一种缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种缺陷检测方法及装置，涉及光学自动化缺陷检测领域，能够通过一种简单的缺陷检测方法来降低缺陷的过判率。该缺陷检测方法包括在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第一量化数据；移动待检测面板至第二方位，第二方位与第一方位不同；采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一目标区域中第一量化数据和第二量化数据，确定目标区域中的实际缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种缺陷检测方法及装置
本专利技术涉及光学自动化缺陷检测领域，尤其涉及一种缺陷检测方法及装置。
技术介绍
目前，在LCD(LiquidCrystalDisplay，液晶显示器)的工厂检测工艺阶段多采用AOI(AutomaticOpticInspection，自动光学检测)算法流程对LCD面板的缺陷进行检测，该算法流程一般包括ROI(RegionofInterest，目标区域)分割和缺陷量化两个关键步骤，其中，缺陷量化就是将面板在点灯画面下的亮度差异按照一定基准进行量化，通过量化数据的对比以及相关缺陷标准的制定来进行缺陷性质的判定。然而，由于LCD面板中的缺陷，例如Mura(云纹现象)，存在的ROI大小、区域、形状不定，且容易受到环境尤其是灯光的影响，现有技术在采用单一缺陷量化算法的情况下，量化数值不会发生变化，通过单纯改变检测阈值的做法，不能从根本上解决因外界环境产生的缺陷而导致的过判率较大的问题；当然，可以采用多参数联调或者使用高精度相机的做法，但是该方法调试周期长、且改变型号就要重新调试使得成本相对较高。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种缺陷检测方法及装置，能够通过一种简单的缺陷检测方法来降低缺陷的过判率。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：本专利技术实施例一方面提供一种缺陷检测方法，包括：在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据；移动所述待检测面板至第二方位，所述第二方位与所述第一方位不同；采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷。进一步优选的，所述根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷包括：将所述第一量化数据和所述第二量化数据中对应相同位置的量化数据与基准值之差的绝对值的平均值与阈值进行比较；若所述平均值大于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置具有实际缺陷；若所述平均值小于或等于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置不具有实际缺陷。进一步优选的，所述采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据包括：多次采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第一量化数据；和/或，所述采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据包括：多次采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第二量化数据。进一步优选的，所述移动所述待检测面板至第二方位包括：旋转所述待检测面板180°至所述第二方位。进一步优选的，所述量化数据为亮度数值。进一步优选的，所述待检测面板为LCD面板或OLED面板。本专利技术实施例另一方面还提供一种缺陷检测的装置，包括：采集模块，用于在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位和第二方位的待检测面板的检测画面，其中，所述第二方位与所述第一方位不同；获取模块，用于获取所述处于第一方位和第二方位的待检测面板的检测画面中目标区域的第一量化数据和第二量化数据；移动模块，用于将所述待检测面板由所述第一方位移动至所述第二方位；确定模块，用于根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷。进一步优选的，所述确定模块具体用于将所述第一量化数据和所述第二量化数据中对应相同位置的量化数据与基准值之差的绝对值的平均值与阈值进行比较；若所述平均值大于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置具有实际缺陷；若所述平均值小于或等于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置不具有实际缺陷。进一步优选的，所述移动模块包括工作台和用于移动该工作台的电机，所述工作台用于承载所述待检测面板。进一步优选的，所述移动模块用于将所述待检测面板由所述第一方位旋转180°至所述第二方位。进一步优选的，所述采集模块为CCD。本专利技术实施例提供一种缺陷检测方法及装置，该缺陷检测方法包括：在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第一量化数据；旋转待检测面板至第二方位，第二方位与第一方位不同；采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一目标区域中第一量化数据和第二量化数据，确定目标区域中的实际缺陷。由于本专利技术中将待检测面板从第一方位旋转至第二方位，并分别获取位于第一方位和第二方位的同一目标区域的第一量化数据和第二量化数据，并结合该第一量化数据和第二量化数据确定出该面板的实际缺陷，这样一来，相比于现有技术中，仅通过一个方位得到的缺陷量化数据来判断面板的实际缺陷而言，能够降低因系统误差而判定为缺陷的几率，从而降低了过判率，提高实际缺陷的检出率的准确性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种待检测面板的方位放置示意图；图3为本专利技术实施例提供的另一种待检测面板的方位放置示意图；图4为本专利技术实施例提供的再一种待检测面板的方位放置示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种处于第一方位的检测画面的第一量化数据曲线图；图6为本专利技术实施例提供的一种处于第二方位的检测画面的第二量化数据曲线图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供一种缺陷检测方法，例如，AOI缺陷检测方法，如图1所示，该方法包括：步骤S101、在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取检测画面中目标区域的第一量化数据。具体的，在待检测面板10处于第一方位(如图2所示的方位)的情况下，采集待检测面板10显示的检测画面，并获取该检测画面中目标区域(RegionOfInvest，简称ROI)的第一量化数据，其中，整个检测画面可以均为目标区域，也可以是部分作为目标区域；并且目标区域可以是一个，也可以是多个；本专利技术对此均不作限定。需要说明的是，本专利技术中量化数据(第一量化数据以及第二量化数据)一般可以包括目标区域的亮度数值，当然还可以包括其他的参数；上述检测画面一般为Mura(点、线类等)检出的相关画面。另外，上述待检测面板可以为液晶显示面板(LiquidCrystalDisplay，简称LCD)面板，也可以是有机发光二极管(OrganicLightEmittingDiode，简称OLED)显示面板，本专利技术对此不作限定。步骤S102、移动待检测面板至第二方位，第二方位与第一方位不同。具体的，将本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据；移动所述待检测面板至第二方位，所述第二方位与所述第一方位不同；采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷。

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：在待检测面板显示检测画面后，采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据；移动所述待检测面板至第二方位，所述第二方位与所述第一方位不同；采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据；根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷。2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据同一所述目标区域中所述第一量化数据和所述第二量化数据，确定所述目标区域中的实际缺陷包括：将所述第一量化数据和所述第二量化数据中对应相同位置的量化数据与基准值之差的绝对值的平均值与阈值进行比较；若所述平均值大于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置具有实际缺陷；若所述平均值小于或等于所述阈值，则确定所述待检测面板在该位置不具有实际缺陷。3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第一量化数据包括：多次采集处于第一方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第一量化数据；和/或，所述采集处于所述第二方位的待检测面板的检测画面，获取所述检测画面中目标区域的第二量化数据包括：多次采集处于第二方位的待检测面板的检测画面，获取多个所述检测画面中目标区域的量化数据的平均值作为第二量化数据。4.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述移动所述待检测面板至第二方位包括：旋转所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘泽，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11