一种辐射成像指标测试设备及检查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种辐射成像指标测试设备，包括：调整机构；测试体，测试体安置在调整机构上，调整机构带动测试体移动；探测区，探测区设置有多个探测器，多个探测器覆盖整个射线束能到达的位置；检查装置，检查装置包括标志物，标志物中心线所在直线与测试体沿射线方向中心线平行并在扫描方向上位于相同高度，且位于辐射源源点和探测区之间。本实用新型专利技术的技术方案提高了对辐射成像指标测试装置中测试角度调整的精确度，更加直观、便捷，操作性强。

A radiation imaging index test equipment and inspection device

【技术实现步骤摘要】
一种辐射成像指标测试设备及检查装置
本技术涉及辐射成像
，尤其是一种辐射成像指标测试设备及检查装置。
技术介绍
辐射成像
中，例如辐射型货物/车辆检查系统，为了评估成像设备的成像性能指标，需要采用合适的测试装置对成像指标进行测试。例如，依据国家标准GB/T19211-2015《辐射型货物和(或)车辆检查系统》，透射型X射线或伽玛射线检查系统常用的成像指标包括穿透力、穿透丝分辨力、反差灵敏度、物质分辨力等。为了保证测试成像效果和测试的一致性，通常要求试验装置布置在检查范围内并与入射束流垂直。例如，穿透力指标定义为检查系统能分辨出置于钢板后全吸收体时的最大钢板厚度，并且要求在测试时射线束垂直于试验装置。现有的检测装置可以使背侧基板在360度范围内任意旋转，适应于不同位置加速器的入射角度，以保证检测装置基板垂直于射线主束方向；或通过升降部件将标定件升至标定位置，转动部件选取标定件至相应角度，以便射线源发射的射线束垂直穿过所述标定块的中心。无论是成像指标检测还是标定均要求检测装置中测试体垂直于射线束方向，现有技术均没本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐射成像指标测试设备，其特征在于，包括：/n调整机构；/n测试体，所述测试体安置在所述调整机构上，所述调整机构带动所述测试体移动；/n探测区，所述探测区设置有多个探测器，多个所述探测器覆盖整个射线束能到达的位置；/n检查装置，所述检查装置包括标志物，所述标志物中心线所在直线与所述测试体沿射线方向中心线平行并在扫描方向上位于相同高度，且所述标志物位于辐射源源点和探测区之间；/n调整过程中，所述标志物与所述测试体的相对位置保持不变。/n

【技术特征摘要】
1.一种辐射成像指标测试设备，其特征在于，包括：
调整机构；
测试体，所述测试体安置在所述调整机构上，所述调整机构带动所述测试体移动；
探测区，所述探测区设置有多个探测器，多个所述探测器覆盖整个射线束能到达的位置；
检查装置，所述检查装置包括标志物，所述标志物中心线所在直线与所述测试体沿射线方向中心线平行并在扫描方向上位于相同高度，且所述标志物位于辐射源源点和探测区之间；
调整过程中，所述标志物与所述测试体的相对位置保持不变。


2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述调整机构包括支撑架，所述支撑架包括底座、转轴和载物台，所述转轴安装在所述底座上，所述转轴带动所述载物台旋转；所述测试体固定在所述载物台上。


3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述调整机构还包括位置调节装置，所述底座安置在所述位置调节装置上，使所述支撑架可进行水平或竖直移动。


4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述标志物包括近源点标志和远源点标志，所述近源点标志与所述远源点标志分别位于所述测试体两侧，所述近源点标志安置在靠近辐射源源点一侧，所述远源点标志安置在远离辐射源源点一侧。


5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述近源点标志...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹艳锋，郭近贤，王少锋，
申请(专利权)人：北京君和信达科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11