多晶硅片水基清洗剂制造技术

技术编号:1691807 阅读:241 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开一种多晶硅片水基清洗剂,是浅黄色透明液体,有如下组分和重量百分配比:表面活性剂20~40、溶剂5~15、光亮剂10~20、分散剂(TD-1、TD-2)10~18、pH调节剂15~20、去离子水30~40。是利用表面活性剂的复配性能,提高了表面去污力及保持清洁度的持续性,同时可使硅片洗后无水痕,更加光亮,对于多晶硅片等物料具有良好的清洁效果,并且提高了清洗速度和耐用性能。配制浓度低、用料少,不仅降低了用户的使用成本,还减少了污水排放,达到了节能减排的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种硅片超声波清洗剂,尤其是一种可提高去垢能力、清洗速 度以及耐用性能的多晶硅片水基清洗剂。技术背景-硅片首先是将硅棒切割成片状,经过研磨、抛光、腐蚀等工序,以获得平 整光洁的表面,然后再经过清洗、氧化、光刻、外延生长、固态扩散等复杂的 加工过程,才能形成半导体材料。其中的清洗主要是去除切割过程中产生的沙 粒、残留的水溶性线切割悬浮液、金属离子、指纹等,清洗效果将直接影响硅 片的质量,必需满足除垢彻底、无腐蚀氧化、无残留等技术要求。目前,随着 太阳能电池的日益增长率,清洗液的需求量也在逐年递增,但是,迄今为止还 没有专用于多晶硅片的超声波清洗液。现有清洗液存在着去垢能力差、清洗速 度慢以及耐用性能不强的缺点,导致作业用清洗剂浓度高、用量大,直接提高 了生产成本,同时换槽频繁、次数多,增加了污水排放量,不利于环境保护。
技术实现思路
-本专利技术是为了解决现有技术所存在的上述技术问题,提供一种可提高去垢 能力、清洗速度以及耐用性能的多晶硅片水基清洗剂。本专利技术的技术解决方案是 一种多晶硅片水基清洗剂,其特征在于是浅黄 色透明液体,有如下组分和重量百分配比表面活性剂 2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多晶硅片水基清洗剂,其特征在于是浅黄色透明液体,有如下组分和重量百分配比:    表面活性剂  20~40    溶剂  5~15    光亮剂  10~20    分散剂  10~18    PH调节剂  15~20    去离子水  30~40。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张魁兰
申请(专利权)人:大连三达奥克化学股份有限公司
类型:发明
国别省市:91[中国|大连]

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