辐射图像成像系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种辐射图像成像系统，包括：辐射成像装置；控制装置，用于控制辐射成像装置以第一扫描模式对被检物进行辐射扫描成像，以得到扫描图像，其中，在扫描图像中存在需要复检的嫌疑区域图像的情况下，控制辐射成像装置使用第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，第二扫描模式不同于第一扫描模式；以及显示装置，用于关联地显示对应于同一被检测物体的扫描图像和复检图像。由此，可以实现对复检图像进行有效的显示，方便用户的查验、浏览。

Radiation image imaging system

The utility model discloses a radiation imaging system, including radiation imaging device; control device for controlling the radiation imaging device to the first scanning mode on the object being detected by radiation imaging, to scan images, which exist in the image need to recheck the suspect region image by controlling radiation imaging device for radiation imaging on the object to be detected and re suspected area corresponding to second parts using scanning mode, in order to get the check image, second scan mode is different from the first scan mode; and a display device, corresponding to the same scanned image and re image object detection for associated display. Therefore, the re examination image can be displayed effectively, which is convenient for users to check and browse.

【技术实现步骤摘要】
辐射图像成像系统
本技术涉及辐射成像
，特别是涉及一种辐射图像成像系统。
技术介绍
利用辐射成像对车辆及货物等大型目标进行检查已是比较成熟的安检技术，根据成像原理不同，主要有透射式辐射成像和散射式辐射成像两大类。基于透射式辐射成像原理形成的透射图像显示的是扫描射线束路在传播径上穿透的所有物质的投影信息，在扫描射线束的传播路径上的被检查物体是多个叠加物体时，基于探测器接收到的透射信号形成的透射图像不能很好地分辨前后重叠的多个物体。散射式辐射成像系统主要通过收集被检测物体散射的射线进行成像。当系统收集的散射的射线的散射角在90°～180°之间时，称之为背散射成像，利用背散射的特点，可以在系统获取的图像上高亮显示低原子序数的物质。利用背散射成像技术对被检测物体进行检测时，不利于探测到隐藏在吸收系数较大的物质(如金属等)后面的违禁品。综上，无论是利用透射式辐射成像系统还是背散射辐射成像系统对被检测物体进行辐射成像，所成的图像中均可能存在需要进一步确认的嫌疑区域，因此在对被检测物进行扫描成像后，还经常需要对被检测物体中的某些嫌疑区域进行复检。但是，如何有效的显示由此产生的一幅或者多幅扫描图像，以提高图检员对辐射图像的判读效率，是目前面临的主要问题。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种能够对基于复检产生的一幅或多幅扫描图像进行合理有效地显示的辐射图像显示方法和系统。根据本技术的一个方面，提供了一种辐射图像成像系统，其特征在于，包括：辐射成像装置；控制装置，用于控制辐射成像装置以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像，其中，在扫描图像中存在需要复检的嫌疑区域图像的情况下，控制辐射成像装置使用第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，第二扫描模式不同于第一扫描模式；以及显示装置，用于关联地显示对应于同一被检测物体的扫描图像和复检图像。优选地，显示装置在第一显示区域显示扫描图像，在第二显示区域显示复检图像，第二显示区域不同于第一显示区域，并且第二显示区域大于第一显示区域；或者显示装置在第一显示区域显示扫描图像，在扫描图像中复检嫌疑区域的位置处显示复检嫌疑标记，响应于用户对复检嫌疑标记执行的特定操作，显示装置在第二显示区域显示复检图像，第二显示区域为复检嫌疑标记附近的浮动显示区域。优选地，显示装置可以包括第一显示器和第二显示器，第一显示器用于提供第一显示区域，第二显示器用于提供第二显示区域。优选地，显示装置还用于在扫描图像中不需要复检的其它嫌疑区域的相应位置处显示其它嫌疑标记，其中，其它嫌疑标记不同于复检嫌疑标记。优选地，辐射图像成像系统还可以包括：存储装置，用于保存复检嫌疑区域在扫描图像中的位置信息及其对应的复检图像，其中，位置信息包括复检嫌疑区域的特定位置在扫描图像中的坐标以及复检嫌疑区域的宽度和高度。优选地，辐射图像成像系统还可以包括：输入装置，用于提供针对复检嫌疑区域的结论编辑窗口，以供用户编辑复检结论，并且/或者显示装置还用于在扫描图像中的复检嫌疑区域附近显示用户编辑的复检结论。优选地，输入装置包括如下一项或多项：鼠标；键盘；触摸屏。优选地，第二扫描模式下的第二扫描速度小于第一扫描模式下的第一扫描速度，并且/或者，第二扫描模式下的第二扫描视角或第二扫描视角组合不同于第一扫描模式下的第一扫描视角或第一扫描视角组合，其中，扫描视角为入射到被检测物体的射线束的发射方向与被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向之间的夹角，并且/或者第二扫描模式下发射的第二辐射束的能量大于第一扫描模式下发射的第一辐射束的能量，并且/或者第二扫描下发射的第二辐射束的射线剂量率大于第一扫描模式下发射的第一辐射束的射线剂量率。优选地，辐射成像装置可以包括：辐射源，用于向被检测物体发射用于成像的扫描射线束；一个或多个探测器，用于接收从被检测物体散射或透射的辐射信号；图像处理器，用于根据一个或多个探测器接收到的辐射信号，生成相应的辐射图像。本技术的辐射成像系统可以使用第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像得到的扫描图像，并使用第二扫描模式对所述被检测物体上与所述扫描图像中需要复检的复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像得到的复检图像，并关联地显示针对同一被检测物体的扫描图像和复检图像，可以实现对复检图像进行有效的显示，方便用户的查验、浏览。附图说明通过结合附图对本公开示例性实施方式进行更详细的描述，本公开的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本公开示例性实施方式中，相同的参考标号通常代表相同部件。图1是示出了根据本专利技术一实施例的辐射图像成像系统100的结构的示意性方框图。图2A是示出了一实施例下一种扫描图像和复检图像的显示方式的显示效果示意图。图2B是示出了一种扫描图像及其嫌疑区域的显示方式的显示效果示意图。图2C是示出了对应图2B的一种扫描图像和复检图像的显示方式的显示效果示意图。图3是示出了有无图检结论两种情况下的复检嫌疑区域标记示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的优选实施方式。虽然附图中显示了本公开的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本公开更加透彻和完整，并且能够将本公开的范围完整地传达给本领域的技术人员。图1是示出了根据本专利技术一实施例的辐射图像成像系统100的结构的示意性方框图。参见图1，辐射图像成像系统100包括辐射成像装置110、控制装置120以及显示装置130。辐射成像装置110可以是透射式辐射成像装置，也可以是背散射辐射成像装置。并且辐射图像成像系统100可以包括一个或多个辐射成像装置110。辐射成像装置110可以包括辐射源、一个或多个探测器以及图像处理器。辐射源用于向被检测物体发射用于成像的扫描射线束，一个或多个探测器，用于接收从被检测物体散射或透射的辐射信号。根据辐射成像装置110的成像原理不同(背散射成像或透射成像)，探测器的布置方式也不同，探测器的具体设置方式为本领域技术人员所公知，这里不再赘述。图像处理器用于根据探测器接收到的辐射信号，生成相应的辐射图像。另外，辐射成像装置110还可以包括其他辅助装置如准直器，这里不再赘述。控制装置120用于控制辐射成像装置110以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像。在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，控制装置120控制辐射成像装置110以第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，第二扫描模式不同于第一扫描模式。在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，控制装置120可以控制辐射成像装置110使用第二扫描模式仅对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，也可以控制辐射成像装置110使用使用第二扫描模式对被检测物体进行完整的辐射扫描成像。第一扫描模式和第二扫描模式下所使用的辐射成像装置110可以是一套辐射成像装置，也可以是两套独立的辐射成像装置。进一步地，第一扫描模式和第二扫描模式下所使用的辐射成像装置110可以是基于透射式成像原理制成的透射式辐射成像装置，也可以是基于背散本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种辐射图像成像系统，其特征在于，包括：辐射成像装置；控制装置，用于控制所述辐射成像装置以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像，其中，在所述扫描图像中存在需要复检的嫌疑区域图像的情况下，控制所述辐射成像装置使用第二扫描模式对所述被检测物体上与所述复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，所述第二扫描模式不同于所述第一扫描模式；以及显示装置，用于关联地显示对应于同一被检测物体的所述扫描图像和所述复检图像。

【技术特征摘要】
1.一种辐射图像成像系统，其特征在于，包括：辐射成像装置；控制装置，用于控制所述辐射成像装置以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像，其中，在所述扫描图像中存在需要复检的嫌疑区域图像的情况下，控制所述辐射成像装置使用第二扫描模式对所述被检测物体上与所述复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，所述第二扫描模式不同于所述第一扫描模式；以及显示装置，用于关联地显示对应于同一被检测物体的所述扫描图像和所述复检图像。2.根据权利要求1所述的辐射图像成像系统，其特征在于，所述显示装置在第一显示区域显示所述扫描图像，在第二显示区域显示所述复检图像，所述第二显示区域不同于所述第一显示区域，并且所述第二显示区域大于所述第一显示区域；或者所述显示装置在第一显示区域显示所述扫描图像，在所述扫描图像中所述复检嫌疑区域的位置处显示复检嫌疑标记，响应于用户对所述复检嫌疑标记执行的特定操作，所述显示装置在第二显示区域显示所述复检图像，所述第二显示区域为所述复检嫌疑标记附近的浮动显示区域。3.根据权利要求2所述的辐射图像成像系统，其特征在于，所述显示装置包括第一显示器和第二显示器，所述第一显示器用于提供所述第一显示区域，所述第二显示器用于提供所述第二显示区域。4.根据权利要求2所述的辐射图像成像系统，其特征在于，所述显示装置还用于在所述扫描图像中不需要复检的其它嫌疑区域的相应位置处显示其它嫌疑标记，其中，所述其它嫌疑标记不同于所述复检嫌疑标记。5.根据权利要求1所述的辐射图像成像系统，其特征在于，还包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：王少锋，凌敏，李苏祺，
申请(专利权)人：北京君和信达科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11