检查夹具及具备该检查夹具的检查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及检查夹具及具备该检查夹具的检查装置。检查夹具包括夹具头部以及电极安装部，夹具头部包括：具有检查侧贯通孔的检查侧支承体；具有电极侧贯通孔的电极侧支承体；将检查侧支承体与电极侧支承体连接在一起的连接构件；以及贯穿检查侧贯通孔和电极侧贯通孔的多根探针。电极侧支承体由分别形成有贯通孔的多块电极侧支承板层叠而成，贯通孔包括小径部和直径大于小径部的大径部，多块电极侧支承板的多个贯通孔构成电极侧贯通孔。多块电极侧支承板中，靠连接构件一侧的第一电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠连接构件一侧，该小径部在靠连接构件一侧具有扩口部，该扩口部的直径随着靠近连接构件而逐渐变大。

【技术实现步骤摘要】
检查夹具及具备该检查夹具的检查装置
本技术涉及检查夹具及具备该检查夹具的检查装置，上述检查夹具用于对电路基板等进行电检查。
技术介绍
一直以来，在对电路基板的配线图案的短路、断路等进行电检查时，使用一种具备与电路基板的端子导电接触的多根直线状的探针的检查夹具。这种检查夹具具备：多根探针，多根该探针的一端能够与所述检查对象接触，另一端与电极接触；检查侧支承体，该检查侧支承体形成有供所述探针插通的检查侧贯通孔；电极侧支承体，该电极侧支承体以与所述检查侧支承体隔开规定间隔的方式，相对于所述检查侧支承体配置于与所述探针的一端相反的一侧，并形成有供所述探针插通的电极侧贯通孔；以及多个连接构件，多个该连接构件将所述电极侧支承体与所述检查侧支承体连接。在上述检查夹具中，使探针倾斜地贯穿检查侧支承体和电极侧支承体的贯通孔。然而，在上述检查夹具中，上述电极侧支承体中的电极侧贯通孔通常通过钻孔加工而成，因此，在进行钻孔加工时，往往容易在电极侧贯通孔的钻孔加工后方侧的边缘产生毛刺，该毛刺会使电极侧贯通孔的截面积变小甚至导致电极侧贯通孔堵塞，在这种情况下，就很难将探针贯穿电极侧支承体，影响检查夹具的组装效率。此外，当电极侧贯通孔处存在毛刺时，探针容易与毛刺发生摩擦，从而无法稳定地进行电检查。
技术实现思路
因此，本技术是鉴于上述技术问题而完成的，其目的在于提供检查夹具及具备该检查夹具的检查装置，上述检查夹具能避免因毛刺的干扰而导致组装效率降低，同时能避免探针与毛刺发生摩擦，从而能稳定地进行电检查。为了实现上述目的，本技术的第一方面提供一种检查夹具，安装在用于对检查对象进行检查的检查装置中，包括：夹具头部；以及以能装卸的方式与所述夹具头部连接，并设置在所述夹具头部的同所述检查对象相反的一侧，且安装有电极的电极安装部，其中，所述夹具头部包括：具有检查侧贯通孔的检查侧支承体；与所述检查侧支承体隔开间隔配置，且具有电极侧贯通孔的电极侧支承体；将所述检查侧支承体与所述电极侧支承体连接在一起的连接构件；以及贯穿所述检查侧贯通孔和所述电极侧贯通孔、前端从所述检查侧支承体突出而能够与所述检查对象接触、后端从所述电极侧支承体突出而与所述电极接触的多根探针，所述电极侧支承体由分别形成有贯通孔的多块电极侧支承板层叠而成，所述贯通孔包括小径部和直径大于所述小径部的大径部，多块所述电极侧支承板的多个所述贯通孔构成所述电极侧贯通孔，多块所述电极侧支承板中，靠所述连接构件一侧的第一电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述连接构件一侧，该小径部在靠所述连接构件一侧具有扩口部，该扩口部的直径随着靠近所述连接构件而逐渐变大。根据上述结构，通过在第一电极侧支承板的贯通孔所包括的小径部的靠连接构件一侧(钻孔加工的后方侧)设置扩口部，能清除因钻孔加工而残留在小径部的靠连接构件一侧的毛刺，从而能避免因毛刺的干扰而导致检查夹具的组装效率降低，同时能避免探针与毛刺发生摩擦，从而能稳定地进行电检查。此外，通过将贯通孔的小径部设置在第一电极侧支承板的靠连接构件一侧，从而便于对探针在水平方向上进行定位，由此即使在对电路基板进行电检查而使探针弯曲的情况下，也能避免相邻的探针间接触的可能性，从而提高电检查的检查精度。本技术的第二方面的检查夹具是在本技术的第一方面的检查夹具的基础上，多块所述电极侧支承板中，与所述第一电极侧支承板抵接的第二电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述电极安装部一侧，该小径部在靠所述电极安装部一侧具有扩口部，该扩口部的直径随着靠近所述电极安装部而逐渐变大。根据上述结构，与上述第一电极侧支承板相同，通过在第二电极侧支承板的贯通孔的小径部的靠电极安装部一侧(钻孔加工的后方侧)设置扩口部，能清除因钻孔加工而残留在小径部的靠电极安装部一侧的毛刺，从而能避免因毛刺的干扰而导致检查夹具的组装效率降低，同时能避免探针与毛刺发生摩擦，从而能稳定地进行电检查。此外，通过将第二电极侧支承板的贯通孔的大径部设置在靠第一电极侧支承板一侧，将小径部设置在靠电极安装部一侧，从而能使第一电极侧支承板的大径部与第二电极侧支承板的大径部相接，以保证探针在电极侧支承体的贯通孔中具有充分的空间，由此即使在对电路基板进行电检查而使探针弯曲的情况下，也能避免探针与上述贯通孔的壁面接触的可能性，从而提高电检查的检查精度。本技术的第三方面的检查夹具是在本技术的第二方面的检查夹具的基础上，所述扩口部的最小直径等于所述小径部的直径，所述扩口部的最大直径小于所述大径部的直径。根据上述结构，通过将上述扩口部的最小直径设为等于上述小径部的直径，将上述扩口部的最大直径设为小于上述大径部的直径，能在保证去除小径部周围的毛刺的同时避免因扩口部过大而使探针在贯通孔中较大幅度地晃动，从而降低电检查的检查精度。本技术的第四方面的检查夹具是在本技术的第二方面的检查夹具的基础上，多块所述电极侧支承板中，与所述电极安装部抵接的第三电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述电极安装部一侧，该小径部不具有扩口部。根据上述结构，通过增加电极侧支承体中的电极侧支承板的数量，能够提高电检查的检查精度。此外，通过将贯通孔的小径部设置在第三电极侧支承板的靠电极安装部一侧，便于对探针在水平方向上进行定位，能够提高从所述电极侧支承体突出的多根探针后端与所述电极的接触精度，从而提高电检查的检查精度。本技术的第五方面的检查夹具是在本技术的第四方面的检查夹具的基础上，所述电极侧贯通孔是由分别形成于多块所述电极侧支承板的各所述贯通孔以沿水平方向逐一偏斜的方式层叠而成的倾斜贯通孔。根据上述结构，通过将电极侧支承板的各贯通孔以沿水平方向逐一偏斜的方式层叠形成倾斜贯通孔，从而使探针在该倾斜贯通孔中倾斜放置，从而提高电检查的检查精度。本技术的第六方面的检查夹具是在本技术的第一方面的检查夹具的基础上，所述检查侧支承体由多块检查侧支承板层叠而成。根据上述结构，通过使检查侧支承体由多块检查侧支承板层叠而成，能够提高电检查的检查精度。本技术的第七方面的检查夹具是在本技术的第六方面的检查夹具的基础上，所述检查侧贯通孔是倾斜贯通孔。根据上述结构，由于检查侧支承体的贯通孔也形成为倾斜贯通孔，因此该检查侧支承体与电极侧支承体的贯通孔均倾斜，能将探针倾斜放置，从而提高电检查的检查精度。本技术的第八方面的检查夹具是在本技术的第一方面的检查夹具的基础上，所述检查对象是电路基板。根据上述结构，能够使用检查夹具对电路基板进行检查。本技术的第九方面的检查夹具是在本技术的第一方面至第八方面中的任一方面的检查夹具的基础上，所述检查侧支承体与所述电极侧支承体平行配置，多根所述探针以相对于所述检查侧支承体和所述电极侧支承体倾斜的方式平行配置。根据上述结构，通过将检查侧支承体和电极侧支承体平行配置，从而能使各支承板的贯通孔层叠而形成沿竖直方向连续的贯通孔。通过使多根探针相对于检查侧支承体和电极侧支承体倾斜且平行地放置，能使多根探针的一端的露出量相同，从而能使多根探针的一端更可靠地与检查对象接触，并能提高电检查的检查精度。本技术的第十方面提供一种检查夹具，包括：所述第一方面至第九方面中的任一方面所述的检查夹本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查夹具，安装在用于对检查对象进行检查的检查装置中，包括：夹具头部；以及以能装卸的方式与所述夹具头部连接，并设置在所述夹具头部的同所述检查对象相反的一侧，且安装有电极的电极安装部，其中，所述夹具头部包括：具有检查侧贯通孔的检查侧支承体；与所述检查侧支承体隔开间隔配置，且具有电极侧贯通孔的电极侧支承体；将所述检查侧支承体与所述电极侧支承体连接在一起的连接构件；以及贯穿所述检查侧贯通孔和所述电极侧贯通孔、前端从所述检查侧支承体突出而能够与所述检查对象接触、后端从所述电极侧支承体突出而与所述电极接触的多根探针，所述检查夹具的特征在于，所述电极侧支承体由分别形成有贯通孔的多块电极侧支承板层叠而成，所述贯通孔包括小径部和直径大于所述小径部的大径部，多块所述电极侧支承板的多个所述贯通孔构成所述电极侧贯通孔，多块所述电极侧支承板中，靠所述连接构件一侧的第一电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述连接构件一侧，该小径部在靠所述连接构件一侧具有扩口部，该扩口部的直径随着靠近所述连接构件而逐渐变大。

【技术特征摘要】
1.一种检查夹具，安装在用于对检查对象进行检查的检查装置中，包括：夹具头部；以及以能装卸的方式与所述夹具头部连接，并设置在所述夹具头部的同所述检查对象相反的一侧，且安装有电极的电极安装部，其中，所述夹具头部包括：具有检查侧贯通孔的检查侧支承体；与所述检查侧支承体隔开间隔配置，且具有电极侧贯通孔的电极侧支承体；将所述检查侧支承体与所述电极侧支承体连接在一起的连接构件；以及贯穿所述检查侧贯通孔和所述电极侧贯通孔、前端从所述检查侧支承体突出而能够与所述检查对象接触、后端从所述电极侧支承体突出而与所述电极接触的多根探针，所述检查夹具的特征在于，所述电极侧支承体由分别形成有贯通孔的多块电极侧支承板层叠而成，所述贯通孔包括小径部和直径大于所述小径部的大径部，多块所述电极侧支承板的多个所述贯通孔构成所述电极侧贯通孔，多块所述电极侧支承板中，靠所述连接构件一侧的第一电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述连接构件一侧，该小径部在靠所述连接构件一侧具有扩口部，该扩口部的直径随着靠近所述连接构件而逐渐变大。2.如权利要求1所述的检查夹具，其特征在于，多块所述电极侧支承板中，与所述第一电极侧支承板抵接的第二电极侧支承板的贯通孔的小径部比大径部靠所述电极安装部一侧，该小径部在靠所述电极安装部一侧具有扩口部，该扩口部的直径随着靠近所述电极安装部而逐渐变大。3.如权利要求2所述的检查夹具，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：木津卓也，李俊华，何幼峰，
申请(专利权)人：日本电产理德机器装置浙江有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33