基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置及该测量装置制造方法及图纸

基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置及该测量装置，所述采集装置包括脉冲激发光源，样品池，光线收集器，荧光收集系统和数据采集系统。数据采集系统包括频率计数卡和一台计算机，数据采集系统包括频率计数卡，其连接于脉冲激发光源（1）的信号同步输出引脚，并与光线收集器（3）的光电检测器的信号输出引脚连接，在数据采集装置中，使用数据采集系统，即用频率计数卡连接于脉冲激发光源的信号同步输出引脚，并与光线收集器的光电检测器的信号输出引脚连接，以此，将两个信号采集以获得所述时间差，以便可以用于激发态寿命测量。

【技术实现步骤摘要】
基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置及该测量装置
本技术属于激发态寿命测量
，具体地说，涉及一种基于频率计数卡的激发态寿命测量方法及装置。
技术介绍
在科研领域中，样品的激发态寿命测量是研究各种分子或材料的物质结构及物理化学性质等的重要手段之一；尤其是在生命科学和材料科学等领域，对所研究样品进行荧光寿命测量是该领域科学研究中最常规的检测方法。目前，测量样品激发态寿命（包括荧光或磷光寿命）的方法主要有以下几种：1）采用时间相关的单光子计数技术（TCSPC），结合专门的TCSPC卡和高灵敏光电检测器即可测量荧光寿命；2）采用门控光子计数技术，反复测量每个激发脉冲后不同延迟时间、相同时间宽度（门宽）内的荧光信号强度，则可获得其荧光衰减曲线；3）采用高速光电探测器并结合示波器可直接采集荧光信号的衰减曲线。在上述3种方法中，第一种方法（即单光子计数技术）具有很高的荧光检测灵敏度，且其时间分辨也比较高（可至100皮秒），因此很适合于测量时间尺度较短（如百皮秒到百纳秒级）的荧光寿命。然而，目前市场上基于这种方法的荧光寿命测量装置都需要购买非常昂贵的设备，如专用的TCSPC卡及其配套软本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置，所述装置包括脉冲激发光源（1）、样品池（2）、荧光收集系统（4），所述激发光源（1）的发光口及荧光收集系统朝向样品池，其特征在于：还包括数据采集系统，所述数据采集系统包括频率计数卡，其连接于脉冲激发光源（1）的信号同步输出引脚，并与光线收集器（3）的光电检测器的信号输出引脚连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置，所述装置包括脉冲激发光源（1）、样品池（2）、荧光收集系统（4），所述激发光源（1）的发光口及荧光收集系统朝向样品池，其特征在于：还包括数据采集系统，所述数据采集系统包括频率计数卡，其连接于脉冲激发光源（1）的信号同步输出引脚，并与光线收集器（3）的光电检测器的信号输出引脚连接。2.根据权利要求1所述的基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置，其特征在于，所述装置还包括光线收集器，所述激发光源（1）的发光口与样品池（2）中心和光线收集器（3）呈一直线。3.根据权利要求1所述的基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置，其特征在于：所述荧光收集系统（4）包括依次纵向排列放置的下述各组件：收光透镜（5）、陷波滤光片（6）、...

【专利技术属性】
技术研发人员：金盛烨，
申请(专利权)人：大连创锐光谱科技有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁,21