一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置，包括载物台、待检测产品、条状光源、摄像头、半球形透光罩、封闭外壳及计算机，所述待检测产品放置在载物台上，所述待检测产品及载物台内置在半球形透光罩内，所述半球形透光罩位于封闭外壳内，所述摄像头安装在半球形透光罩的内侧，所述条状光源有多个，分别设置在封闭外壳内，且位于半球形透光罩外，多个条状光源间隔距离相等，所述条状光源打光方向朝向封闭外壳内侧，所述半球形透光罩由粗糙的透光材料制成，所述计算机分别与摄像头及条状光源连接。

【技术实现步骤摘要】
一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置
本技术涉及精密物体检测，具体涉及一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置。
技术介绍
制造业的飞速发展，对产品的检测任务提出了更高的要求，传统的人工手段已经无法满足大批量产品的高精度、快速甚至实时动态的检测要求。机器视觉技术以数字图像作为获取信息的手段，与计算机图形学、自动化技术等相关领域紧密结合，很适合对产品表面进行缺陷检测。目前，大部分工业产品表面缺陷主要包括凹痕、条痕、裂纹、龟裂、色斑等。一般的视觉检测系统的光源会在产品表面产生强烈的反光，即高光部分，这个问题对后续的图像环节有较大影响，会使得缺陷的检测率大大降低。
技术实现思路
为了克服现有技术存在的缺点与不足，本技术提供一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置。本技术采用如下技术方案：一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置，包括摄像头、载物台、条状光源及用于调节每个条状光源光照强度使摄像机获得待检测产品各方向进光量相同及接收摄像头采集图像判断缺陷情况的计算机，还包括待检测产品、半球形透光罩及封闭外壳，所述待检测产品放置在载物台上，所述待检测产品及载物台内置在半球形透光罩内，所述半球形透光罩本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置，包括摄像头、待检测产品、载物台、条状光源及用于调节每个条状光源光照强度使摄像机获得待检测产品各方向进光量相同及同时接收摄像头采集图像判断缺陷情况的计算机，其特征在于，还包括半球形透光罩及封闭外壳，所述待检测产品放置在载物台上，所述待检测产品及载物台内置在半球形透光罩内，所述半球形透光罩位于封闭外壳内，所述摄像头安装在半球形透光罩的内侧，所述条状光源有多个，分别设置在封闭外壳内，且位于半球形透光罩外，多个条状光源间隔距离相等，所述条状光源打光方向朝向封闭外壳内侧，所述半球形透光罩由粗糙的透光材料制成；所述计算机分别与摄像头及条状光源连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置，包括摄像头、待检测产品、载物台、条状光源及用于调节每个条状光源光照强度使摄像机获得待检测产品各方向进光量相同及同时接收摄像头采集图像判断缺陷情况的计算机，其特征在于，还包括半球形透光罩及封闭外壳，所述待检测产品放置在载物台上，所述待检测产品及载物台内置在半球形透光罩内，所述半球形透光罩位于封闭外壳内，所述摄像头安装在半球形透光罩的内侧，所述条状光源有多个，分别设置在封闭外壳内，且位于半球形透光罩外，多个条状光源间隔距离相等，所述条状光源打光方向朝向封闭外壳内侧，所述半球形透光罩由粗糙的透光材料制成；所述计算机分别与摄像头及条状光源连接。2.根据权利要求1所述的缺...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜娟，陈芳，黄涛，胡跃明，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：新型
国别省市：广东,44