The invention discloses a workpiece surface defect detection method and system, the method includes: according to the characteristics of the workpiece image texture cycle to be measured, the measured workpiece image segmentation by unit atlas to be tested; respectively, each of the measured concentration of tested unit map units were compared with the corresponding the preset standard unit map, get the defective unit atlas measurement unit atlas corresponding to the question; to mosaic the defective cell atlas, the corresponding image mosaic; to detect the defects of the mosaic image, get the workpiece surface defect information corresponding. Workpiece surface defect detection method and system are disclosed, will be reasonable division of the workpiece image, using the comparison chart and the default standard unit map unit to be tested, get the defect unit map, then splicing defect unit map, finally get the defect information of the workpiece. With the use of smaller unit diagrams, the processing speed of the industrial control machine is accelerated and the speed of defect detection is improved.
【技术实现步骤摘要】
一种工件表面缺陷检测方法及系统
本专利技术涉及自动化外观检测领域,特别涉及一种工件表面缺陷检测方法及系统。
技术介绍
在自动化外观检测领域中,通常使用线阵电荷耦合器件(CCD)相机对工件进行拍摄扫描。但当工件尺寸较大时,线阵CCD相机拍摄的图像分辨率极高,大小能够达到几百兆,此时图像的数据过于庞大,导致工控机自动化检测的处理速度变慢,满足不了自动化外观缺陷检测的速度要求。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种工件表面缺陷检测方法及系统,能够提高对工件表面缺陷的检测速度。其具体方案如下:一种工件表面缺陷检测方法,包括:根据待测工件图像的纹理周期特性,对所述待测工件图像进行分割,得到待测单元图集;分别将所述待测单元图集中的每张待测单元图与相应的预设标准单元图进行比对,得到与所述待测单元图集对应的缺陷单元图集;对所述缺陷单元图集进行拼接,得到相应的拼接图像;对所述拼接图像上的缺陷进行检测,得到相应的工件表面缺陷信息。优选地,所述根据待测工件图像的纹理周期特性,对所述待测工件图像进行分割,得到待测单元图集的过程,包括:根据所述纹理周期特性,获取所述待测工件图像的重复纹理单元的单元特征;根据所述单元特征与模板匹配算法,对所述待测工件图像进行分割,得到所述待测单元图集。优选地,所述根据所述纹理周期特性,获取所述待测工件图像的重复纹理单元的单元特征的过程,包括:获取所述重复纹理单元的大小信息;在所述重复纹理单元上添加标识位,以获取所述纹理单元的位置信息;相应地,所述根据所述单元特征与模板匹配算法,对所述待测工件图像进行分割,得到所述待测单元图集的过程,包括: ...
【技术保护点】
一种工件表面缺陷检测方法,其特征在于,包括:根据待测工件图像的纹理周期特性,对所述待测工件图像进行分割,得到待测单元图集;分别将所述待测单元图集中的每张待测单元图与相应的预设标准单元图进行比对,得到与所述待测单元图集对应的缺陷单元图集;对所述缺陷单元图集进行拼接,得到相应的拼接图像;对所述拼接图像上的缺陷进行检测,得到相应的工件表面缺陷信息。
【技术特征摘要】
1.一种工件表面缺陷检测方法,其特征在于,包括:根据待测工件图像的纹理周期特性,对所述待测工件图像进行分割,得到待测单元图集;分别将所述待测单元图集中的每张待测单元图与相应的预设标准单元图进行比对,得到与所述待测单元图集对应的缺陷单元图集;对所述缺陷单元图集进行拼接,得到相应的拼接图像;对所述拼接图像上的缺陷进行检测,得到相应的工件表面缺陷信息。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据待测工件图像的纹理周期特性,对所述待测工件图像进行分割,得到待测单元图集的过程,包括:根据所述纹理周期特性,获取所述待测工件图像的重复纹理单元的单元特征;根据所述单元特征与模板匹配算法,对所述待测工件图像进行分割,得到所述待测单元图集。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述纹理周期特性,获取所述待测工件图像的重复纹理单元的单元特征的过程,包括:获取所述重复纹理单元的大小信息;在所述重复纹理单元上添加标识位,以获取所述纹理单元的位置信息;相应地,所述根据所述单元特征与模板匹配算法,对所述待测工件图像进行分割,得到所述待测单元图集的过程,包括:根据所述模板匹配算法,对所述待测工件图像进行位置校正,得到水平待测工件图像;根据所述大小信息与所述位置信息,对所述水平待测工件图像进行分割,得到所述待测单元图集。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述待测单元图集中的任一张待测单元图与相应的预设标准单元图进行比对的过程,包括:分别对该待测单元图与相应的预设标准单元图进行二值化处理,得到对应的待测二值化结果与标准二值化结果;利用所述待测二值化结果与所述标准二值化结果进行差值运算,得到差值图像;判断所述差值图像中像素值是否超过预设像素阈值,如果是,则将所述差值图像中,像素值超过所述预设像素阈值的部分确定为缺陷部分,得到相应的缺陷单元图。5.根据权利要求1所述的方...
【专利技术属性】
技术研发人员:尹志锋,张平,张美杰,张明杰,
申请(专利权)人:广东工业大学,
类型:发明
国别省市:广东,44
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