The present invention provides a microwave monolithic circuit immunity test fixture for clamping the microwave monolithic circuit and immunity test, which comprises a base body, PCB circuit board, the positioning block and the metal lid, remove the connection of the base main body arranged on the metal lid and for pressure pressure on the fixed block microwave monolithic integrated circuit, the positioning block is provided with a positioning hole positioning circuit for microwave monolithic microwave monolithic circuit, the pressing block is provided with a first electromagnetic and microwave monolithic integrated circuit compatible with the corresponding signal radiation signal hole, metal box cover is provided with second electromagnetic compatible signal corresponding to a first electromagnetic radiation signal hole compatible signal radiation signal hole, PCB circuit board electrically connected with the power supply. The microwave monolithic circuit anti-interference test fixture provided by this invention has the advantages of simple and accurate positioning, convenient installation, and can effectively eliminate the test noise of line coupling signal, realize the electromagnetic radiation immunity test of the microwave monolithic circuit, and improve the accuracy of the test.
【技术实现步骤摘要】
微波单片电路抗扰度测试夹具
本专利技术属于电磁辐射抗扰度测试装置
,更具体地说,是涉及一种微波单片电路抗扰度测试夹具。
技术介绍
电磁兼容要研究和解决运行中的各种电子电气设备对周围的设备和人员产生的电磁干扰,以及被周围设备产生的电磁干扰所影响的问题,应用于国防、航天、运输、工业以及民用等电子行业。微波单片电路(微波单片集成电路)作为通信系统中重要的元器件,广泛应用于无线通信、移动电话、卫星通信网、全球定位系统(GPS)、直播卫星接收(DBS)、汽车和交通管制所用的微波毫米波自动防撞系统等。随着电磁环境的日趋发展和当代电子设备复杂程度的增加,通信系统中的微波单片电路不可避免地暴露于各种复杂的电磁辐射环境中,辐射环境中的电场或磁场将对电子器件的功能和性能造成暂时性失灵或灾难性失效。为检验微波单片电路在电磁辐射环境中使用的可靠性,需要开展微波单片电路电磁辐射抗扰度测试工作。通过检测微波单片电路对于周围电磁环境的抗干扰能力,可以指导并提升微波单片电路的电磁兼容性设计,并在使用中采取必要的电磁兼容防护措施。因此封装微波单片电路电磁辐射抗扰度测试是研究微波单片电路可靠性的重要试验。微波单片电路电磁辐射抗扰度试验首先采用函数发生器、微波信号发生器等仪器配合产生满足试验要求的电磁辐射信号,再用相匹配的功率放大器进行功率放大,通过耦合器等由辐射天线辐射,开阔场、GTEM室或混响室内形成试验所需的电磁辐射场。然后根据微波单片电路的既定功能设计搭建模拟实际功能及布局的试验电路。当微波单片电路暴露在电磁辐射场中时,通过监测被测件的微波特性参数或直流参数等敏感参数的变化来确定 ...
【技术保护点】
微波单片电路抗扰度测试夹具,用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试,其特征在于:包括底座主体、设置在所述底座主体上并用于放置微波单片电路的PCB电路板、设置在所述PCB电路板上并套装在所述微波单片电路外周的定位块、可拆卸连接在所述底座主体上的金属盒盖、设置在所述金属盒盖上的并用于压靠固定所述微波单片电路的压块,所述定位块上设有用于定位所述微波单片电路的微波单片电路定位孔,所述压块上设有与所述微波单片电路对应的第一电磁兼容信号辐射信号孔,所述金属盒盖上设有与所述第一电磁兼容信号辐射信号孔对应的第二电磁兼容信号辐射信号孔,所述PCB电路板与电源电性连接。
【技术特征摘要】
1.微波单片电路抗扰度测试夹具,用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试,其特征在于:包括底座主体、设置在所述底座主体上并用于放置微波单片电路的PCB电路板、设置在所述PCB电路板上并套装在所述微波单片电路外周的定位块、可拆卸连接在所述底座主体上的金属盒盖、设置在所述金属盒盖上的并用于压靠固定所述微波单片电路的压块,所述定位块上设有用于定位所述微波单片电路的微波单片电路定位孔,所述压块上设有与所述微波单片电路对应的第一电磁兼容信号辐射信号孔,所述金属盒盖上设有与所述第一电磁兼容信号辐射信号孔对应的第二电磁兼容信号辐射信号孔,所述PCB电路板与电源电性连接。2.如权利要求1所述的微波单片电路抗扰度测试夹具,其特征在于:所述压块与所述金属盒盖滑动连接,所述金属盒盖上设有用于限位所述压块的限位件,所述金属盒盖与所述压块之间设有用于为所述压块提供弹性力的弹性件。3.如权利要求2所述的微波单片电路抗扰度测试夹具,其特征在于:所述限位件为限位螺钉。4....
【专利技术属性】
技术研发人员:迟雷,高金环,黄杰,杨洁,张希军,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第十三研究所,
类型:发明
国别省市:河北,13
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