一种高速荧光显微成像系统技术方案

技术编号:41271574 阅读:3 留言:0更新日期:2024-05-11 09:25
本技术涉及荧光成像技术领域,提供一种高速荧光显微成像系统,包括激光发射单元、第一笼式立方体、第一光路探测单元、第二光路探测单元和显微镜;所述激光发射单元,用于发射激光;所述第一笼式立方体内部安装有分束片;所述第一笼式立方体接收激光发射单元的激光,并分束成第一光束和第二光束;所述第一光束经过第一光路探测单元并经过显微镜汇聚于样品表面;样品产生第一荧光信号后,第一光路探测单元采集第一荧光信号;所述第二光束经过第二光路探测单元并经过显微镜汇聚于样品表面;样品产生第二荧光信号后,第二光路探测单元采集第二荧光信号。本技术能在不增加激光能量的情况下,降低测试时间并保证测试效果,从而提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及荧光成像,尤其涉及一种高速荧光显微成像系统


技术介绍

1、单光子荧光显微成像技术,主要原理是通过分子吸收光子能量,跃迁至更高的能级,然后在更高能级上以光子辐射的方式释放能量,产生荧光。利用单分子荧光的这一性质,通过采集系统收集产生的荧光信号,可以获取物质的荧光信息。

2、在传统的荧光显微成像系统中,只有一个光路探测单元,主要通过脉冲激光器发射脉冲激光,光斑经过扫描透镜和显微镜聚焦于样品表面,同时系统中包含扫描振镜,通过扫描振镜x和y拨片的摆动将激光打到样品不同位置,利用探测器获取产生的荧光信号,从而实现荧光显微成像。

3、若样品的荧光信号较弱时,荧光显微成像技术就会带来不便。目前通常采用两种方式解决:一是增加激光能量,加强产生的荧光强度;但是,增加激光能量容易将样品打坏。二是增加探测器的采集时间来获取更多的荧光信号;但是,增加探测器的采集时间会降低效率。


技术实现思路

1、本技术主要解决传统的荧光显微成像系统中,若样品的荧光信号较弱时,荧光显微成像技术就会带来不便,成像效果不好,影响测试效率等技术问题,提出一种高速荧光显微成像系统,能够在不增加激光能量的情况下,降低测试时间并保证测试效果,从而提高测试效率和测试速度。

2、本技术提供了一种高速荧光显微成像系统,包括:激光发射单元、第一笼式立方体、第一光路探测单元、第二光路探测单元和显微镜;

3、所述激光发射单元,用于发射激光;

4、所述第一笼式立方体内部安装有分束片;所述第一笼式立方体接收激光发射单元的激光,并分束成第一光束和第二光束;

5、所述第一光束经过第一光路探测单元并经过显微镜汇聚于样品表面;样品产生第一荧光信号后,第一光路探测单元采集第一荧光信号;

6、所述第二光束经过第二光路探测单元并经过显微镜汇聚于样品表面;样品产生第二荧光信号后,第二光路探测单元采集第二荧光信号。

7、优选的,所述激光发射单元、第一笼式立方体、第一光路探测单元、第二光路探测单元和显微镜分别置于光学平台上。

8、优选的,所述激光发射单元包括激光器;

9、所述激光器采用脉冲激光器,频率0-100mhz可调节。

10、优选的,所述激光发射单元与第一笼式立方体之间布设有第一反射镜和光阑;

11、激光发射单元发射的激光经第一反射镜反射至光阑后,激光照射到第一笼式立方体的分束片。

12、优选的,所述第一光路探测单元,包括:第一扫描振镜、第一扫描透镜及第一探测器;

13、所述第一光束经过第一扫描振镜后再经过第一扫描透镜,最后经过显微镜汇聚于样品表面;其中,所述第一扫描透镜的一端通过一个或多个套筒安装在第一扫描振镜上,另一端通过一个或多个套筒安装在显微镜上;

14、样品产生第一荧光信号后,第一荧光信号经过第一扫描透镜、第一扫描振镜、第一笼式立方体,并被第一探测器接收。

15、优选的,所述第一笼式立方体和第一探测器之间布设有第一滤光片、第一小孔和第一透镜。

16、优选的,所述第二光路探测单元,包括:第二反射镜、第三反射镜、第四反射镜、第二笼式立方体、第二扫描振镜、第二扫描透镜及第二探测器;

17、所述第二光束依次经过第二反射镜、第三反射镜、第四反射镜、第二笼式立方体、第二扫描振镜、第二扫描透镜,最后经过显微镜汇聚于样品表面;其中,所述第二笼式立方体内部安装有反射片;所述第二扫描透镜的一端通过一个或多个套筒安装在第二扫描振镜上,另一端通过一个或多个套筒安装在显微镜上;

18、样品产生第二荧光信号后,第二荧光信号依次经过第二扫描透镜、第二扫描振镜、第二笼式立方体,并被第二探测器接收。

19、优选的,所述第二笼式立方体和第二探测器之间布设有第二滤光片、第二小孔、第二透镜。

20、优选的,所述第一扫描透镜、第二扫描透镜允许通过波长为400-800nm,焦距为80mm。

21、优选的,所述第一探测器、第二探测器的波长为400-1000nm,有效探测面积为100微米。

22、本技术提供的一种高速荧光显微成像系统,设置两个光路探测单元(第一光路探测单元、第二光路探测单元),第一光路探测单元、第二光路探测单元同时工作,同样大小的样品测试区域可以分为两部分同步探测;通过第一探测器获取第一荧光信号,通过第二探测器获取第二荧光信号,两部分的荧光信号可以进行整合,从而获取整个样品区域的荧光成像信息。本技术能够在不增加激光能量的情况下,降低测试时间并保证测试效果,从而提高测试效率和测试速度。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高速荧光显微成像系统,其特征在于,包括:激光发射单元、第一笼式立方体(5)、第一光路探测单元、第二光路探测单元和显微镜(13);

2.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述激光发射单元、第一笼式立方体(5)、第一光路探测单元、第二光路探测单元和显微镜(13)分别置于光学平台(1)上。

3.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述激光发射单元包括激光器(2);

4.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述激光发射单元与第一笼式立方体(5)之间布设有第一反射镜(3)和光阑(4);

5.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第一光路探测单元,包括:第一扫描振镜(7)、第一扫描透镜(9)及第一探测器(17);

6.根据权利要求5所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第一笼式立方体(5)和第一探测器(17)之间布设有第一滤光片(14)、第一小孔(15)和第一透镜(16)。

7.根据权利要求6所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第二光路探测单元,包括:第二反射镜(18)、第三反射镜(19)、第四反射镜(20)、第二笼式立方体(21)、第二扫描振镜(23)、第二扫描透镜(25)及第二探测器(32);

8.根据权利要求7所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第二笼式立方体(21)和第二探测器(32)之间布设有第二滤光片(29)、第二小孔(30)、第二透镜(31)。

9.根据权利要求8所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第一扫描透镜(9)、第二扫描透镜(25)允许通过波长为400-800nm,焦距为80mm。

10.根据权利要求8所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第一探测器(17)、第二探测器(32)的波长为400-1000nm,有效探测面积为100微米。

...

【技术特征摘要】

1.一种高速荧光显微成像系统,其特征在于,包括:激光发射单元、第一笼式立方体(5)、第一光路探测单元、第二光路探测单元和显微镜(13);

2.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述激光发射单元、第一笼式立方体(5)、第一光路探测单元、第二光路探测单元和显微镜(13)分别置于光学平台(1)上。

3.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述激光发射单元包括激光器(2);

4.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述激光发射单元与第一笼式立方体(5)之间布设有第一反射镜(3)和光阑(4);

5.根据权利要求1所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第一光路探测单元,包括:第一扫描振镜(7)、第一扫描透镜(9)及第一探测器(17);

6.根据权利要求5所述的高速荧光显微成像系统,其特征在于,所述第一笼式立方体(5)和第一探测...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈发强
申请(专利权)人:大连创锐光谱科技有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1