用于测量电流的方法和电流传感器技术

本发明专利技术涉及一种用于在使用金刚石材料（102）的情况下测量电流（138）的方法（200）。所述金刚石材料（102）在金刚石材料（102）的晶格（300）中具有至少一个氮插入（112）和与所述氮插入（112）相邻的缺陷（114）。所述方法（200）具有提供的步骤（202）、检测的步骤（204）和分析的步骤（206）。在提供的步骤（202）中提供电磁波（118）来激励所述金刚石材料（102）。在检测的步骤（204）中检测金刚石材料（102）的荧光（122）的强度（120）。在分析的步骤（206）中分析所述强度（120）和电磁波（118）的频率（126），以便求取影响荧光的磁场强度（124）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于测量电流的方法和电流传感器
本专利技术涉及一种用于测量电流的方法、一种相应的电流传感器以及一种相应的计算机程序。
技术介绍
为了测量电流，如今已经提供如测量分流电阻上的电压降或通过基于隧道磁电阻效应或巨磁电阻效应的霍尔传感器以及磁场传感器（TMR和GMR传感器）测量电流引起的磁场之类的解决方案。
技术实现思路
在该背景下，利用在此提出的方案提出根据独立权利要求的一种用于在使用金刚石材料的情况下测量电流的方法，还有一种具有金刚石材料的电流传感器以及最后一种相应的计算机程序。有利的设计方案由相应的从属权利要求和以下描述得出。电导体中的电流流动引起围绕着导体的磁场。金刚石晶体中的氮缺陷中心由于塞曼效应而对磁场具有高的灵敏度。在光学上可以以大的值范围读出氮缺陷中心，由此可以以高的精确度确定电流流动。提出一种用于在使用可遭受磁场的金刚石材料的情况下测量引起磁场的电流的方法，其中金刚石材料在金刚石材料的晶格中具有至少一个氮插入和与氮插入相邻的缺陷，其中该方法具有以下步骤：提供第一频谱内的第一电磁波和第二频谱内的第二电磁波，以便将金刚石材料激励至发荧光；检测荧光的荧光强度；分析该强度和第二电磁波的本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于在使用可遭受磁场（110）的金刚石材料（102）的情况下测量引起所述磁场的电流（138）的方法（200），其中所述金刚石材料（102）在金刚石材料（102）的晶格（300）中具有至少一个氮插入（112）和与所述氮插入（112）相邻的缺陷（114），其中所述方法（200）具有以下步骤：提供（202）第一频谱内的第一电磁波（132）和第二频谱内的第二电磁波（136），以便将所述金刚石材料（102）激励至发荧光（122）；检测（204）所述荧光（122）的荧光强度（120）；分析（206）所述荧光强度（120）和第二电磁波（136）的频率（126），以便求取所述磁场（110）的影响荧光的磁场强度...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.05.04 DE 102015208151.61.用于在使用可遭受磁场（110）的金刚石材料（102）的情况下测量引起所述磁场的电流（138）的方法（200），其中所述金刚石材料（102）在金刚石材料（102）的晶格（300）中具有至少一个氮插入（112）和与所述氮插入（112）相邻的缺陷（114），其中所述方法（200）具有以下步骤：提供（202）第一频谱内的第一电磁波（132）和第二频谱内的第二电磁波（136），以便将所述金刚石材料（102）激励至发荧光（122）；检测（204）所述荧光（122）的荧光强度（120）；分析（206）所述荧光强度（120）和第二电磁波（136）的频率（126），以便求取所述磁场（110）的影响荧光的磁场强度（124）；和在使用所述磁场强度（124）的情况下确定（208）所述电流（138）的电流强度。2.根据权利要求1所述的方法（200），其中在分析的步骤（206）中，在第二电磁波（136）的第一频率下分析所述荧光（122）的第一局部强度最小值并且在第二电磁波（136）的第二频率下分析所述荧光（122）的第二局部强度最小值，其中在使用所述频率之间的频率间距的情况下求取所述场强（124）。3.根据前述权利要求之一所述的方法（200），其中在提供的步骤（202）中，第二电磁波（136）作为频率变化曲线射入并且在检测的步骤（204）中检测所述荧光（122）的强度变化曲线（402、404、406、408），其中在分析的步骤（206）中在使用所述频率变化曲线和所述强度变化曲线（402、404、406、408）之间的关系的情况下求取所述场强（124）。4.根据前述权利要求之一所述的方法（200），其中在提供的步骤（2...

【专利技术属性】
技术研发人员：T卢茨，F沙茨，R勒尔韦尔，
申请(专利权)人：罗伯特·博世有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE