一种原位微区联合分析的样品处理方法技术

本发明专利技术提供了一种实现多种原位微区测试分析联用的样品处理方法。该方法主要包括样品采集，目标定位，样品制备三个步骤组成。通过宏观及微观观察定位目标区域，然后合理地安排和统筹样品处理流程和方法，最大程度上对同一样品的同一部位进行了结构、成分、同位素等方面的原位微区测试分析，做到了多种样品破坏性及非破坏性的原位微区分析方法联用，为储层精细化描述及分析提供了可能。

A sample treatment method for in situ microregion joint analysis

The present invention provides a sample processing method for a variety of in situ microzone testing and analysis. The method consists of three steps: sample collection, target location, and sample preparation. Through macro and micro observation of the target area, and reasonable arrangement and overall sample processing procedure and method, the maximum extent of the same sample in the same position of in situ structure, composition and isotope and other aspects of the micro area test and analysis, to achieve a variety of samples in situ destruction and non destructive microanalysis combined with reservoir fine description and analysis of the potentially.

【技术实现步骤摘要】
一种原位微区联合分析的样品处理方法
本专利技术属于地质矿产普查与勘探行业，以及石油与天然气研究领域，主要涉及样品处理领域的技术。
技术介绍
在该研究领域内，目前常用的的原位微区分析方法包括激光拉曼光谱分析、激光等离子体质谱(LA-ICP-MS)、二次离子探针质谱(SIMS)、电子探针(EMPA)和扫描电镜(SEM)。每一种原位微区分析方法单独使用能够得到样品精细区域内的成分、结构、同位素组成等信息，而将多种原位微区分析手段联用，能够在同一个样品同一部位进行多种微区测试分析，大大提高分析的维度和精度，对岩石样品精细化研究具有很大的促进。专利《一种岩石样品微区圈定系统》(申请号201510591837.2)提出了一种岩石样品微区圈定系统，利用偏光显微镜、荧光显微镜、阴极发光显微镜、亮度刺眼的手电筒，以及油性笔、图像处理系统、显微镜载玻片，对岩石样品制样并在微观条件下对目的矿物进行圈定。该专利的不足是主要针对一种原位微区分析手段进行样品前处理。专利《原位微区结构分析与性质测试联合系统》(申请号200410070112.0)提出了一种将透射电子显微镜和扫描探针显微镜联用的系统，对两台仪器的部本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种原位微区联合分析的样品处理方法，包括以下步骤：a.样品采集；b.目标定位：将样品进行横切，得到含横切剖面I的样品和含横切剖面II的样品，对横切剖面I和II上的微区位置进行标记，然后将含横切剖面I的样品抛光制成含标记的微区位置的薄片I，进行显微观察，从而厘定成岩作用的类型和期次，同时定位部位进行标记；c.样品分析：根据薄片I上的标记部位进行取样，进行碳氧同位素分析；将含横切剖面II的样品制成薄片II，薄片II在含横切剖面II的样品中的位置与薄片I在含横切剖面I的样品中的位置相同，且薄片II与I大小相同，但厚度不同；对薄片II进行非破环性原位微区分析，将薄片II进行抛光，然后进行破坏性分析技术...

【技术特征摘要】
1.一种原位微区联合分析的样品处理方法，包括以下步骤：a.样品采集；b.目标定位：将样品进行横切，得到含横切剖面I的样品和含横切剖面II的样品，对横切剖面I和II上的微区位置进行标记，然后将含横切剖面I的样品抛光制成含标记的微区位置的薄片I，进行显微观察，从而厘定成岩作用的类型和期次，同时定位部位进行标记；c.样品分析：根据薄片I上的标记部位进行取样，进行碳氧同位素分析；将含横切剖面II的样品制成薄片II，薄片II在含横切剖面II的样品中的位置与薄片I在含横切剖面I的样品中的位置相同，且薄片II与I大小相同，但厚度不同；对薄片II进行非破环性原位微区分析，将薄片II进行抛光，然后进行破坏性分析技术。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述薄片的大小为50×25mm2，厚度为0.03-0.06mm。3.根据权利要求1或...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯菊芳，田海芹，朱东亚，李双建，林娟华，朱虹，孙炜，张荣强，袁玉松，李天义，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11