本实用新型专利技术提供一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，包括：稳定光源、光功率计、测试尾纤和微弯生成器；所述微弯生成器包括开槽底板、压块和两根金属棒；所述开槽底板上设置有沿宽度方向的双槽；所述双槽的侧视为V型槽；测试时将被测光纤沿所述开槽底板的长度方向且大圈环回放置；所述两根金属棒用于放置在双槽中，并自由地压在所述被测光纤上形成4个支点；所述压块用于放置在两根金属棒上，使所述被测光纤在4个支点处顺着双槽产生微弯；所述稳定光源和光功率计用于通过测试尾纤连接被测光纤的两端进行微弯附加损耗测试。本实用新型专利技术的测试装置能够解决现有IEC方法中的问题。测试装置能够解决现有IEC方法中的问题。测试装置能够解决现有IEC方法中的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置
[0001]本技术涉及通信光纤的机械及传输性能测试领域，具体而言，涉及一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置。
技术介绍
[0002]在光纤光缆的制造及安装使用过程中，光纤可能会遭受外界沿光纤截向的压力，引起光纤局部产生较小的、随机的、高频的微弯折或弯曲(通常弯曲半径不大于1mm)，导致纤芯相对于光纤轴出现极小的偏移或者畸变。这种偏移或者畸变会使在光纤内部传输的光功率从基模耦合到高阶模，发生模式耦合，从而引起光纤损耗的增加，称为光纤微弯附加损耗，也称光纤微弯敏感性。
[0003]不同的光纤对微弯的敏感性不同，要衡量其敏感性差异程度，就要对光纤微弯附加损耗进行测试。然而，由于光纤微弯的变形量或者弯曲半径极小，并且有一定的随机性，在光纤微弯附加损耗的测试方法中最难的是要能模拟光纤产生微弯的场景，并且操作简单、有重复性，这是一直以来困扰光纤测试业界的难题。
[0004]IEC在技术报告IEC/TR 62221:2012中提到了四种对光纤微弯敏感性的测试方法：方法A可膨胀圆筒法、方法B固定直径圆筒法、方法C平板法、方法D交叉网状卷绕法。其中方法A、B、D都是基于卷轴，方法C为橡胶和砂纸的平板。这些方法在实际中均存在明显缺点，方法A机构复杂、不易精确实现；方法B砂纸不同批次差异较大、重复性差、且受复绕设备的控制精度影响较大；方法D可操作性极差；方法C由于受试距离短、又是采用变形量极小的砂纸，难以体现出微弯敏感性差异。
技术实现思路
[0005]本技术旨在提供一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，以克服上述传统光纤微弯测试存在的问题。
[0006]本技术实施例1提供的一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，包括：稳定光源、光功率计、测试尾纤和微弯生成器；
[0007]所述微弯生成器包括开槽底板、压块和两根金属棒；所述开槽底板上设置有沿宽度方向的双槽；所述双槽的侧视为V型槽；
[0008]测试时将被测光纤沿所述开槽底板的长度方向且大圈环回放置；所述两根金属棒用于放置在双槽中，并自由地压在所述被测光纤上形成4个支点；所述压块用于放置在两根金属棒上，使所述被测光纤在4个支点处顺着双槽产生微弯；所述稳定光源和光功率计用于通过测试尾纤连接被测光纤的两端进行微弯附加损耗测试。
[0009]进一步的，所述开槽底板两侧与双槽对应位置处设置有棒限位槽；所述棒限位槽用于所述两根金属棒分别放置在双槽上时对两根金属棒进行限位。
[0010]进一步的，所述开槽底板上设置有两条沿长度方向的光纤限位槽；所述光纤限位槽用于放置被测光纤。
[0011]进一步的，所述两条沿长度方向的光纤限位槽平行。
[0012]本技术实施例2提供的一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，包括：稳定光源、光功率计、测试尾纤和微弯生成器；
[0013]所述微弯生成器包括开槽底板和带齿压块；所述开槽底板上设置有沿宽度方向的双槽，所述双槽的侧视为V型槽；所述带齿压块上设置有与双槽位置对应的两条顶板压齿，所述顶板压齿的顶部为圆弧状；
[0014]测试时将被测光纤沿所述开槽底板的长度方向且大圈环回放置；所述带齿压块用于放置在开槽底板上，使顶板压齿对应放置在双槽中的被测光纤上形成4个支点，并使所述被测光纤在4个支点处顺着双槽产生微弯；所述稳定光源和光功率计用于通过测试尾纤连接被测光纤的两端进行微弯附加损耗测试。
[0015]进一步的，所述开槽底板上设置有至少两根限位柱；所述带齿压块上设置有与所述限位柱匹配的滑珠限位孔；所述限位柱和滑珠限位孔用于测试时对所述开槽底板和带齿压块进行匹配限位。
[0016]进一步的，所述开槽底板的上表面四角上设置有4组塞规；所述4组塞规用于测试时调节所述开槽底板和带齿压块之间的距离。
[0017]进一步的，所述开槽底板上设置有两条沿长度方向且平行的光纤限位槽；所述光纤限位槽用于放置被测光纤。
[0018]进一步的，所述两条沿长度方向的光纤限位槽平行。
[0019]进一步的，所述开槽底板和带齿压块呈哈呋式结构，由一块金属平板经线切割制成，并且所述开槽底板和带齿压块的尺寸完全互补。
[0020]综上所述，由于采用了上述技术方案，本技术的有益效果是：
[0021]1、本技术的测试装置能够解决现有IEC方法中的如下问题：
[0022](1)避免圆筒类方法所共同存在的机构复杂、控制精度要依赖于光纤复绕设备的电气控制、设备成本高、操作复杂等固有缺陷；
[0023](2)避免石英卷轴的不圆度差、易破损、成本高等问题；
[0024](3)避免砂纸的一致性、重复性、显著性都较差的问题。
[0025]2、本技术的测试装置采用双槽，避免了以往采用连续多槽的方案中，当顶板压下时，由于最边上两个槽的摩擦阻力，导致处于中间槽上的光纤并不能自由的产生微弯的问题，以及重复性及一致性较差的问题。
[0026]3、本技术的测试装置通过限位槽或者限位柱和滑珠限位孔以及哈呋式结构，能够确保被测位置的重复性。
[0027]4、本技术的测试装置通过塞规调节开槽底板和带齿压块之间的距离，步长最小可达0.01mm，优于类似技术采用位移平台的0.1mm，并且精度有保障。
[0028]5、本实施例的测试装置采用上下布置，而被测光纤放置在开槽底板上，相比左右布置的位移平台，避免了被试光纤的自重悬垂造成被测位置不呈直线且重复性不好的问题。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中的附图作简
单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0030]图1为纯弯曲致微弯仿真模型示意图。
[0031]图2为本技术实施例1的双槽平板式光纤微弯损耗测试装置的原理图。
[0032]图3为本技术实施例2的双槽平板式光纤微弯损耗测试装置的原理图。
[0033]图标：1
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开槽底板、2
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双槽、3
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被测光纤、4
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光纤限位槽、5
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金属棒、 6
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压块、7
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棒限位槽、8
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顶板压齿、9
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带齿压块、10
‑
限位柱、11
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滑珠限位孔、12
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塞规、13
‑
塞规限位柱。
具体实施方式
[0034]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，其特征在于，包括：稳定光源、光功率计、测试尾纤和微弯生成器；所述微弯生成器包括开槽底板(1)、压块(6)和两根金属棒(5)；所述开槽底板(1)上设置有沿宽度方向的双槽(2)；所述双槽(2)的侧视为V型槽；测试时将被测光纤(3)沿所述开槽底板(1)的长度方向且大圈环回放置；所述两根金属棒(5)用于放置在双槽(2)中，并自由地压在所述被测光纤(3)上形成4个支点；所述压块(6)用于放置在两根金属棒(5)上，使所述被测光纤(3)在4个支点处顺着双槽(2)产生微弯；所述稳定光源和光功率计用于通过测试尾纤连接被测光纤(3)的两端进行微弯附加损耗测试。2.根据权利要求1所述的双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，其特征在于，所述开槽底板(1)两侧与双槽(2)对应位置处设置有棒限位槽(7)；所述棒限位槽(7)用于所述两根金属棒(5)分别放置在双槽(2)上时对两根金属棒(5)进行限位。3.根据权利要求1所述的双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，其特征在于，所述开槽底板(1)上设置有两条沿长度方向的光纤限位槽(4)；所述光纤限位槽(4)用于放置被测光纤(3)。4.根据权利要求3所述的双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，其特征在于，所述两条沿长度方向的光纤限位槽(4)平行。5.一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，其特征在于，包括：稳定光源、光功率计、测试尾纤和微弯生成器；所述微弯生成器包括开槽底板(1)和带齿压块(9)；所述开槽底板(1)上设置有沿宽度方向的双槽(2)，所述双槽(2)的侧视为V型槽；所述带齿压块(9) 上设置有与双槽...
【专利技术属性】
技术研发人员：薛梦驰，左琼华，唐筱，郭佳鑫，宋志佗，杨先金，
申请(专利权)人：成都泰瑞通信设备检测有限公司，
类型：新型
国别省市：
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