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本发明提供一种阵列基板测试电路。该电路包括：至少一个第一多路复用模块、一使能信号输入点、多个测控信号输入点、多条数据线、多个使能开关元件、多个防置空开关元件、以及一反相器；每一个防置空开关元件的控制端均接入反相后的使能信号，输入端均接入测控...
该专利属于武汉华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉华星光电技术有限公司授权不得商用。

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