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本实用新型公开了一种辐射成像指标测试设备，包括：调整机构；测试体，测试体安置在调整机构上，调整机构带动测试体移动；探测区，探测区设置有多个探测器，多个探测器覆盖整个射线束能到达的位置；检查装置，检查装置包括标志物，标志物中心线所在直线与测试...
该专利属于北京君和信达科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京君和信达科技有限公司授权不得商用。

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