施例1提供的采用甘油作为检测液时获得的光纤宏弯损耗测试结果。图5为本专利技术实施例2提供的光纤宏弯损耗测试装置结构图。图6为本专利技术实施例3提供的光纤宏弯损耗测试装置结构图。附图中标记及对应的零部件名称：1-底板，2-环形槽，3-导向槽，4-凹槽。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。实施例1本实施例公开了一种通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法。如图1所示，图1为本专利技术实施例1提供的光纤宏弯损耗测试装置结构图。所述光纤宏弯损耗测试装置包括底板1，底板1上设有1个环形槽2，环形槽2内径与光纤测试要求的直径相对应。本实施例的一种优选实施方式为环形槽2中填充有检测液，检测液的光折射率大于待测光纤涂层和/或光纤包层的光折射率，待测光纤浸入检测液中进行测试。本实施例的一种优选实施方式为底板1上还设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽3，导向槽3与环形槽2外圆周相切，切点处设有凹槽4。所述凹槽4保证导向槽3与环形槽2连通，并凹槽4大小保证待测光纤通过即可。需要说明的是导向槽3在本专利技术中的作用为方便待测光纤放入环形槽，故其设置为两端分别向底板1的两个侧边延伸。因环形槽2与导向槽3连通，故当环形槽2中填充有检测液时，导向槽3中同样填充有检测液，为避免检测液溢出底板，导向槽3在底板1的两个侧边可设置堵头。进一步，在避免检测液溢出底板的同时，进一步避免待测光纤在底板1上进出过程中出现大角度弯折，导向槽3可不延伸至底板1的侧边，在导向槽3内靠近底板1侧边的位置设置斜坡，待测光纤沿斜坡铺设出去。本实施例的一种优选实施方式为所述环形槽2和导向槽3均采用光纤外径的1倍及以上设置U形槽深本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，包括底板，底板上设有环形槽，所述环形槽为圆环状，环形槽内径与光纤测试要求的直径相对应。

【技术特征摘要】
2016.08.25 CN 20161072888181.一种通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，包括底板，底板上设有环形槽，所述环形槽为圆环状，环形槽内径与光纤测试要求的直径相对应。2.如权利要求1所述的通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述环形槽的数量为1。3.如权利要求2所述的通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述底板上还设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽，所述导向槽与环形槽外圆周相切，切点处设有方便光纤通过的凹槽。4.如权利要求1所述的通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述环形槽的数量为N，N为大于、等于2的偶数，N个环形槽等径，每2个环形槽为1组，，每组中的2个环形槽外圆周相切，切点处设有方便光纤通过的凹槽，当N为大于2的偶数时，每组环形槽在底板上均匀分布。5.如权利要求4所述的通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述底板上还设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽，所述每个凹槽均投影在导向槽上。6.如权利要求1至5任一所述的通信光纤宏弯损耗测试装置，其特征在于，所述环形槽内填充有检测液，所述检测液的光折射率大于待测光纤涂层和/或光纤包层的光折射率。7.一种采用权利要求1-6所述的通信光纤宏弯损耗测试装置进行光纤宏弯损耗测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：A、将待测光纤置于环形槽中，按照测试要求的圈数绕圈；B、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。8.如权利要求7所述的光纤宏弯损耗测试的方法，其特征在于，当所述光纤宏弯损耗测试装置底板上设有方便待测光纤放入环形槽的导向槽和1个环形槽，导向槽与环形槽外圆周相切，切点处设有方便光...

【专利技术属性】
技术研发人员：李琳莹，甘露，宋志佗，李秋云，
申请(专利权)人：成都泰瑞通信设备检测有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51