阵列基板测试电路制造技术

本发明专利技术提供一种阵列基板测试电路。该电路包括：至少一个第一多路复用模块、一使能信号输入点、多个测控信号输入点、多条数据线、多个使能开关元件、多个防置空开关元件、以及一反相器；每一个防置空开关元件的控制端均接入反相后的使能信号，输入端均接入测控开关关闭信号，输出端电性连接与其对应的一个测控信号输入点；能够在液晶显示面板显示时打开所述防置空开关元件，将所述测控开关关闭信号输入测控信号输入点，以保证多路复用器中的开关元件在液晶显示面板正常显示保持关闭状态，避免多路复用器中的开关元件处于置空状态，提升液晶显示面板的工作稳定性。

Array substrate test circuit

The present invention provides an array substrate test circuit. The circuit includes at least a first multiplexer module, an enable signal input, a number of control signal input, a plurality of data lines, a plurality of enable switch element, a plurality of anti null switch element and an inverter control; each anti empty switch element end are connected by after the enable signal input end of each access control switch signal output end is electrically connected with a control signal input point corresponding to the liquid crystal display panel display; in the open when the anti null switch element, the switch control signal input control signal input point closed, to ensure that the multiplexer the switching element in the liquid crystal display panel display normally remain closed, avoid the switching element in a multiplexer in the empty state, enhance the stability of the liquid crystal display panel.

【技术实现步骤摘要】
阵列基板测试电路
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种阵列基板测试电路。
技术介绍
随着显示技术的发展，液晶显示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，ColorFilter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilmTransistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，LiquidCrystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。阵列基板测试(ArrayTe本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板测试电路，其特征在于，包括：至少一个第一多路复用模块(1)、一使能信号输入点(2)、多个测控信号输入点(3)、多条数据线(4)、多个使能开关元件(5)、多个防置空开关元件(6)、以及一反相器(7)；每一个第一多路复用模块(1)均包括：多个第一测控开关元件(11)；每一个第一测控开关元件(11)对应一个使能开关元件(5)，每一个第一测控开关元件(11)的控制端均电性连接一个测控信号输入点(3)，输入端均接入数据信号(Data)，输出端均电性连接与其对应的使能开关元件(5)的输入端；每一个使能开关元件(5)对应一条数据线(4)，每一个使能开关元件(5)的控制端均电性连接使能信号输入点(...

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板测试电路，其特征在于，包括：至少一个第一多路复用模块(1)、一使能信号输入点(2)、多个测控信号输入点(3)、多条数据线(4)、多个使能开关元件(5)、多个防置空开关元件(6)、以及一反相器(7)；每一个第一多路复用模块(1)均包括：多个第一测控开关元件(11)；每一个第一测控开关元件(11)对应一个使能开关元件(5)，每一个第一测控开关元件(11)的控制端均电性连接一个测控信号输入点(3)，输入端均接入数据信号(Data)，输出端均电性连接与其对应的使能开关元件(5)的输入端；每一个使能开关元件(5)对应一条数据线(4)，每一个使能开关元件(5)的控制端均电性连接使能信号输入点(2)，输出端均电性连接与其对应的一数据线(4)；每一个防置空开关元件(6)对应一个测控信号输入点(3)，每一个防置空开关元件(6)的控制端均电性连接所述反相器(7)的输出端，输入端均接入测控开关关闭信号(VGL)，输出端均电性连接与其对应的一个测控信号输入点(3)；所述使能信号输入点(2)用于在阵列基板测试时接收高电位的使能信号(ATEN)，使得所述使能开关元件(5)打开且所述防置空开关元件(6)关闭，在液晶显示面板正常显示时接收低电位的使能信号(ATEN)，使得所述使能开关元件(5)关闭且所述防置空开关元件(6)打开；所述测控信号输入点(3)用于在阵列基板测试时接收测控信号(ATC)，使得所述第一测控开关元件(11)打开，在液晶显示面板正常显示时接收测控开关关闭信号(VGL)，使得所述第一测控开关元件(11)关闭。2.如权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述防置空开关元件(6)为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极为所述防置空开关元件(6)的控制端，源极为所述防置空开关元件(6)的输入端，漏极为所述防置空开关元件(6)的输出端。3.如权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述防置空开关元件(6)为传输门，所述传输门的高电位控制端为所述防置空开关元件(6)的控制端，输入端为所述防置空开关元件(6)的输入端，输出端为所述防置空开关元件(6)的输出端，所述传输门的低电位控制端电性连接所述使能信号输入点(2)。4.如权利要求1所述的阵列基板测试电路，其特征在于，所述多个测控信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪光辉，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42