阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置，其中测试装置包括测试部，测试部包括测试端；多个二极管，多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，多个二极管的阳极相连后与测试端相连，其中，在电学测试时，测试部通过测试端输入测试信号至多个二极管的阳极，以通过多个二极管将测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；在正常显示时，通过测试端输入低电平信号至多个二极管的阳极，以使多个二极管均处于截止状态。由于二极管的阳极线和阴极线可以做的比较宽，膜层少、段差小，所以在切割过程中出现裂纹或划断的可能性很小，从而可以保证测试线路的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种阵列基板的测试装置、一种阵列基板、一种显示装置以及一种阵列基板的测试方法。
技术介绍
目前，在CellET(面板电学)测试中，为了显示单色画面，需要将同一种颜色的亚像素的数据信号输入端连接在一起，并保证每个线路均处于导通状态，以进行测试，而在ModuleET(模组状态)时，为了防止IC的输出信号发生短路，需要保证上述的每个线路均处于断开状态。相关技术中，通过在每个线路中设置相应的TFT管，以在CellET测试时，通过控制TFT管处于导通状态来使每个线路处于导通状态，而在ModuleET时，通过控制该TFT管处于断开状态，以防止IC的输出信号发生短路。但是，由于TFT管的源极线和漏极线比较细，在切割过程中，很容易发生裂纹或划断，造成线路连接不良，从而影响CellET测试结果。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的第一个目的在于提出一种阵列基板的测试装置，通过二极管来实现线路的导通和关断，由于二极管的阳极线和阴极线可以做的比较宽，膜层少、段差小，所以在切割过本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板的测试装置，其特征在于，包括：测试部，所述测试部包括测试端；多个二极管，所述多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，所述多个二极管的阳极相连后与所述测试端相连，其中，在电学测试时，所述测试部通过所述测试端输入测试信号至所述多个二极管的阳极，以通过所述多个二极管将所述测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；在正常显示时，通过所述测试端输入低电平信号至所述多个二极管的阳极，以使所述多个二极管均处于截止状态。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板的测试装置，其特征在于，包括：测试部，所述测试部包括测试端；多个二极管，所述多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，所述多个二极管的阳极相连后与所述测试端相连，其中，在电学测试时，所述测试部通过所述测试端输入测试信号至所述多个二极管的阳极，以通过所述多个二极管将所述测试信号传输至对应的亚像素的数据信号输入端；在正常显示时，通过所述测试端输入低电平信号至所述多个二极管的阳极，以使所述多个二极管均处于截止状态。2.如权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，还包括：多个电感，所述多个电感中的每个电感分别对应设置在所述二极管的阳极与所述测试端之间，或者，所述多个电感中的每个电感分别对应设置在所述二极管的阴极与所述数据信号输入端之间。3.如权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，所述多个二极管中的每个二极管的阳极线和阴极线的宽度为8μm～10μm。4.一种阵...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯涛，贾东旺，廖小刚，暴军萍，王静，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11