一种长寿命IC测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种长寿命IC测试装置，包括PCB电路板、设置在PCB电路板上端电源接口和芯片插座，芯片插座包括芯片插座卡槽、测试簧片，测试簧片成对设置，每对两个测试簧片间采用柔性结构连接，测试簧片底端与PCB电路板电性连接。本实用新型专利技术的有益效果是：采用成对设置的测试簧片与IC芯片引脚全平面接触，提高了测试簧片与引脚接触的稳定性，利用柔性结构减少引脚与测试簧片间的磨损，提高测试簧片的寿命，同时减少对IC芯片引脚的接触损伤，保持产品的完整性。

A long life IC testing device

The utility model relates to a long-life IC test device, including PCB circuit, PCB circuit board is arranged in the upper power interface and chip chip chip socket socket, the socket comprises a clamping groove, the reed reed test test, arranged in pairs, each pair of nodes with two flexible test spring connected between the reed and the bottom end of the PCB test. The circuit board is electrically connected with. The utility model has the advantages that: the pair test reed and IC chip pin plane contact, improves the stability of the reed and the contact pin test, using a flexible structure to reduce wear test between the pin and the reed reed, improve the test life, while reducing the contact damage of IC chip pin, integrity product.

【技术实现步骤摘要】
一种长寿命IC测试装置
本技术涉及IC芯片测试装置领域，尤其涉及一种长寿命IC测试装置。
技术介绍
随着科技的发展，电子产品越来越先进，体积越来越小，而电子产品发展的根本在于IC芯片的大量使用，IC芯片的生产制造技术限制和决定了IC芯片的发展，测试是IC芯片生产过程结束对IC芯片质量检测的重要环节，现有的IC芯片测试装置采用半平面接触即只与IC芯片引脚的一侧接触的方式，而且是硬定位接触，对IC芯片的引脚磨损较大。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种长寿命IC测试装置，采用全平面柔性结构夹持接触，减少磨损，延长寿命。为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本技术通过以下技术方案实现：一种长寿命IC测试装置，包括PCB电路板、设置在PCB电路板上端电源接口和芯片插座，所述芯片插座包括芯片插座卡槽、测试簧片，所述测试簧片成对设置，每对两个测试簧片间采用柔性结构连接，所述测试簧片底端与PCB电路板电性连接。进一步的，所述芯片插座卡槽的内侧壁上设有凹槽，所述凹槽中安装有弹簧A，所述弹簧A一端抵接在凹槽内侧，另一端抵接在测试簧片侧端。进一步的，所述芯片插座上端设有芯片固定架本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种长寿命IC测试装置，包括PCB电路板、设置在PCB电路板上端电源接口和芯片插座，其特征在于：所述芯片插座包括芯片插座卡槽、测试簧片，所述测试簧片成对设置，每对两个测试簧片间采用柔性结构连接，所述测试簧片底端与PCB电路板电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种长寿命IC测试装置，包括PCB电路板、设置在PCB电路板上端电源接口和芯片插座，其特征在于：所述芯片插座包括芯片插座卡槽、测试簧片，所述测试簧片成对设置，每对两个测试簧片间采用柔性结构连接，所述测试簧片底端与PCB电路板电性连接。2.根据权利要求1所述的长寿命IC测试装置，其特征在于：所述芯片插座卡槽的内侧壁上设有凹槽，所述凹槽中安装有弹簧A，所述弹簧A一端抵接...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁国雄，
申请(专利权)人：肇庆肇电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44