测试仪制造技术

本发明专利技术公开了一种测试仪，包括：分立器件检测模块、集成电路检测模块及控制模块；控制模块的输出端与分立器件检测模块及集成电路检测模块的驱动输入端连接，根据当前检测器件的型号，驱动分立器件检测模块或集成电路检测模块进行检测。从而解决了多类型电子器件测试不便的问题。实现了两类器件的检测，并且可通过对不同集成电路的类型，设定相应的检测程序，实现对多种集成电路的检测。从而，提高了电子器件检测的可靠性及一致性，降低了电子器件的检测成本，提高了电子产品的生产效率及可靠性。

Tester

The invention discloses a testing instrument, including: discrete device detection module, IC detection module and control module; the drive input and output control module detection module and discrete devices and integrated circuit detection module is connected, according to the current detection device for detecting driver model, discrete device detection module or IC detection module. Thus, the problem of the inconvenience of testing various types of electronic devices is solved. The detection of two kinds of devices is realized, and the detection of various kinds of integrated circuits can be achieved by setting the corresponding detection program for different types of integrated circuits. Thereby, the reliability and the consistency of the electronic device detection are improved, the detection cost of the electronic device is reduced, and the production efficiency and the reliability of the electronic product are improved.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及元件测试、生产及应用领域，特别涉及测试仪。
技术介绍
随着现代化工业的发展及人们生活水平的提高，各种电器在生产、生活中的各个层面得到了广泛的应用。为保证电器的可靠性并可实现有效的应用，因此，电子器件在生产过程中的检测就变得尤为重要。现有的电子器件检测可分为分立器件检测及集成电路检测，但在检测过程中，由于现有的分立器件检测装置及集成电路检测装置相互独立，从而不能同步使用，当需要进行分立器件检测时，只能在分立器件检测装置上进行，当需要进行集成电路检测时，只能在集成电路检测装置上进行，因此，无法进行同步检测。针对这一问题，现有技术中根据需要检测的个别分立器件制作检测盒或检测装置，与集成电路检测装置同时使用，但在使用过程中，当分立器件的类型发生变化时，就需要重新进行分立器件检测盒的制作，一方面，重新制作检测盒或装置的时间较长，延误生产，另外一方面，由于并非是专业的检测装置，因此，可靠性差、使用寿命低，从而直接影响了电子器件的检测及后道组装的质量、使用效率及有效性，使后续生产的电子产品的可靠性变差、使用及维修成本上升。
技术实现思路
为了克服现有技术中，多类型电子器件测试不便的问题，本专利技术的中提供了测试仪。本专利技术提供的测试仪，包括：分立器件检测模块、集成电路检测模块及控制模块；所述控制模块的输出端与所述分立器件检测模块及集成电路检测模块的驱动输入端连接，根据当前检测器件的型号，驱动所述分立器件检测模块或集成电路检测模块进行检测。在一种优选的实施方式中，所述分立器件检测模块或集成电路检测模块，通过控制总线与所述控制模块连接。在一种优选的实施方式中，还包括：分立器件检测接口件及集成电路检测接口件；所述分立器件检测接口件与分立器件检测模块的输入端连接、所述集成电路检测接口件与集成电路检测模块的输入端连接。在一种优选的实施方式中，还包括：可调电源模块，所述可调电源模块通过所述控制总线，与所述控制模块连接；所述控制模块中预存待检测器件的驱动电参数；根据当前检测器件的型号提取当前驱动电参数；根据所述当前驱动电参数驱动可调电源模块，驱动所述分立器件检测模块或集成电路检测模块进行检测。在一种优选的实施方式中，所述控制模块还预存待检测器件的检测程序及所对应的检测正常值；若当前检测器件的型号为集成电路型号，则根据当前检测器件的型号提取当前检测程序及所对应的集成电路检测参考值；根据所述当前检测程序驱动所述集成电路检测模块进行检测；将当前检测值与所述集成电路检测参考值相比对，若匹配，则输出集成电路检测正确信息；若不匹配，则输出集成电路检测异常信息；若当前检测器件的型号为分立器件型号，则根据当前检测器件的型号提取所对应的分立器件检测参考值；将当前检测值与所述分立器件检测参考值相比对，若匹配，则输出分立器件检测正确信息；若不匹配，则输出分立器件检测异常信息。在一种优选的实施方式中，还包括：外部分立器件检测模块及外部集成电路检测模块；所述外部分立器件检测模块及外部集成电路检测模块，通过所述控制总线与所述控制模块的输出端连接。在一种优选的实施方式中，若所述控制模块输出集成电路检测异常信息，则根据设定次数，重新对集成电路检测模块进行检测；若所述控制模块输出分立器件检测异常信息，则根据设定次数，重新对分立器件检测模块进行检测。在一种优选的实施方式中，若所述控制模块输出集成电路检测异常信息，则通过外部集成电路检测模块进行检测；若所述控制模块输出分立器件检测异常信息，则通过外部分立器件检测模块进行检测。在一种优选的实施方式中，还包括：电路匹配数据模块，所述电路匹配数据模块通过所述控制总线与所述控制模块连接；所述电路匹配数据模块中预存，更新电路型号与预存检测器件型号的对应数据表。在一种优选的实施方式中，若当前检测器件型号不存在，则判断所述当前检测器件型号是否为更新电路型号，若是，则根据当前检测器件类型检索所述对应数据表，获取预存检测器件型号；若否，则发出错误报警信息由此可知，本专利技术中的测试仪具有以下优点：本专利技术通过，对分立器件检测装置与集成电路检测装置的集成，实现了两类器件的检测，并且可通过对不同集成电路的类型，设定相应的检测程序，实现对多种集成电路的检测。从而，提高了电子器件检测的可靠性及一致性，降低了电子器件的检测成本，提高了电子产品的生产效率及可靠性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的一种实施方式中测试仪的组成示意图；图2为本专利技术的另一种实施方式中测试仪的组成示意图；图3为本专利技术的又一种实施方式中测试仪的组成示意图；图4为本专利技术的再一种实施方式中测试仪的组成示意图。具体实施方式如图1中本专利技术的一种实施方式中测试仪的组成示意图所示，本专利技术测试仪包括：分立器件检测模块10、集成电路检测模块20及控制模块30。控制模块30的输出端与分立器件检测模块10及集成电路检测模块20的驱动输入端连接；在控制模块30的输入端连接输入装置31，用于对控制模块30进行指令输入及控制；分立器件检测模块10的输入端与分立器件检测接口件11连接，分立器件检测接口件11用于接插待检测分立器件。集成电路检测模块20的输入端与集成电路检测接口件21连接，集成电路检测接口件21用于接插待检测集成电路，需要特别说明的是，此处的集成电路检测接口件21也可理解为集成电路检测平台，包括：一个或多个集成电路检测插座；当检测集成电路功能板时，也可以为集成电路功能板的接插件，如，“金手指”接插件。上述控制模块30可采用FPGA、单片机、单板机等可编程控制模块给予实现。控制模块30与分立器件检测模块10、集成电路检测模块20及输入装置31的数据交换可通过控制总线给予实现，控制总线包括：数据、传输等类型。输入装置31可采用个人计算机（PC）或其他具备键盘和屏幕的处理装置给予实现，输入装置31和控制模块30可通过接口模块连接，实现通信；同时，也可连接到FPGA平台（或开发平台）的输入端上给予实现。需要说明的是，上述分立器件检测模块10、集成电路检测模块20及分立器件检测接口件11及集成电路检测接口件21本文档来自技高网...

【技术保护点】
测试仪，其特征在于，包括：分立器件检测模块、集成电路检测模块及控制模块；所述控制模块的输出端与所述分立器件检测模块及集成电路检测模块的驱动输入端连接，根据当前检测器件的型号，驱动所述分立器件检测模块或集成电路检测模块进行检测。

【技术特征摘要】
1.测试仪，其特征在于，包括：分立器件检测模块、集成电路检测模
块及控制模块；所述控制模块的输出端与所述分立器件检测模块及集成电
路检测模块的驱动输入端连接，根据当前检测器件的型号，驱动所述分立
器件检测模块或集成电路检测模块进行检测。
2.如权利要求1所述的测试仪，其特征在于，所述分立器件检测模
块或集成电路检测模块，通过控制总线与所述控制模块连接。
3.如权利要求1或2所述的测试仪，其特征在于，还包括：分立器件
检测接口件及集成电路检测接口件；所述分立器件检测接口件与分立器件
检测模块的输入端连接、所述集成电路检测接口件与集成电路检测模块的
输入端连接。
4.如权利要求3所述的测试仪，其特征在于，还包括：可调电源模块，
所述可调电源模块通过所述控制总线，与所述控制模块连接；所述控制模
块中预存待检测器件的驱动电参数；根据当前检测器件的型号提取当前驱
动电参数；根据所述当前驱动电参数驱动可调电源模块，驱动所述分立器
件检测模块或集成电路检测模块进行检测。
5.如权利要求3所述的测试仪，其特征在于，所述控制模块还预存待
检测器件的检测程序及所对应的检测正常值；
若当前检测器件的型号为集成电路型号，则根据当前检测器件的型号
提取当前检测程序及所对应的集成电路检测参考值；根据所述当前检测程
序驱动所述集成电路检测模块进行检测；将当前检测值与所述集成电路检
测参考值相比对，若匹配，则输出集成电路检测正确信息；若不匹配，则
输出集成电路检测异常信息；
若...

【专利技术属性】
技术研发人员：江长海，
申请(专利权)人：江长海，
类型：发明
国别省市：湖北;42