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本实用新型公开了一种用于表面光滑高反光物体的缺陷检测装置，包括载物台、待检测产品、条状光源、摄像头、半球形透光罩、封闭外壳及计算机，所述待检测产品放置在载物台上，所述待检测产品及载物台内置在半球形透光罩内，所述半球形透光罩位于封闭外壳内，所...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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