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本发明公开了一种FPGA逻辑测试结构及方法，包括FPGA模块，提供FPGA内部待测信号或变量；外部存储模块，连接所述FPGA模块并对来自FPGA模块的内部待测信号或变量进行存储处理；控制模块，连接所述外部存储模块，并选取存储的待测信号或变量...
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