一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其检测的隐裂检出率达到95％以上，使得后续组装的光伏组件的成品质量稳定。其包括红外相机、红外光源，其还包括底部挡板，红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方，红外光源位于所述红外相机的一侧布置，红外光源斜向布置，所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α，α的取值范围为12°～20°，镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置，其还包括表面挡板，表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置，所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内。

Optical detection device and detection method for detecting hidden cracks in solar silicon wafer

The invention provides an optical detecting device for detecting the hidden crack of the solar silicon wafer, and the detection rate of the detected cracks reaches more than 95%, so that the quality of the finished product of the assembled photovoltaic module is stable. It includes infrared camera, infrared light source, which also includes a bottom plate, the lens arrangement of infrared camera is at the top to the bottom plate, the infrared light source is located on the side of the layout of infrared camera, infrared light is obliquely arranged, the mirror head perpendicular infrared light source and the infrared camera angle alpha value the range of alpha is 12 DEG to 20 DEG, the lens perpendicular to be detected and solar wafers on the upper surface of the intersection set intersection A, disposed on the side of the incident light and the infrared light source to be detected on the surface of the solar silicon wafer B is located in the intersection of the intersection of A, which also includes surface baffle, arrangement of surface vertical baffle in the detection of solar silicon wafer, the surface of the baffle is arranged on the intersection between A and B formed by the intersection area.

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置及检测方法
本专利技术涉及产品的缺陷检测的
，具体为一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，本专利技术还提供了对应的检测方法。
技术介绍
太阳能硅片分选机在太阳能行业有着广泛的应用。由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生破裂。晶体硅组件生产的工艺流程长，许多环节都可能造成电池片隐裂。隐裂直接影响光伏组件性能，也是电池片生产中需要重点检测分选的缺陷之一。现有的分选机大多使用红外线阵相机+近红外光源打背光的方式进行检测，大的隐裂可以检测出来，但小的隐裂基本看不到，检出率只有70％左右，仍有大量有隐裂的太阳能硅片被用于组装光伏组件，其使得光伏组件的成品质量不稳定。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提供了一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其检测的隐裂检出率达到95％以上，使得后续组装的光伏组件的成品质量稳定。一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其特征在于：其包括红外相机、红外光源，其还包括底部挡板，所述红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方，所述红外光源位于所述红外相机的一侧布置，所述红外光源斜向布置，所述红外光源和所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其特征在于：其包括红外相机、红外光源，其还包括底部挡板，所述红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方，所述红外光源位于所述红外相机的一侧布置，所述红外光源斜向布置，所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α，所述α的取值范围为12°～20°，所述镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,所述红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置，其还包括表面挡板，表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置，所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内，所述红外相机具体为1K大像元、大靶面的红外线阵相机...

【技术特征摘要】
1.一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其特征在于：其包括红外相机、红外光源，其还包括底部挡板，所述红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方，所述红外光源位于所述红外相机的一侧布置，所述红外光源斜向布置，所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α，所述α的取值范围为12°～20°，所述镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,所述红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置，其还包括表面挡板，表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置，所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内，所述红外相机具体为1K大像元、大靶面的红外线阵相机，所述红外光源具体为1300nm波长的大功率LED红外光源。2.如权利要求1所述的一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其特征在于：所述底部挡板具体为V型挡板，所述V型挡板上端口不与待检测太阳能硅片的背面接触、不用于支撑，所述V型挡板用于消除表面红外光源的反射，使得图像背景均匀。3.如权利要求1所述的一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置，其特征在于：所述V型挡板具体为两块相同的平板拼合形成，两块相同...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛秦军，杨广，杨鹏，
申请(专利权)人：苏州天准科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32