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本实用新型涉及一种长寿命IC测试装置，包括PCB电路板、设置在PCB电路板上端电源接口和芯片插座，芯片插座包括芯片插座卡槽、测试簧片，测试簧片成对设置，每对两个测试簧片间采用柔性结构连接，测试簧片底端与PCB电路板电性连接。本实用新型的有益...
该专利属于肇庆肇电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过肇庆肇电科技有限公司授权不得商用。

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