一种FPGA逻辑测试结构及方法技术

本发明专利技术公开了一种FPGA逻辑测试结构及方法，包括FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处理；控制模块，连接所述外部存储模块，并选取存储的待测信号或变量，完成外部读取，判断FPGA模块的内部逻辑运行状态后显示。本发明专利技术的一种FPGA逻辑测试结构及方法与现有技术相比，可以方便高效地对待测信号进行跟踪观察，验证FPGA内部逻辑，极大提升项目初期及调试阶段的效率，资源占用低，相对于专用仪器，也可降低开发成本，实用性强，适用范围广泛，易于推广。

A FPGA logic test structure and method

The invention discloses a structure and method for testing FPGA, including FPGA module, FPGA internal signal to be measured or variable; the external storage module is connected with the FPGA module and the FPGA module from the internal signal to be measured or variable storage processing; control module is connected with the external storage module, and choose to stay the measured signal or variable storage, external read, judge the running state of the FPGA internal logic module display. Compared with the prior art, the invention of a FPGA logic test structure and method, can treat the measured signal were observed conveniently and efficiently, to verify the FPGA internal logic, which greatly enhance the efficiency of the project and the early stage of adjustment, low resource consumption, with special instruments, but also can reduce the development cost, strong practicability, wide application scope. Easy to popularize.

【技术实现步骤摘要】
一种FPGA逻辑测试结构及方法
本专利技术涉及FPGA逻辑测试
，具体地说是一种可快速定位问题所在的FPGA逻辑测试结构及方法。
技术介绍
FPGA（现场可编程门阵列）是一种半导体IC，以硬件描述语言（Verilog或VHDL）完成电路设计，经过简单的综合与布局，快速的烧录至FPGA上进行测试，可用于各种功能数字电路开发，同时可用于现代IC设计验证。在开发过程中，需对由硬件描述语言描述的电路逻辑功能进行测试验证，一般可采用FPGA厂商提供的片内逻辑分析功能，或采用专用的逻辑分析仪器进行逻辑测试验证，然而这些方法或占用不确定数量的FPGA内部逻辑资源，或需要较高的成本，不利于一般FPGA项目调试，当FPGA内部信号或变量异常，需进行测试验证时，往往不能很快定位问题所在。基于此，本专利提供一种可解决上述问题的FPGA逻辑测试结构及方法。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是针对以上不足之处，提供一种FPGA逻辑测试结构及方法。一种FPGA逻辑测试结构，包括，FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种FPGA逻辑测试结构，其特征在于，包括，FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处理；控制模块，连接所述外部存储模块，并选取存储的待测信号或变量，完成外部读取，判断FPGA模块的内部逻辑运行状态后显示。

【技术特征摘要】
1.一种FPGA逻辑测试结构，其特征在于，包括，FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处理；控制模块，连接所述外部存储模块，并选取存储的待测信号或变量，完成外部读取，判断FPGA模块的内部逻辑运行状态后显示。2.根据权利要求1所述的一种FPGA逻辑测试结构，其特征在于，在所述FPGA模块中，配置有FPGA片内逻辑、存储控制模块和存储接口模块，所述FPGA片内逻辑提供待测信号或变量，该FPGA片内逻辑通过存储接口模块连接到上述外部存储模块；存储控制模块直接连接到上述外部存储模块，该存储控制模块由FPGA片内逻辑提供的资源构成，用于根据待测逻辑需求来控制所述外部存储模块的数据写入。3.根据权利要求2所述的一种FPGA逻辑测试结构，其特征在于，所述外部存储模块的存储格式与大小由FPGA片内逻辑控制决定，该外部存储模块响应由控制模块发来的读取请求，将所存数据返回至所述控制模块。4.根据权利要求2所述的一种FPGA逻辑测试结构，其特征在于，所述存储接口模块的类型与外部存储模块的类型相对应，该存储接口模块包含若干位数据总线及若干位控制总线，用于提供连接接口并实现存储数据在FPGA与外部存储模块之间的传输。5.根据权利要求1-4任一所述的一种FPGA逻辑测试结构，其特征在于，所述控制模块由外部微控制器、通信模块和上位机模块组成，外部微控制器分别连接到外部存储模块和通信模块，通信模块还连接到外部存储模块和上位机模块，其中，外部微控制器，用于响应来自上位机模块的读取指令，在特定时间对所述外部存储模块进行数据读取，并通过通信模块回传至上位机模块进行存储显示；通信模块，用于将上位机模块发出的指令传至外部微控制器，同时将外部存储模块中的数据回传至上位机模块；上位机模块，用于响应调试...

【专利技术属性】
技术研发人员：王子彤，姜凯，聂林川，
申请(专利权)人：济南浪潮高新科技投资发展有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37