【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种硅片超声波清洗剂,尤其是一种可提高去垢能力、清洗速 度以及耐用性能的多晶硅片水基清洗剂。技术背景-硅片首先是将硅棒切割成片状,经过研磨、抛光、腐蚀等工序,以获得平 整光洁的表面,然后再经过清洗、氧化、光刻、外延生长、固态扩散等复杂的 加工过程,才能形成半导体材料。其中的清洗主要是去除切割过程中产生的沙 粒、残留的水溶性线切割悬浮液、金属离子、指纹等,清洗效果将直接影响硅 片的质量,必需满足除垢彻底、无腐蚀氧化、无残留等技术要求。目前,随着 太阳能电池的日益增长率,清洗液的需求量也在逐年递增,但是,迄今为止还 没有专用于多晶硅片的超声波清洗液。现有清洗液存在着去垢能力差、清洗速 度慢以及耐用性能不强的缺点,导致作业用清洗剂浓度高、用量大,直接提高 了生产成本,同时换槽频繁、次数多,增加了污水排放量,不利于环境保护。
技术实现思路
-本专利技术是为了解决现有技术所存在的上述技术问题,提供一种可提高去垢 能力、清洗速度以及耐用性能的多晶硅片水基清洗剂。本专利技术的技术解决方案是 一种多晶硅片水基清洗剂,其特征在于是浅黄 色透明液体,有如下组分和重量百 ...
【技术保护点】
一种多晶硅片水基清洗剂,其特征在于是浅黄色透明液体,有如下组分和重量百分配比: 表面活性剂 20~40 溶剂 5~15 光亮剂 10~20 分散剂 10~18 PH调节剂 15~20 去离子水 30~40。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张魁兰,
申请(专利权)人:大连三达奥克化学股份有限公司,
类型:发明
国别省市:91[中国|大连]
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