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本发明公开了一种阵列基板及其测试装置、方法以及显示装置，其中测试装置包括测试部，测试部包括测试端；多个二极管，多个二极管中的每个二极管的阴极分别与阵列基板中同一颜色的亚像素的数据信号输入端对应相连，多个二极管的阳极相连后与测试端相连，其中，...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司授权不得商用。