一种点亮治具及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种点亮治具及装置，所述点亮治具包括：样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统、扫描系统、印刷版、导线以及至少两组探针；其中，所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，所述扫描系统用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统用于根据所述扫描系统所确定的量测位置对所述探针的位置进行自动调节。有益效果：所述点亮治具能点亮多种测试元件组，节省资源，操作方便；所述探针压力传感器的设置，能控制所述探针下的压力，避免所述探针的不良接触以及探针的损坏，对探针起到保护作用；另外，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中，避免了探针的损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种点亮治具及装置
本专利技术涉及平板显示器点亮测试
，特别涉及一种点亮治具及装置。
技术介绍
在平板显示技术中，有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode，OLED)显示器具有轻薄、主动发光、响应速度快、可视角大、色域宽、亮度高和功耗低等众多优点，逐渐成为继液晶显示器后的第三代显示技术。相对于LCD(Liquidcrystaldisplays，液晶显示器)，OLED具有更省电，更薄，且视角宽的优势，这是LCD无法比拟的。目前人们对显示的细腻程度即分辨率要求越来越高，但生产高质量、高分辨率的OLED显示屏仍然面临着许多挑战。在现今的OLED产品设计中，OLED显示面板中包括复杂的像素电路，而在进行高解析度产品设计时，对制造工艺的要求比较严格。因此，为了更加及时、准确地监控产品，通常在OLED产品中设置与各元件相对应的具有测试点的测试电路，通过对各个测试电路进行量测，来获取各元件的参数。目前，点亮OLEDTeg(TestElementGroup，测试元件组)片的治具设计较少，实验室均为“扣盖式”治具。当治具顶发光时，探针在治具盖子上与Teg阴阳极接触，此本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种点亮治具，其特征在于，所述点亮治具包括：样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统、扫描系统、印刷版、导线以及至少两组探针；其中，所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，所述扫描系统用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统用于根据所述扫描系统所确定的量测位置控制所述探针臂对所述探针的位置进行自动调节。

【技术特征摘要】
1.一种点亮治具，其特征在于，所述点亮治具包括：样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统、扫描系统、印刷版、导线以及至少两组探针；其中，所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，所述扫描系统用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统用于根据所述扫描系统所确定的量测位置控制所述探针臂对所述探针的位置进行自动调节。2.根据权利要求1所述的点亮治具，其特征在于，所述发光点控制开关与测试元件组的发光点对应，每一所述发光点控制开关用于控制一个所述发光点发光，其中，所述发光点控制开关包括测试元件组顶部发光开关和底部发光开关。3.根据权利要求1所述的点亮治具，其特征在于，每组所述探针包括阴极探针和阳极探针，控制所述探针的所述探针臂与传动装置相连，所述传动装置包括升降架以及机械杆；其中，所述机械杆由所述智能系统进行控制，所述机械杆以及升降机用以对所述探针臂的位置进行控制。4.根据权利要求1所述的点亮治具，其特征在于，所述探针设置有压力传感器；所述探针臂通过所述压力传感器控制所述探针承受的压力，使所述探针适应不同厚度的所述测试元件组。5.根据权利要求1所述的点亮治具，其特征在于，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中。6.一种点亮治具装...

【专利技术属性】
技术研发人员：许倩文，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42