微波单片电路抗扰度测试夹具制造技术

技术编号:16604055 阅读:39 留言:0更新日期:2017-11-22 14:12
本发明专利技术提供了一种微波单片电路抗扰度测试夹具,用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试,包括底座主体、PCB电路板、定位块、可拆卸连接在底座主体上的金属盒盖、设置在金属盒盖上的并用于压靠固定微波单片电路的压块,定位块上设有用于定位微波单片电路的微波单片电路定位孔,压块上设有与微波单片电路对应的第一电磁兼容信号辐射信号孔,金属盒盖上设有与第一电磁兼容信号辐射信号孔对应的第二电磁兼容信号辐射信号孔,PCB电路板与电源电性连接。本发明专利技术提供的微波单片电路抗扰度测试夹具,定位简单准确,安装方便,能有效消除线路耦合信号测试噪声,实现微波单片电路的电磁辐射抗扰度测试,提高测试的准确性。

Immunity test fixture for microwave monolithic circuit

The present invention provides a microwave monolithic circuit immunity test fixture for clamping the microwave monolithic circuit and immunity test, which comprises a base body, PCB circuit board, the positioning block and the metal lid, remove the connection of the base main body arranged on the metal lid and for pressure pressure on the fixed block microwave monolithic integrated circuit, the positioning block is provided with a positioning hole positioning circuit for microwave monolithic microwave monolithic circuit, the pressing block is provided with a first electromagnetic and microwave monolithic integrated circuit compatible with the corresponding signal radiation signal hole, metal box cover is provided with second electromagnetic compatible signal corresponding to a first electromagnetic radiation signal hole compatible signal radiation signal hole, PCB circuit board electrically connected with the power supply. The microwave monolithic circuit anti-interference test fixture provided by this invention has the advantages of simple and accurate positioning, convenient installation, and can effectively eliminate the test noise of line coupling signal, realize the electromagnetic radiation immunity test of the microwave monolithic circuit, and improve the accuracy of the test.

【技术实现步骤摘要】
微波单片电路抗扰度测试夹具
本专利技术属于电磁辐射抗扰度测试装置
,更具体地说,是涉及一种微波单片电路抗扰度测试夹具。
技术介绍
电磁兼容要研究和解决运行中的各种电子电气设备对周围的设备和人员产生的电磁干扰,以及被周围设备产生的电磁干扰所影响的问题,应用于国防、航天、运输、工业以及民用等电子行业。微波单片电路(微波单片集成电路)作为通信系统中重要的元器件,广泛应用于无线通信、移动电话、卫星通信网、全球定位系统(GPS)、直播卫星接收(DBS)、汽车和交通管制所用的微波毫米波自动防撞系统等。随着电磁环境的日趋发展和当代电子设备复杂程度的增加,通信系统中的微波单片电路不可避免地暴露于各种复杂的电磁辐射环境中,辐射环境中的电场或磁场将对电子器件的功能和性能造成暂时性失灵或灾难性失效。为检验微波单片电路在电磁辐射环境中使用的可靠性,需要开展微波单片电路电磁辐射抗扰度测试工作。通过检测微波单片电路对于周围电磁环境的抗干扰能力,可以指导并提升微波单片电路的电磁兼容性设计,并在使用中采取必要的电磁兼容防护措施。因此封装微波单片电路电磁辐射抗扰度测试是研究微波单片电路可靠性的重要试验。微波单片电路电磁辐射抗扰度试验首先采用函数发生器、微波信号发生器等仪器配合产生满足试验要求的电磁辐射信号,再用相匹配的功率放大器进行功率放大,通过耦合器等由辐射天线辐射,开阔场、GTEM室或混响室内形成试验所需的电磁辐射场。然后根据微波单片电路的既定功能设计搭建模拟实际功能及布局的试验电路。当微波单片电路暴露在电磁辐射场中时,通过监测被测件的微波特性参数或直流参数等敏感参数的变化来确定其工作状态,得到微波单片电路的电磁辐射抗扰度特性。QFN(方形扁平无引脚)封装呈正方形或矩形,封装底部中央位置有一个大面积裸露焊盘用来导热,围绕大焊盘的封装外围四周有实现电气连接的导电焊盘,由于QFN封装不像传统SOIC与TSOP封装那样具有鸥翼状引线,内部引脚与焊盘之间的导电路径短,自感系数以及封装体内部布线电阻很低,所以能够提供卓越的电性能,因此广泛应用于微波单片电路。QFN封装的微波单片电路进行电磁辐射抗扰度测试时,由于夹具和直流供电线路和微波线路都处于辐射场内,夹具内的线路以及直流供电线路都会有电磁信号耦合并传导进入微波单片电路。由于微波单片电路的电磁辐射抗扰度测试考察的只是微波单片电路本身对电磁辐射的敏感程度,因此线路耦合会对测试结果产生非常大的影响。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种微波单片电路抗扰度测试夹具,旨在解决现有技术中的线路耦合会对测试结果产生非常大的影响的问题。为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案是:提供一种微波单片电路抗扰度测试夹具,用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试,包括底座主体、设置在所述底座主体上并用于放置微波单片电路的PCB电路板、设置在所述PCB电路板上并套装在所述微波单片电路外周的定位块、可拆卸连接在所述底座主体上的金属盒盖、设置在所述金属盒盖上的并用于压靠固定所述微波单片电路的压块,所述定位块上设有用于定位所述微波单片电路的微波单片电路定位孔,所述压块上设有与所述微波单片电路对应的第一电磁兼容信号辐射信号孔,所述金属盒盖上设有与所述第一电磁兼容信号辐射信号孔对应的第二电磁兼容信号辐射信号孔,所述PCB电路板与电源电性连接。进一步地,所述压块与所述金属盒盖滑动连接,所述金属盒盖上设有用于限位所述压块的限位件,所述金属盒盖与所述压块之间设有用于为所述压块提供弹性力的弹性件。进一步地,所述限位件为限位螺钉。进一步地,所述弹性件为弹簧。进一步地,所述金属盒盖上设有用于安装所述弹簧的第一弹簧定位孔,所述压块上设有用于安装所述弹簧的第二弹簧定位孔。进一步地,所述金属盒盖与所述底座本体通过螺钉连接。进一步地,所述第二电磁兼容信号辐射信号孔为倒置的四棱台状通孔。进一步地,所述底座主体上设有与所述PCB电路板连接的SMA接头,所述SMA接头与电源电性连接。进一步地,所述压块上设有防转边,所述金属盒盖上设有与所述防转边配合的防转台。进一步地,所述底座主体的盒沿的周圈上设有与所述盒盖插接配合的插板。本专利技术提供的微波单片电路抗扰度测试夹具的有益效果在于:与现有技术相比,本专利技术微波单片电路抗扰度测试夹具,通过将微波单片电路安装在PCB电路板上,并通过定位块将微波单片电路定位,微波单片电路放置在微波单片电路定位孔中,定位块将微波单片电路套装固定,并通过压块将微波单片电路压靠定位,可以将微波单片电路封闭,电磁辐射信号从第一电磁兼容信号辐射信号孔和第二电磁兼容信号辐射信号孔中进行监测,使用定位简单准确,安装方便,可实时监测电磁辐射场中被测件的电磁辐射敏感电参数,并能有效消除线路耦合信号测试噪声,实现微波单片电路的电磁辐射抗扰度测试,提高测试的准确性。附图说明图1为本专利技术实施例提供的微波单片电路抗扰度测试夹具的分体结构示意图;图2为图1的主视剖视图;图3为本专利技术实施例提供的微波单片电路抗扰度测试夹具的俯视结构示意图;图4为沿图3中A-A线的剖视结构图;图5为本专利技术实施例所采用的金属盒盖的结构示意图;图6为本专利技术实施例所采用的压块的结构示意图;图7为本专利技术实施例所采用的定位块的结构示意图;图8为本专利技术实施例所采用的PCB电路板的结构示意图;图9为本专利技术实施例所采用的底座主体的结构示意图。图中、1、金属盒盖;2、压块;3、定位块;4、微波单片电路;5、底座主体;6、PCB电路板;7、SMA接头;8、限位螺钉;9、弹簧;11、SMA接头插孔;121、第一螺钉过孔;122第一螺钉安装孔;13、第二螺钉安装孔;14、定位孔;15、微波单片电路定位孔;16、第二螺钉过孔;171、第一弹簧定位孔;172、第二弹簧定位孔;181、第一电磁兼容信号辐射信号孔;182、第二电磁兼容信号辐射信号孔;19、防转边;20、欧姆线;21、未覆铜的PCB绝缘通道;22、接地覆铜区域;23、通孔;24;限位螺钉安装孔。具体实施方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。请一并参阅图1至图3,现对本专利技术提供的微波单片电路抗扰度测试夹具进本文档来自技高网
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微波单片电路抗扰度测试夹具

【技术保护点】
微波单片电路抗扰度测试夹具,用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试,其特征在于:包括底座主体、设置在所述底座主体上并用于放置微波单片电路的PCB电路板、设置在所述PCB电路板上并套装在所述微波单片电路外周的定位块、可拆卸连接在所述底座主体上的金属盒盖、设置在所述金属盒盖上的并用于压靠固定所述微波单片电路的压块,所述定位块上设有用于定位所述微波单片电路的微波单片电路定位孔,所述压块上设有与所述微波单片电路对应的第一电磁兼容信号辐射信号孔,所述金属盒盖上设有与所述第一电磁兼容信号辐射信号孔对应的第二电磁兼容信号辐射信号孔,所述PCB电路板与电源电性连接。

【技术特征摘要】
1.微波单片电路抗扰度测试夹具,用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试,其特征在于:包括底座主体、设置在所述底座主体上并用于放置微波单片电路的PCB电路板、设置在所述PCB电路板上并套装在所述微波单片电路外周的定位块、可拆卸连接在所述底座主体上的金属盒盖、设置在所述金属盒盖上的并用于压靠固定所述微波单片电路的压块,所述定位块上设有用于定位所述微波单片电路的微波单片电路定位孔,所述压块上设有与所述微波单片电路对应的第一电磁兼容信号辐射信号孔,所述金属盒盖上设有与所述第一电磁兼容信号辐射信号孔对应的第二电磁兼容信号辐射信号孔,所述PCB电路板与电源电性连接。2.如权利要求1所述的微波单片电路抗扰度测试夹具,其特征在于:所述压块与所述金属盒盖滑动连接,所述金属盒盖上设有用于限位所述压块的限位件,所述金属盒盖与所述压块之间设有用于为所述压块提供弹性力的弹性件。3.如权利要求2所述的微波单片电路抗扰度测试夹具,其特征在于:所述限位件为限位螺钉。4....

【专利技术属性】
技术研发人员:迟雷高金环黄杰杨洁张希军
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第十三研究所
类型:发明
国别省市:河北,13

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